數(shù)字電子技術(shù)基礎(chǔ)學習指導

出版時間:2007-7  出版社:東北大學  作者:本社  頁數(shù):214  

內(nèi)容概要

  《21世紀高等學校新理念教材建設(shè)工程:數(shù)字電子技術(shù)基礎(chǔ)學習指導》共9章,各章內(nèi)容包括基本要求、內(nèi)容摘要、難點釋疑、典型例題分析、自我檢查題及參考答案、習題及詳細解答六部分,基本要求部分意在使讀者明確本章的教學重點、學習和考試的要求,內(nèi)容摘要部分是對本章內(nèi)容的基本概念、基本原理和基本分析方法的高度總結(jié)和歸納.典型例題分析部分是有針對性地精選出具有代表性的例題進行解析,以便對課程內(nèi)容的重點、難點有深刻的理解,并達到舉一反三的目的.最后按照教學基本要求,給出了自我檢查題和習題,同時附參考答案,希望通過自測,檢查學習效果。

書籍目錄

第一章 邏輯代數(shù)基礎(chǔ)基本要求內(nèi)容摘要難點釋疑典型例題分析自我檢查題及參考答案習題及詳細解答第二章 門電路基本要求內(nèi)容摘要難點釋疑典型例題分析自我檢查題及參考答案習題及詳細解答第三章 組合邏輯電路基本要求內(nèi)容摘要難點釋疑典型例題分析自我檢查題及參考答案習題及詳細解答第四章 觸發(fā)器基本要求內(nèi)容摘要難點釋疑典型例題分析自我檢查題及參考答案習題及詳細解答第五章 時序邏輯電路基本要求內(nèi)容摘要難點釋疑典型例題分析自我檢查題及參考答案習題及詳細解答第六章 脈沖波形的產(chǎn)生和整形基本要求內(nèi)容摘要難點釋疑典型例題分析自我檢查題及參考答案習題及詳細解答第七章 半導體存儲器基本要求內(nèi)容摘要難點釋疑典型例題分析自我檢查題及參考答案習題及詳細解答第八章 可編程邏輯器件基本要求內(nèi)容摘要難點釋疑典型例題分析自我檢查題及參考答案習題及詳細解答第九章 數(shù)-模和模-數(shù)轉(zhuǎn)換基本要求內(nèi)容摘要難點釋疑典型例題分析自我檢查題及參考答案習題及詳細解答參考文獻

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