腦功能探測的電學理論與方法

內(nèi)容概要

《腦功能探測的電學理論與方法》主要內(nèi)容：腦功能的無損成像技術是近年國際上的一個研究熱點，先后發(fā)展了電、磁、光功能磁共振與正電子發(fā)射斷層技術，其中基于電和磁的方法研究時間較長，發(fā)展的方法也較多，且具有很高的時間分辨率，其中又以電的方法成本遠遠低于其他方法。因此系統(tǒng)的總結(jié)和發(fā)展電學方法具有十分重要而現(xiàn)實的意義。
《腦功能探測的電學理論與方法》包括4篇共17章內(nèi)容。第1篇是關于腦電的生物物理學基礎方面一個概述，第2篇介紹了規(guī)則形狀和實際形狀的為腦電正問題方法，第3篇為各種高分辨腦電成像技術，第4篇為各種腦電逆問題技術，第5篇為腦電信號的時域動力學分析新方法。其中第2-4篇為腦電的空域分析方法，第5篇為腦電的時域分析方法。

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