硅技術(shù)的發(fā)展和未來

出版時間:2009-2  出版社:冶金工業(yè)出版社  作者:(法)希弗特,(德)克瑞梅爾 編著,屠海令 等譯  譯者:屠海令  

內(nèi)容概要

本書涵蓋了半導(dǎo)體硅及硅基材料、多晶硅和光伏技術(shù)、硅外延和薄膜、硅摻雜、器件、化合物半導(dǎo)體、品格缺陷、雜質(zhì)影響等多方面的內(nèi)容,并涉及量子計算機(jī)、碳納米管在微電子中的應(yīng)用、情境智能系統(tǒng)、大腦半導(dǎo)體等諸多新概念;系統(tǒng)總結(jié)了世界半導(dǎo)體硅材料的發(fā)展歷史、研究現(xiàn)狀,并指出了今后的發(fā)展方向。其內(nèi)容廣泛,數(shù)據(jù)詳實(shí),可作為高等院校、科研院所和相關(guān)單位從事半導(dǎo)體材料學(xué)習(xí)、科研和開發(fā)人員的參考用書。

書籍目錄

1 導(dǎo)論:各種形式的硅 1.1 引言 1.2 從20世紀(jì)60年代到70年代初:能帶 1.3 20世紀(jì)70年代:應(yīng)用于硅的表面理論 1.4 20世紀(jì)80年代:硅的結(jié)構(gòu)能 1.5 20世紀(jì)90年代:硅團(tuán)簇與量子點(diǎn)的結(jié)構(gòu)和電子性質(zhì) 1.6 未來展望 參考文獻(xiàn)第一部分 半導(dǎo)體體硅晶體 2 硅:半導(dǎo)體材料  2.1 引言  2.2 早期歷史  2.3 硅研究中的競爭與合作  2.4 最初的器件應(yīng)用  2.5 MOS技術(shù)和集成  2.6 結(jié)論  參考文獻(xiàn) 3 硅:一個工業(yè)奇跡  3.1 引言  3.2 主要制程  3.3 硅材料生產(chǎn)工藝  參考文獻(xiàn)第二部分 多晶硅 4 電子器件用多晶硅薄膜  4.1 引言  4.2 多晶硅薄膜分類  4.3 多晶硅生長和微晶結(jié)構(gòu)   4.3.1 CVD多晶硅   4.3.2 非晶硅晶化的多晶硅   4.3.3 CVD多晶硅晶界化學(xué)   4.3.4 多晶硅的摻雜  4.4 多晶硅的電性能  4.5 結(jié)論   參考文獻(xiàn) 5 光伏用硅  5.1 引言  5.2 光伏用硅材料   5.2.1 不同生產(chǎn)工藝的歷史與現(xiàn)狀   5.2.2 薄膜沉積工藝  5.3 光伏硅的輸運(yùn)特性   5.3.1 缺陷及雜質(zhì)對硅輸運(yùn)性質(zhì)的影響   5.3 .2吸除改善材料性能  5.4 硅太陽電池   5.4.1 硅太陽電池技術(shù)與其他技術(shù)的比較   5.4.2 多晶硅太陽電池技術(shù)  5.5 結(jié)論  參考文獻(xiàn)第三部分 外延,薄膜和多孔層 6 分子束外延薄膜  6.1 設(shè)備原理和生長機(jī)理  6.2 歷史概述;  6.3 應(yīng)變異質(zhì)結(jié)構(gòu)的穩(wěn)定性   6.3.1 應(yīng)變層的臨界厚度   6.3.2 亞穩(wěn)態(tài)膺晶生長   6.3.3 器件結(jié)構(gòu)的加工和退火  6.4 硅MBE生長膜中摻雜劑的分布   6.4.1 摻雜問題   6.4.2 突變和δ型摻雜分布  6.5 半導(dǎo)體器件研究   6.5.1 異質(zhì)結(jié)雙極晶體管(HBT)   6.5.2 SiGeMOSFET和MODFET   6.5.3 垂直MOSFET結(jié)構(gòu)  6.6 若干研究重點(diǎn)介紹   6.6.1 級聯(lián)激光器   6.6.2 表面結(jié)構(gòu)   6.6.3 自組織和有序化  6.7 結(jié)論  參考文獻(xiàn) 7 氫化非晶硅(a-Si:H)  7.1 引言  7.2 a-Si的制備和結(jié)構(gòu)性質(zhì)  7.3 a-Si:H的電學(xué)性質(zhì)  7.4 光致發(fā)光和光電導(dǎo)  7.5 亞穩(wěn)態(tài)  7.6 a-Si太陽電池  參考文獻(xiàn)第四部分 品格缺陷第五部分 硅摻雜第六部分 某些雜質(zhì)的作用第七部分 器件第八部分 對硅的補(bǔ)充:化合物半導(dǎo)體第九部分 新的研究領(lǐng)域List of Contribrtors

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用戶評論 (總計1條)

 
 

  •   書的內(nèi)容有點(diǎn)過時,參考性和實(shí)用性不強(qiáng)。翻譯質(zhì)量一般,不建議買。
 

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