TOEIC模擬測(cè)驗(yàn)

出版時(shí)間:2000年12月20日  出版社:三思堂  作者:臼井直人  

內(nèi)容概要

本書(shū)為了能讓讀者習(xí)慣TOEIC測(cè)驗(yàn),特別準(zhǔn)備了三套模擬試題。
解說(shuō)部份介紹模擬試題,捨去詳細(xì)的文法、語(yǔ)法說(shuō)明,盡量以實(shí)戰(zhàn)的觀點(diǎn)來(lái)說(shuō)明解答的捷徑。不只是一般的「方法論」,全部都是以英語(yǔ)文法為基礎(chǔ),應(yīng)用在其它的英語(yǔ)測(cè)驗(yàn)上;另外,附加了關(guān)於美國(guó)文化背景的說(shuō)明,提升學(xué)習(xí)興趣。

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