先進半導體材料性能與數(shù)據(jù)手冊

出版時間:2003-9-1  出版社:化學工業(yè)出版社  作者:Michael E.Levinshtein,Sergey L.Rumyantsev,Michael S.Shur  譯者:楊樹人  

內(nèi)容概要

本書內(nèi)容是由多名撰人從大量資料中選取編寫而成。重點匯集了GaN、AlN、InN、BN、SiC、SiGe6種先進導體材料的性能與數(shù)據(jù),包括光學、電學、熱學、晶體學及其他特性等,是本內(nèi)容新、數(shù)據(jù)全面的參考開具書。本手冊可供從事半導體材料的研究與器件開發(fā)的技術人員、管理人員、銷售人員及相關專業(yè)的師生查閱和參考。

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用戶評論 (總計2條)

 
 

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