《VLSI測試方法學(xué)和可測性設(shè)計》下載
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| 圖書名稱: | VLSI測試方法學(xué)和可測性設(shè)計 | |||
| 封面圖片: |
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| 出版印刷時間: | 2005-1-1 | |||
| 出版社: | 電子工業(yè)出版社 | |||
| 圖書作者: | 雷紹充,梁峰,邵志標(biāo) | |||
| 文件格式: | ||||
| 13位ISBN: | 9787121003790 | |||
| 10位ISBN: | 7121003791 | |||
| 字?jǐn)?shù): | 480000 | |||
| 頁數(shù): | 286 | |||
| 圖書標(biāo)簽: | 無 | |||
| 下載地址: | VLSI測試方法學(xué)和可測性設(shè)計PDF格式下載 | |||
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| 查看詳細(xì): | VLSI測試方法學(xué)和可測性設(shè)計 | |||