出版時間:2008-1 出版社:華東理工大 作者:沃茨 頁數(shù):144 譯者:吳正龍
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內(nèi)容概要
本書講述了現(xiàn)代電子能譜中的單色化XPS、小面積。XPS(SAXPS)、成像XPS、XPS深度剖析、場發(fā)射AES/SAM等功能的分析技術(shù),以及在冶金、腐蝕、陶瓷、催化劑、微電子半導(dǎo)體材料、黏合劑、涂料聚合物材料等領(lǐng)域中的應(yīng)用;介紹了現(xiàn)代電子能譜儀中的微聚焦單色器、場發(fā)射體、離子槍、電子槍、能量分析器/傳輸透鏡、荷電補(bǔ)償器、多通道探測器、平行成像系統(tǒng)、平行數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)等等。書中將XPS和.AES技術(shù)與其他表面分析技術(shù)作了比較。書后附有參考文獻(xiàn)、中英文電子能譜分析技術(shù)名詞術(shù)語、網(wǎng)絡(luò)資源等一些有用的信息。 本書既可供學(xué)習(xí)電子能譜分析技術(shù)的高年級本科生和研究生用作教材,也可供從事電子能譜專業(yè)人員以及使用電子能譜分析技術(shù)的科研技術(shù)人員閱讀。
書籍目錄
1 電子能譜:一些基本概念 1.1 表面分析 1.2 能譜標(biāo)識方法 1.2.1 譜學(xué)家標(biāo)識方法 1.2.2 X射線標(biāo)識方法 1.3 x射線光電子能譜(XPS) 1.4 俄歇電子能譜(AES) 1.5 掃描俄歇電子顯微鏡(SAM) 1.6 電子能譜中的分析深度 1.7 比較ⅪPS和AES/SAM 1.8 表面分析設(shè)備2 電子能譜儀構(gòu)造 2.1 真空系統(tǒng) 2.2 樣品 2.3 X射線源 2.3.1 雙陽極×射線源 2.3.2 X射線單色器 2.3.3 荷電補(bǔ)償 2.4 AES的電子槍 2.4.1 電子源 2.4.2 俄歇電子能譜中電子發(fā)射體的比較 2.5 電子能譜分析器 2.5.1 筒鏡形分析器 2.5.2 半球形分析器 2.6 探測器 2.6 1 通道電子倍增器 2.6 2 通道板 2.7 小面積XPS 2.7.1 透鏡限定小面積XPS 2.7.2 源限定小面積XPS 2.8 XPS成像和面分布成像 2.8.1 串行采集 2.8.2 平行采集 2.9 小面積XPS的橫向分辨率 2.10 角分辨XPS3 電子能譜:定性和定量詮釋 3.1 定性分析 3.1.1 電子能譜中的干擾特征峰 3.1.2 數(shù)據(jù)采集 3.2 化學(xué)態(tài)信息 3.2.1 X射線光電子能譜 3.2.2 電子誘導(dǎo)激發(fā)俄歇電子能譜 3.2.3 俄歇參數(shù) 3.2.4 化學(xué)態(tài)圖 3.2.5 震激伴峰 3.2.6 多重劈裂 3.2.7 等離激元 3.3 定量分析 3.3.1 影響電子能譜定量分析的因素 3 3.2 XPS定量分析 3.3 3 AES定量分析4 組分深度剖析 4.1 非破壞性深度剖析方法 4.1.1 角分辨電子能譜 4.1.2 分析深度隨電子動能的變化 4.2 惰性氣體離子刻蝕深度剖析 4.2.1 濺射過程 4.2.2 實驗方法 ……5 電子能譜在材料科學(xué)中的應(yīng)用6 XPS,AES與其他分析技術(shù)的比較名詞術(shù)語附錄索引
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