圖書名稱: | 納米數(shù)字集成電路老化效應(yīng) | |||
封面圖片: |
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出版印刷時(shí)間: | 2012-6 | |||
出版社: | 清華大學(xué)出版社 | |||
圖書作者: | 靳松,韓銀和 著 | |||
文件格式: | ||||
13位ISBN: | 9787302285434 | |||
10位ISBN: | 7302285438 | |||
字?jǐn)?shù): | 156000 | |||
頁(yè)數(shù): | 108 | |||
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