電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備國家標(biāo)準(zhǔn)匯編

內(nèi)容概要

　　隨著現(xiàn)代工業(yè)技術(shù)的迅速發(fā)展，電工電子產(chǎn)品應(yīng)用領(lǐng)域日益廣闊，所經(jīng)受的環(huán)境條件也越來越復(fù)雜多樣。只有合理地規(guī)定產(chǎn)品的環(huán)境條件，正確選擇產(chǎn)品的環(huán)境防護措施，才能保證產(chǎn)品在儲存運輸中免遭損壞，在使用過程中安全可靠。因而，對電工電子產(chǎn)品進行人工模擬環(huán)境試驗是保證其在生產(chǎn)、運輸、使用等各環(huán)節(jié)中都安全可靠所必不可少的重要環(huán)節(jié)。出廠前對電工電子產(chǎn)品進行人工模擬環(huán)境試驗是保證質(zhì)量所必不可少的重要環(huán)節(jié)，因此環(huán)境試驗條件、試驗方法、試驗設(shè)備是否符合標(biāo)準(zhǔn)關(guān)系重大。多年來我國制修訂了很多這方面的國家標(biāo)準(zhǔn)，受到廣大電工電子產(chǎn)品研制、生產(chǎn)、檢驗、運輸、使用人員的關(guān)注。
　　為此，我們經(jīng)匯集整理，陸續(xù)出版了電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗方面標(biāo)準(zhǔn)的系列匯編，如《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗國家標(biāo)準(zhǔn)匯編》、《電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件國家標(biāo)準(zhǔn)匯編》、《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備國家標(biāo)準(zhǔn)匯編》、《電工電子產(chǎn)品著火危險試驗國家標(biāo)準(zhǔn)匯編》、《電工電子產(chǎn)品特殊環(huán)境條件國家標(biāo)準(zhǔn)匯編》等，受到讀者歡迎。
　　本冊為《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備國家標(biāo)準(zhǔn)匯編(第4版)》，共匯集了截至2011年4月底我國正式發(fā)布實施且現(xiàn)行有效的電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備方面的國家標(biāo)準(zhǔn)共計26項，涉及總則、各種環(huán)境試驗設(shè)備的檢驗方法和技術(shù)條件等。其中有14項是2008年以來新制修訂的標(biāo)準(zhǔn)。
　　本匯編收集的國家標(biāo)準(zhǔn)均為推薦性國家標(biāo)準(zhǔn)(目錄中標(biāo)明GB／T)。由于所收錄標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)布年代不盡相同，我們對標(biāo)準(zhǔn)中所涉及到的有關(guān)量和單位的標(biāo)注方法未作統(tǒng)一改動。

書籍目錄

GB／T 5170．1—2008　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法總則
GB／T 5170．2—2008　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備
GB／T 5170．5—2008　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備
GB／T 5170．8—2008　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法鹽霧試驗設(shè)備
GB／T 5170．9—2008　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法太陽輻射試驗設(shè)備
GB／T 5170．10 2008　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法　高低溫低氣壓試驗設(shè)備
GB／T 5170．11—2008　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法　腐蝕氣體試驗設(shè)備
GB／T 5170．13—2005　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法　振動(正弦)試驗用機械振動臺
GB／T 5170．14—2009　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢驗方法振動(正弦)試驗用電動振動臺
68／T 5170．15—2005　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法　振動(正弦)試驗用液壓振動臺
GB／T 5170．16—2005　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法穩(wěn)態(tài)加速度試驗用離心機
68／T 5170．17—2005　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫／低氣壓／濕熱綜合順序試驗設(shè)備
68／T 5170．18—2005　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法　溫度／濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備
GB／T 5170．19—2005　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度／振動(正弦)綜合試驗設(shè)備
GB／T 5170．20一2005　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗設(shè)備
GB／T 5170．21—2008　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢驗方法振動(隨機)試驗用液壓振動臺
GB／T l0586—2006　濕熱試驗箱技術(shù)條件
GB／T l0587—2006鹽霧試驗箱技術(shù)條件
GB／T l0528—2006長霉試驗箱技術(shù)條件
GB／T l0589—2008低溫試驗箱技術(shù)條件
GB／T l0590—2006高低溫／低氣壓試驗箱技術(shù)條件
GB／T l0591—2006高溫／低氣壓試驗箱技術(shù)條件
GB／T l0592—2008高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB／T lll58—2008高溫試驗箱技術(shù)條件
GB／T lll59—2010低氣壓試驗箱技術(shù)條件
GR／T 6999—9010環(huán)境試驗用相對溫度查算表

章節(jié)摘錄

版權(quán)頁：插圖：

編輯推薦

《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備國家標(biāo)準(zhǔn)匯編(第4版)》由中國標(biāo)準(zhǔn)出版社出版。

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