出版時(shí)間:2003-6-1 出版社:清華大學(xué)出版社 作者:曾繁泰
內(nèi)容概要
EDA工程方法學(xué),即電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化方法學(xué),屬于現(xiàn)代電子設(shè)計(jì)方法學(xué)的范疇。本書(shū)闡述了專(zhuān)用集成電路的功能設(shè)計(jì)、仿真設(shè)計(jì)、可測(cè)試設(shè)計(jì)、時(shí)序分析、邏輯綜合、故障診斷、形式驗(yàn)證等EDA工程方法,歸納出了EDA方法學(xué)的一些基本規(guī)律和設(shè)計(jì)原則,闡述了深亞微米工藝下EDA工程方法學(xué)的發(fā)展方向。本書(shū)是EDA工程系列叢書(shū)之四,共分12章。第1章簡(jiǎn)要概述了EDA工程的基本概念;第2章闡述了EDA工程方法學(xué),涉及行為描述、SoC設(shè)計(jì)方法、IP復(fù)用、ASIC設(shè)計(jì)方法、虛擬機(jī)、測(cè)試平臺(tái)設(shè)計(jì)方法、軟硬件協(xié)同驗(yàn)證等內(nèi)容:第3章介紹了EDA工程建模方法:第4章闡述了EDA工程的綜合方法,介紹了硬件語(yǔ)言和實(shí)現(xiàn)載體之間的關(guān)系;第5章主要介紹了功能仿真和時(shí)序仿真,闡述了模擬和仿真的概念、方法的不同之處;第6章介紹了測(cè)試方法的演變、內(nèi)建測(cè)試電路的設(shè)計(jì)方法、JTAG接口標(biāo)準(zhǔn)及其應(yīng)用;第7章和第8章分別闡述了時(shí)序分析和故障測(cè)試方法;第9章介紹了幾種驗(yàn)證算法和驗(yàn)證工具:第10章介紹EDA工程的設(shè)計(jì)流程,是項(xiàng)目管理的基本方法之一;第11章介紹了實(shí)現(xiàn)載體、多項(xiàng)目晶圓MPW、Chipless、Fabless、 Foundry等概念;第12章展望了EDA工程方法學(xué)的未來(lái)發(fā)展。本書(shū)附帶一張光盤(pán),內(nèi)容為一些常用的EDA開(kāi)發(fā)工具,如 Quartus II、 MAX+PLUS II等,還有一些器件的參數(shù)說(shuō)明和開(kāi)放的IP核示范動(dòng)畫(huà)。光盤(pán)內(nèi)容由ALTERA公司提供,并授權(quán)清華大學(xué)出版社出版。本書(shū)適合作為高等院校電子、計(jì)算機(jī)、微電子、通信等相關(guān)專(zhuān)業(yè)的高年級(jí)學(xué)生的 EDA 工程專(zhuān)業(yè)教材,也可以作為研究牛的參考書(shū),同時(shí)還可以作為電子行業(yè)工程技術(shù)人員的參考讀物。
書(shū)籍目錄
第1章 EDA工程概論
第2章 EDA工程設(shè)計(jì)方法
第3章 EDA工程建模方法
第4章 EDA工程綜合方法
第5章 EDA工程仿真方法
第6章 EDA工程可測(cè)試設(shè)計(jì)方法
第7章 EDA工程時(shí)序分析方法
第8章 EDA工程故障測(cè)試方法
第9章 EDA工程驗(yàn)證方法
第10章 EDA工程流程規(guī)劃方法
第11章 EDA工程的實(shí)現(xiàn)方法
第12章 EDA工程方法學(xué)進(jìn)展
英漢名詞縮略語(yǔ)對(duì)照表
參考文獻(xiàn)
圖書(shū)封面
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