透射電子顯微學(xué)（4卷本）

內(nèi)容概要

　　本書是美國最為流行的教科書之一。它分為4卷：基本概念，衍射理論，成像原理及能譜分析。其中第1卷主要講解電子顯微鏡的基本概念，包括衍射基礎(chǔ)知識、顯微鏡的組成部件、儀器構(gòu)造與功能以及樣品制備。第2卷介紹衍射圖像、倒易點陣、衍射電子像的標(biāo)定，以及各種衍射分析方法。第3卷主要是關(guān)于成像原理。該卷對材料研究中典型的課題進行系統(tǒng)的介紹。比如晶體缺陷、內(nèi)應(yīng)力、相分析等。該卷還著重介紹了高分辨電子顯微鏡和圖像模擬。第4卷討論各種能譜的分析方法與技術(shù)。比如X射線譜、X射線定量定性分析、電子能量損失譜、離子能量損失譜等。在電子顯微學(xué)研究中最為基本的理論是衍射理論，因而該書利用相當(dāng)大的篇幅介紹衍射理論以及與其緊密相關(guān)的晶體結(jié)構(gòu)，這些知識是材料學(xué)專業(yè)的重要基礎(chǔ)理論之一?！　”緯鳛榻滩暮苡袆?chuàng)新性，而且把這一通用的材料表征技術(shù)的實際應(yīng)用進行了必要的介紹和論述，是短時間內(nèi)掌握電子顯微鏡的最佳學(xué)習(xí)途徑，無論是電子顯微鏡初學(xué)者還是高級研究人員都將開卷有益。它也是亞馬遜網(wǎng)上書店最暢銷的教材之一。

書籍目錄

Ⅰ Basics1 The Transmission Electron Microscope2 Scattering and Diffraction3 Elastic Scattering4 Inelastic Scattering and Beam Damage5 Electron Sources6 Lenses,Apertures,and Resolution7 How to“See”Electrons8 Pumps and Holders9 The Instrument10 Specimen PreparationⅡ Diffraction11 Diffraction Patterns12 Thinking in Reciprocal Space13 Diffracted Beams14 Bloch Waves15 Dispersion Surfaces16 Diffraction from Crystals17 Diffraction from Small Volumes18 Indexing Diffraction Patterns19 Kikuchi Diffraction20 Obtaining CBED Patterns21 Using Convergent-Beam TechniquesⅢ Imaging22 Imaging in the TEM23 Thickness and Bending Effects24 Planar Defects25 Strain Fields26 Weak-Beam Dark-Field Microscopy27 Phase-Contrast Images28 High-Resolution TEM29 Image Simulation30 Quantifying and Processing HRTEM Images31 Other Imaging TechniquesⅣ Spectrometry32 X-ray Spectrometry33 The XEDS-TEM Iterface34 Qualitative X-ray Analysis35 Qualitative X-ray Microanalysis36 Spatial Resolution and Minimum Detectability37 Electron Energy-Loss Spectrometers38 The Energy-Loss Spectrum39 Microanalysis with lonization-Loss Electrons40 Everything Else in the Spectrum

編輯推薦

　　《透射電子顯微學(xué)：材料科學(xué)教材》(4卷本)(影印版)作為教材很有創(chuàng)新性，而且把這一通用的材料表征技術(shù)的實際應(yīng)用進行了必要的介紹和論述，是短時間內(nèi)掌握電子顯微鏡的最佳學(xué)習(xí)途徑，無論是電子顯微鏡初學(xué)者還是高級研究人員都將開卷有益。它也是亞馬遜網(wǎng)上書店最暢銷的教材之一。

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