電子系統(tǒng)測試原理

內容概要

　　隨著電子技術的不斷發(fā)展，電子系統(tǒng)測試面臨越來越大的挑戰(zhàn)：研究更精確的故障模型，在高層設計上檢查易測試性，在綜合過程中嵌入更有效的測試結構等。《電子系統(tǒng)測試原理》詳細介紹了測試的基本原理和很多必需的基礎知識，來面對這些挑戰(zhàn)?！　　峨娮酉到y(tǒng)測試原理》涉及開發(fā)可靠電子產品的非常實用的設計和測試知識，講解設計驗證的主要手段，有助于測試的設計檢查；研究了如何將測試應用于隨機邏輯、存儲器、FPGA和微處理器。最后，提供了針對深亞微型設計的高級測試解決方案。讀者可以通過《電子系統(tǒng)測試原理》深入理解測試的基本原理，并掌握眾多解決方案。《電子系統(tǒng)測試原理》的主要內容包括　　●解釋了測試在設計中的作用?！　　裨敿氂懻摿藪呙杪窂胶蛼呙桄湹拇涡??！　　襻槍η度胧竭壿嫼痛鎯ζ鲏K的BIST解決方案?！　　襻槍PGA的測試方法?！　　裥酒到y(tǒng)的測試。

作者簡介

　　Samiha Mourad博士是加利福尼亞圣克拉拉大學電子工程系教授。Yervant Zorian博士是加利福尼亞圣何塞Logic Vision公司的首席技術顧問。

書籍目錄

第I部分 設計與測試第1章 測試綜述1.1 可靠性與測試1.2 設計過程1.3 驗證1.3.1 功能模擬1.3.2 時間模擬1.4 測試1.5 故障及其檢測1.6 測試碼生成1.7 故障覆蓋率1.8 測試類型1.8.1 窮舉測試1.8.2 偽窮舉測試1.8.3 偽隨機測試1.8.4 確定性測試1.9 測試應用1.9.1 在線測試與離線測試1.9.2 自動測試儀器1.9.3 片上測試與片外測試1.10 易測試性設計1.10.1 可控性1.10.2 可觀察性1.11 測試經濟1.11.1 收益和缺陷級1.11.2 故障覆蓋率和缺陷級別1.12 進一步研究參考文獻習題第2章 缺陷、失效和故障2.1 簡介2.2 物理缺陷2.2.1 材料過多和缺失2.2.2 氧化物斷裂2.2.3 電遷移2.3 故障模式2.3.1 開路2.3.2 短路2.4 故障2.5 固定型故障2.5.1 單固定型故障2.5.2 多固定故障2.6 故障列表2.6.1 等價關系2.6.2 支配關系2.6.3 故障精簡2.7 橋接故障2.8 短路和開路故障2.8.1 NMOS電路2.8.2 CMOS電路2.9 時延故障2.10 暫時失效2.10.1 瞬時故障2.10.2 間歇故障2.11 噪聲失效參考文獻習題第3章 設計表示第4章 VLSI設計流程第II部分 測試流程第5章 測試中模擬的角色第6章 自動測試碼生成第7章 電流測試第III部分 易測試性設計第8章 專用技術第9章 路徑掃描設計第10章 邊界掃描測試第11章 內建自測試第IV部分 特殊結構第12章 存儲器測試第13章 FPGA與微處理器的測試第V部分 高級論題第14章 易測試性綜合第15章 SOC測試附錄A 參考書目附錄B 縮寫詞表

編輯推薦

　　《電子系統(tǒng)測試原理》全面闡述了電子系統(tǒng)測試原理，共分為五個部分，第1部分介紹《電子系統(tǒng)測試原理》的目的、電子產品的缺陷種類、VLSI設計表示與設計流程；第II部分介紹故障模擬、測試碼產生及電流測試方法；第III部分討論易測性設計問題，分別介紹專用技術、路徑掃描設計、邊界掃描測試和內建自測試技術；第IV部分介紹特殊結構的測試，包括存儲器、FPGA和微處理器的測試；第v部分涉及當前電子系統(tǒng)測試領域中的前沿問題，包括如何實現(xiàn)易測試性結構和進行SOC試?！　　峨娮酉到y(tǒng)測試原理》可作為電子信息類專業(yè)研究生教材和IC測試工程技術人員的參考書。

圖書封面

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