現(xiàn)代電子技術(shù)基礎(chǔ)(數(shù)字部分)

出版時間:2005-2  出版社:北京航空航天大學(xué)出版社  作者:臧春華  頁數(shù):388  字?jǐn)?shù):566000  

內(nèi)容概要

為適應(yīng)現(xiàn)代數(shù)字技術(shù)的飛速發(fā)展,本書對傳統(tǒng)教學(xué)內(nèi)容進(jìn)行了較大幅度的更新,進(jìn)一步精簡了傳統(tǒng)的數(shù)字器件和設(shè)計方法,突出EDA設(shè)計技術(shù)和數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計方法。全書主要內(nèi)容包括:數(shù)制與編碼;邏輯函數(shù)及其化簡;組合電路分析與設(shè)計;時序電路分析與設(shè)計;數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計與設(shè)計自動化;硬件描述語言VHDL;可編程邏輯器件CPLD/FPGA的原理與應(yīng)用;數(shù)/模與模/數(shù)轉(zhuǎn)換;數(shù)字電路測試和可測性設(shè)計等。    本書可作為高等院校電子信息類、電氣信息類、自動控制類和計算機(jī)類各專業(yè)的教材,也可作為相關(guān)工程技術(shù)人員的參考書。

書籍目錄

引言第1章 數(shù)制與編碼  1.1 數(shù)制    1.1.1 十進(jìn)制    1.1.2 二進(jìn)制    1.1.3 八進(jìn)制和十六進(jìn)制    1.1.4 數(shù)制轉(zhuǎn)換    1.1.5 二進(jìn)制數(shù)的算術(shù)運(yùn)算  1.2 編碼    1.2.1 二進(jìn)制編碼    1.2.2 帶符號數(shù)的編碼及運(yùn)算    1.2.3 二―十進(jìn)制碼    1.2.4 字符編碼    1.2.5 可靠性編碼    習(xí)題第2章 邏輯函數(shù)及其化簡  2.1 邏輯代數(shù)基礎(chǔ)    2.1.1 邏輯函數(shù)的基本概念    2.1.2 邏輯代數(shù)的基本運(yùn)算與復(fù)合運(yùn)算  2.2 邏輯代數(shù)的基本公式和規(guī)則    2.2.1 基本公式    2.2.2 常用規(guī)則  2.3 邏輯函數(shù)和邏輯表達(dá)式    2.3.1 邏輯函數(shù)的表示方法    2.3.2 與或式與最小項表達(dá)式    2.3.3 或與式與最大項表達(dá)式    2.3.4 邏輯圖    2.3.5 邏輯函數(shù)的代數(shù)法化簡  2.4 邏輯函數(shù)的卡諾圖化簡    2.4.1 卡諾圖的構(gòu)成    2.4.2 用卡諾圖表示邏輯函數(shù)    2.4.3 用卡諾圖化簡邏輯函數(shù)    2.4.4 未完全規(guī)定的邏輯函數(shù)及其化簡    習(xí)題第3章 組合邏輯電路  3.1 數(shù)字集成器件簡介    3.1.1 集成電路的主要電氣指標(biāo)    3.1.2 邏輯電路的輸出結(jié)構(gòu)    3.1.3 正邏輯和負(fù)邏輯    3.1.4 常用門電路及邏輯符號  3.2 常用組合邏輯模塊    3.2.1 并行加法器    3.2.2 數(shù)值比較器    3.2.3 編碼器    3.2.4 譯碼器    3.2.5 數(shù)據(jù)選擇器  3.3 組合電路分析  3.4 組合電路設(shè)計    3.4.1 用SSI設(shè)計組合電路    3.4.2 用MSI設(shè)計組合電路    3.4.3 功能分解的設(shè)計方法  3.5 競爭與險象    3.5.1 邏輯險象及其消除方法    3.5.2 功能險象    3.5.3 險象的排除    習(xí)題第4章 時序電路分析  4.1 時序電路概述  4.2 集成觸發(fā)器及其應(yīng)用    4.2.1 基本RS觸發(fā)器    4.2.2 時鐘RS觸發(fā)器    4.2.3 D觸發(fā)器    4.2.4 JK觸發(fā)器    4.2.5 T觸發(fā)器    4.2.6 異步計數(shù)器  4.3 同步時序電路分析     4.3.1 米里型電路的分析    4.3.2 莫爾型電路的分析    4.3.3 復(fù)雜電路的功能表描述    4.3.4 自啟動    4.3.5 異步信號的同步化  4.4 集成計數(shù)器及其應(yīng)用     4.4.1 同步加法計數(shù)器74163    4.4.2 異步加/減(可逆)計數(shù)器74192    4.4.3 計數(shù)器應(yīng)用實(shí)例——數(shù)字鐘151  4.5 集成移位寄存器及其應(yīng)用    4.5.1 四位雙向移位寄存器74194    4.5.2 移位寄存器的應(yīng)用實(shí)例——汽車尾燈控制電路  4.6 隨機(jī)訪問存儲器與快閃存儲器    4.6.1 隨機(jī)訪問存儲器    4.6.2 快閃存儲器    習(xí)題第5章 同步時序電路設(shè)計  5.1 同步時序電路的建模    5.1.1 根據(jù)輸入序列推導(dǎo)狀態(tài)表(圖)    5.1.2 根據(jù)輸出序列推導(dǎo)狀態(tài)表(圖)   5.2 用觸發(fā)器實(shí)現(xiàn)同步時序電路  5.3 用MSI時序模塊設(shè)計同步時序電路    5.3.1 以集成計數(shù)器為核心設(shè)計同步時序電路    5.3.2 以多D觸發(fā)器為核心設(shè)計同步時序電路  5.4 應(yīng)用設(shè)計實(shí)例——鐵路和公路交叉路口自動交通控制器的設(shè)計    習(xí)題第6章 數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計與設(shè)計自動化  6.1 數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計初步    6.1.1 算法設(shè)計    6.1.2 數(shù)據(jù)處理單元設(shè)計    6.1.3 控制單元設(shè)計  6.2 計算機(jī)的組織結(jié)構(gòu)    6.2.1 計算機(jī)的基本結(jié)構(gòu)    6.2.2 簡單CPU的有限狀態(tài)機(jī)  6.3 數(shù)字系統(tǒng)設(shè)計自動化    6.3.1 邏輯驗證與邏輯模擬    6.3.2 邏輯綜合與優(yōu)化  6.4 硬件描述語言VHDL    6.4.1 VHDL基本結(jié)構(gòu)    6.4.2 數(shù)據(jù)對象、類型及運(yùn)算符    6.4.3 順序語句    6.4.4 并行語句    6.4.5 子程序    6.4.6 程序包與設(shè)計庫    6.4.7 元件配置    6.4.8 VHDL描述實(shí)例    習(xí)題第7章 可編程邏輯器件及其應(yīng)用  7.1 PLD的基本原理    7.1.1 PLD的基本組成    7.1.2 PLD內(nèi)部電路的表示方法    7.1.3 PLD的編程方法  7.2 簡單可編程邏輯器件SPLD    7.2.1 可編程只讀存儲器PROM    7.2.2 可編程邏輯陣列PLA    7.2.3 可編程陣列邏輯PAL    7.2.4 通用陣列邏輯GAL  7.3 高密度可編程邏輯器件HDPLD    7.3.1 CPLD組成與特點(diǎn)    7.3.2 FPGA組成與特點(diǎn)    7.3.3 連線確定的FPGA    7.3.4 HDPLD編程技術(shù)  7.4 常用可編程邏輯器件及其開發(fā)工具    7.4.1 Lattice公司的CPLD/FPGA與開發(fā)軟件    7.4.2 Altera公司的CPLD/FPGA及開發(fā)工具     7.4.3 Xilinx公司的CPLD/FPGA和開發(fā)平臺  7.5 PLD應(yīng)用舉例    習(xí)題第8章 集成數(shù)/模和模/數(shù)轉(zhuǎn)換器  8.1 集成數(shù)/模轉(zhuǎn)換器(DAC)    8.1.1 集成D/A轉(zhuǎn)換技術(shù)    8.1.2 DAC的主要技術(shù)指標(biāo)    8.1.3 DAC的選用    8.1.4 典型集成DAC及其應(yīng)用  8.2 集成模/數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)    8.2.1 A/D轉(zhuǎn)換的步驟    8.2.2 集成A/D轉(zhuǎn)換技術(shù)    8.2.3 ADC的主要技術(shù)指標(biāo)    8.2.4 ADC的選用    8.2.5 典型集成ADC及其應(yīng)用    習(xí)題第9章 數(shù)字電路測試和可測性設(shè)計  9.1 數(shù)字電路的故障檢測    9.1.1 故障模型與測試碼    9.1.2 組合電路的測試生成    9.1.3 同步時序電路的測試  9.2 數(shù)字電路的可測性設(shè)計    9.2.1 可控制性和可觀察性    9.2.2 增加控制點(diǎn)與觀察點(diǎn)的方法    9.2.3 掃描設(shè)計技術(shù)  9.3 邊界掃描設(shè)計    9.3.1 邊界掃描芯片的結(jié)構(gòu)    9.3.2 板級邊界掃描設(shè)計    9.3.3 系統(tǒng)級邊界掃描結(jié)構(gòu)  9.4 內(nèi)自測試    9.4.1 內(nèi)自測試的組成    9.4.2 特征分析器    9.4.3 內(nèi)建邏輯模塊觀察器    習(xí)題    參考文獻(xiàn)

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