大學(xué)物理實驗教程

內(nèi)容概要

　　《高等學(xué)校規(guī)劃教材：大學(xué)物理實驗教程》是按照教育部高等學(xué)校非物理類專業(yè)物理基礎(chǔ)課程教學(xué)指導(dǎo)分委員會于2008年制定的《非物理類理工學(xué)科大學(xué)物理實驗課程教學(xué)基本要求》編寫而成的。全書分七章，共有實驗49個。第一章講解了誤差理論；第二章講解了物理實驗常用測量方法；第三章講解了物理實驗常用儀器；第四章介紹了涵蓋力學(xué)、熱學(xué)、光學(xué)和電磁學(xué)的基礎(chǔ)性實驗；第五章介紹了綜合性實驗；第六章介紹了設(shè)計性實驗；第七章介紹了計算機在物理實驗中的應(yīng)用。書后附錄包括了物理常數(shù)表、中華人民共和國法定計量單位（摘錄）?！　　陡叩葘W(xué)校規(guī)劃教材：大學(xué)物理實驗教程》可作為各類高等院校工科專業(yè)和理科非物理類專業(yè)的本科或?qū)？莆锢韺嶒灲滩?，也可作為實驗技術(shù)人員、相關(guān)課程教師及其他科技工作者的參考書。

書籍目錄

緒論第一章 誤差理論第一節(jié) 測量誤差基本知識第二節(jié) 測量不確定度評定與表示第三節(jié) 實驗數(shù)據(jù)修約第四節(jié) 實驗數(shù)據(jù)處理方法第五節(jié) 隨機變量的統(tǒng)計分布第二章 物理實驗常用測量方法第一節(jié) 比較法第二節(jié) 放大法第三節(jié) 轉(zhuǎn)換法第四節(jié) 補償法第五節(jié) 平衡法第六節(jié) 模擬法第七節(jié) 干涉法第三章 物理實驗常用儀器第一節(jié) 力學(xué)、熱學(xué)常用儀器第二節(jié) 電磁學(xué)常用儀器第三節(jié) 光學(xué)常用儀器第四章 基礎(chǔ)性實驗實驗1 基本測量實驗2 用波爾共振儀研究受迫振動實驗3 金屬彈性模量的測定實驗4 金屬桿線膨脹系數(shù)的測定實驗5 液體黏度的測定實驗6 模擬法測繪靜電場實驗7 伏安法測電阻實驗8 用惠斯通電橋測電阻實驗9 用電位差計測量電動勢實驗10 霍爾效應(yīng)實驗實驗11 運用示波器顯示李薩如圖形實驗12 聲速的測量實驗13 分光儀的調(diào)整和玻璃折射率的測定實驗14 用干涉法測量透鏡的曲率半徑實驗15 汞燈光波波長的測定實驗16 單縫衍射的光強分布及測量實驗17 偏振法測葡萄糖溶液的濃度實驗18 機械能守恒定律的驗證第五章 綜合性實驗實驗19 弦振動實驗實驗20 邁克耳遜干涉儀的應(yīng)用實驗21 利用光電效應(yīng)測量普朗克常數(shù)實驗22 磁聚焦法測定電子荷質(zhì)比實驗23 電子電荷的測定——密立根油滴實驗實驗24 組合干涉儀實驗實驗25 光纖傳感器測量溫度實驗26 PN結(jié)正向壓降與溫度關(guān)系的研究和應(yīng)用實驗27 傳感器的原理與應(yīng)用實驗28 用光拍頻法測量空氣中的光速實驗29 音頻信號光纖傳輸技術(shù)實驗實驗30 電子動能分布的實驗測定實驗31 模擬電冰箱制冷系數(shù)的測量實驗32 夫蘭克一赫茲實驗實驗33 夫蘭克一赫茲實驗（計算機控制）實驗34 紅外、光導(dǎo)和全息實驗35 動態(tài)法測定彈性模量實驗36 鎢的逸出功的測定實驗37 鐵磁材料居里溫度的測定第六章 設(shè)計性實驗基礎(chǔ)實驗38 直流濺射法制備金屬薄膜實驗39 干涉法測量薄膜的厚度實驗40 金屬薄膜電阻的動態(tài)監(jiān)測實驗41 金屬薄膜電阻率的測量實驗42 用干涉方法測量薄膜應(yīng)力實驗43 CCD光柵光譜儀與光譜分析實驗44 測定物質(zhì)的光吸收譜實驗45 RLC串聯(lián)電路的暫態(tài)過程實驗46 剛體轉(zhuǎn)動慣量的實驗測定實驗47 電表的改裝與校準(zhǔn)實驗48 簡諧振動的研究實驗49 硅光電池特性研究第七章 計算機在物理實驗中的應(yīng)用第一節(jié) 計算機實驗數(shù)據(jù)處理及實驗演示程序示例第二節(jié) 計算機仿真物理實驗簡介第三節(jié) 仿真實驗示例：邁克耳遜干涉儀附錄附錄1物理常數(shù)表附錄2中華人民共和國法定計量單位（摘錄）參考文獻

章節(jié)摘錄

　　（1）搭建測量光路。在讀數(shù)顯微鏡的載物臺上放上待測膜厚的薄膜樣品（薄膜樣品的背面標(biāo)有黑色圓點），如圖6.3 9.3 所示。鈉光光源發(fā)射出來的光通過待測樣品上方的一個傾斜度可調(diào)的分光鏡M（其支架未畫出）反射后垂直入射到待測樣品上。分光鏡M的作用一方面是使光源射來的光經(jīng)它反射后垂直入射到待測樣品上；另一方面，它又可以透過光，故可自上面的顯微鏡觀察到由待測樣品和半透膜板P構(gòu)成的空氣劈尖產(chǎn)生的干涉條紋。由于干涉條紋的間距很窄，須用讀數(shù)顯微鏡來測量它們之間的間距。根據(jù)圖6.3 9.1 和圖6.3 9.3 所示的干涉法測量薄膜膜厚的原理及儀器示意圖，搭建好測量光路。特別注意，在光路中，用半透膜板同待測薄膜樣品構(gòu)成一個空氣劈尖。仔細調(diào)節(jié)光路（例如讀數(shù)顯微鏡、分光鏡M的角度、半透膜板P和待測樣品的相對位置），直到觀察到如圖6.3 9.2 所示的清晰的干涉條紋?！　∽源畎胪改ぐ逋郎y薄膜樣品構(gòu)成空氣劈尖時，應(yīng)將半透膜板有膜的一面朝下（請思考其原因？），且在與金薄膜或銀薄膜之間不能有過大的灰塵顆粒（請思考其原因？）。當(dāng)調(diào)節(jié)空氣劈尖的夾角時，要防止因摩擦損壞兩個面上的薄膜。必要時用氣鼓吹凈半透膜板P和待測樣品的表面。

圖書封面

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