系統(tǒng)測(cè)試性設(shè)計(jì)分析與驗(yàn)證

前言

科學(xué)技術(shù)的進(jìn)步，特別是計(jì)算機(jī)技術(shù)和大規(guī)模集成電路的廣泛應(yīng)用，在改善和提高系統(tǒng)、武器裝備性能的同時(shí)，也大大增加了系統(tǒng)的復(fù)雜性。這勢(shì)必帶來(lái)測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)、故障診斷困難和使用保障費(fèi)用高等問(wèn)題，從而引起了人們的高度重視。研究人員展開(kāi)了大量的系統(tǒng)測(cè)試和診斷問(wèn)題的研究，要求在設(shè)計(jì)研制過(guò)程中使系統(tǒng)具有自檢測(cè)和為診斷提供方便的設(shè)計(jì)特性，即測(cè)試性。20世紀(jì)80年代以來(lái)，測(cè)試性和診斷技術(shù)在國(guó)外得到了迅速發(fā)展，出現(xiàn)了大量的文章和研究報(bào)告，頒布了一系列軍用標(biāo)準(zhǔn)，并貫徹到武器系統(tǒng)的研制中，取得了明顯效益。測(cè)試性逐步形成了一門與可靠性、維修性并行發(fā)展的學(xué)科分支。測(cè)試性是系統(tǒng)和設(shè)備的一種便于測(cè)試和診斷的重要設(shè)計(jì)特性，對(duì)現(xiàn)代武器裝備及各種復(fù)雜系統(tǒng)特別是對(duì)電子系統(tǒng)和設(shè)備的維修性、可靠性和可用性有很大影響。具有良好測(cè)試性的系統(tǒng)和設(shè)備，可以及時(shí)、快速地檢測(cè)與隔離故障，提高執(zhí)行任務(wù)的可靠性與安全性，縮短故障檢測(cè)與隔離時(shí)間，進(jìn)而減少維修時(shí)間，提高系統(tǒng)可用性，降低系統(tǒng)使用保障費(fèi)用。測(cè)試性研究是一門新興的學(xué)科，我國(guó)在這方面的研究起步較晚。近些年來(lái)，有關(guān)部門已經(jīng)開(kāi)展了不少的研究工作，頒布了測(cè)試性軍用標(biāo)準(zhǔn)，在新型號(hào)研制中提出了測(cè)試性要求，開(kāi)展了有關(guān)設(shè)計(jì)工作。但總的來(lái)說(shuō)，我國(guó)還是處于測(cè)試性技術(shù)發(fā)展的初級(jí)階段，測(cè)試性知識(shí)尚不普及，教學(xué)上缺少教材，工程應(yīng)用上缺少設(shè)計(jì)指南，實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)也不多。編寫本書的出發(fā)點(diǎn)是為測(cè)試性教學(xué)和工程應(yīng)用方面提供參考資料，希望能在促進(jìn)我國(guó)測(cè)試性和診斷學(xué)科發(fā)展方面做些有益的工作。

內(nèi)容概要

測(cè)試性（testabmty）是使系統(tǒng)和設(shè)備的監(jiān)控、測(cè)試與診斷簡(jiǎn)便而且迅速的一種設(shè)計(jì)特性，與系統(tǒng)維修性、可靠性和可用性密切相關(guān)。《系統(tǒng)測(cè)試性設(shè)計(jì)分析與驗(yàn)證》全面介紹了測(cè)試性設(shè)計(jì)分析與驗(yàn)證的有關(guān)理論和方法。內(nèi)容包括：測(cè)試性和診斷概念、度量參數(shù)和指標(biāo)、測(cè)試性要求和診斷方案、測(cè)試點(diǎn)與診斷策略、指標(biāo)分配和預(yù)計(jì)以及測(cè)試性設(shè)計(jì)和驗(yàn)證等技術(shù)及方法。    本書注意科學(xué)性與實(shí)用性相結(jié)合，既可作為大專院校相關(guān)專業(yè)的教材、參考書，也可作為從事維修性、測(cè)試性及測(cè)試與診斷等工作的工程技術(shù)和研究人員的參考書。

書籍目錄

第1章 緒 論　1.1 故障、診斷與測(cè)試性的基本概念　　1.1.1 故障及其后果　　1.1.2 故障診斷　　1.1.3 測(cè)試性和機(jī)內(nèi)測(cè)試　　1.1.4 綜合診斷　1.2 測(cè)試性及診斷技術(shù)的發(fā)展　　1.2.1 由外部測(cè)試到機(jī)內(nèi)測(cè)試　　1.2.2 測(cè)試性成為一門獨(dú)立的學(xué)科　　1.2.3 綜合診斷、人工智能及cAD的應(yīng)用　　1.2.4 國(guó)內(nèi)測(cè)試性發(fā)展現(xiàn)狀　1.3 測(cè)試性／BIT對(duì)系統(tǒng)的影響　　1.3.1 對(duì)維修性的影響　　1.3.2 對(duì)可靠性的影響　　1.3.3 對(duì)可用性和戰(zhàn)備完好性的影響　　1.3.4 對(duì)壽命周期費(fèi)用的影響　　1.3.5 測(cè)試性／BIT影響分析實(shí)例　1.4 常用測(cè)試性與診斷術(shù)語(yǔ)　習(xí)題第2章 測(cè)試性和診斷參數(shù)　2.1 概述　2.2 參數(shù)定義及說(shuō)明　　2.2.1 故障檢測(cè)率　　2.2.2 關(guān)鍵故障檢測(cè)率　　2.2.3 故障隔離率　　2.2.4 虛警率　　2.2.5 故障檢測(cè)時(shí)間　　2.2.6 故障隔離時(shí)間　　2.2.7 系統(tǒng)的故障檢測(cè)率和隔離率　　2.2.8 不能復(fù)現(xiàn)率　　2.2.9 臺(tái)檢可工作率　　2.2.10 重測(cè)合格率　　2.2.11 誤拆率　　2.2.12 BIT／ETE可靠性　　2.2.13 BIT／ETE維修性　　2.2.14 BIT／ETE平均有效運(yùn)行時(shí)間　　2.2.15 虛警與(2ND及RTOK的關(guān)系　習(xí)題第3章 測(cè)試性設(shè)計(jì)與管理工作概述　3.1 測(cè)試性工作項(xiàng)目及說(shuō)明　　3.1.1 測(cè)試性工作項(xiàng)目　　3.1.2 測(cè)試性工作項(xiàng)目說(shuō)明　　3.1.3 測(cè)試性與其他專業(yè)工程的接口　3.2 系統(tǒng)各研制階段的測(cè)試性工作　　3.2.1 要求和指標(biāo)論證階段　　　　3.2.2 方案論證和確認(rèn)階段　　3.2.3 工程研制階段　　3.2.4 生產(chǎn)階段和使用階段　3.3 測(cè)試性設(shè)計(jì)的目標(biāo)和內(nèi)容　　3.3.1 設(shè)計(jì)目標(biāo)　　3.3.2 設(shè)計(jì)內(nèi)容　3.4 測(cè)試性設(shè)計(jì)工作流程　　3.4.1 各研制階段測(cè)試性工作流程　　3.4.2 與系統(tǒng)功能和特性設(shè)計(jì)并行的測(cè)試性設(shè)計(jì)流程　　3.4.3 多級(jí)測(cè)試性設(shè)計(jì)流程　　3.4.4 UUT測(cè)試性與診斷設(shè)計(jì)流程　3.5 測(cè)試性設(shè)計(jì)工作的評(píng)價(jià)與度量　　3.5.1 測(cè)試性設(shè)計(jì)分析報(bào)告　　3.5.2 測(cè)試性與診斷有效性評(píng)價(jià)　　3.5.3 產(chǎn)品對(duì)使用要求的符合性評(píng)價(jià)　習(xí)題第4章 測(cè)試性與診斷要求　4.1 概述　4.2 確定測(cè)試性與診斷要求依據(jù)分析　　4.2.1 任務(wù)要求分析　　4.2.2 系統(tǒng)構(gòu)成特性分析　　4.2.3 使用和保障要求分析　　4.2.4 可利用新技術(shù)分析　4.3 測(cè)試性與診斷要求的內(nèi)容　　4.3.1 嵌入式診斷要求　　4.3.2 外部診斷要求　　4.3.3 測(cè)試性與診斷定性要求　　4.3.4 測(cè)試性與診斷定量要求　4.4 系統(tǒng)與產(chǎn)品的測(cè)試性要求　　4.4.1 系統(tǒng)測(cè)試性要求　　4.4.2 產(chǎn)品測(cè)試性要求　4.5 確定測(cè)試性指標(biāo)的程序和方法　　4.5.1 確定測(cè)試性要求的程序　　4.5.2 測(cè)試性參數(shù)的選擇　　　　4.5.3 測(cè)試性與可靠性、維修性之間的權(quán)衡分析　　4.5.4 用類比法確定測(cè)試性指標(biāo)　　4.5.5 初定指標(biāo)的分析檢驗(yàn)　4.6 診斷指示正確性和BIT影響分析　　4.6.1 BIT對(duì)可靠性影響分析　　4.6.2 BIT對(duì)維修性影響分析　　4.6.3 診斷指示正確性分析　4.7 測(cè)試性／診斷規(guī)范示例　　4.7.1 初步系統(tǒng)測(cè)試性規(guī)范　　4.7.2 系統(tǒng)測(cè)試性規(guī)范　　4.7.3 CI測(cè)試性研制規(guī)范　習(xí)題第5章 故障診斷方案第6章 測(cè)試性與診斷要求分配第7章 固有測(cè)試性設(shè)計(jì)與評(píng)價(jià)第8章 測(cè)試點(diǎn)與診斷策略第9章 測(cè)試性／BIT設(shè)計(jì)技術(shù)第10章 BIT虛警問(wèn)題及降低虛警率方法第11章 系統(tǒng)測(cè)試性與診斷的外部接口第12章 測(cè)試性預(yù)計(jì)第13章 測(cè)試性驗(yàn)證與評(píng)價(jià)附錄常用英文縮略語(yǔ)參考文獻(xiàn)

章節(jié)摘錄

插圖：2.故障影響后果各種故障，不管它屬于哪一類，只要存在就終究會(huì)產(chǎn)生程度不同的影響，帶來(lái)不良后果。這也正是人們重視故障，并力爭(zhēng)消除故障的原因。故障的影響可大可小，其范圍包括從檢測(cè)、修理或更換故障器件所花費(fèi)用，直到損壞設(shè)備和危及人員安全等。故障的影響后果決定了故障檢測(cè)、診斷和維修工作的優(yōu)先順序，以及要不要改進(jìn)設(shè)計(jì)來(lái)防止該故障的發(fā)生。一般說(shuō)來(lái)，系統(tǒng)或設(shè)備越復(fù)雜，故障率越高，故障模式也越多。不管故障模式、類型有多少，所有的故障后果都可以歸納為以下四類。（1）安全性后果發(fā)生故障會(huì)對(duì)設(shè)備使用安全性有直接不利的影響，其后果可能會(huì)引起人身傷害，甚至機(jī)毀人亡。安全性后果除來(lái)源于對(duì)使用安全有直接影響的功能喪失外，還可能來(lái)自因某種功能喪失所造成的繼發(fā)性二次損傷。（2）使用性后果這是故障對(duì)設(shè)備使用能力有直接不利影響的故障后果。它包括間接的經(jīng)濟(jì)損失（如原工作進(jìn)度的拖延、停工等造成的損失）和直接的修理費(fèi)用。所以，每當(dāng)因排除故障而打斷計(jì)劃好的設(shè)備正常運(yùn)行時(shí)，則該故障就是有使用性后果的。（3）非使用性后果故障對(duì)設(shè)備的使用能力沒(méi)有直接不利的影響，只影響直接的修理費(fèi)用（經(jīng)濟(jì)性后果）。例如，配有多余度領(lǐng)航系統(tǒng)的飛機(jī)，一個(gè)領(lǐng)航裝置出了故障，另外的領(lǐng)航裝置保證所要求功能的可用性，仍可完成領(lǐng)航任務(wù)。因此在這種情況下，確定潛在故障的目的就是盡可能防止發(fā)生功能故障，把故障后果降低到只有非使用性后果的程度。（4）隱患性后果有些故障沒(méi)有直接的不利影響，但是增加了發(fā)生多重故障的可能性，隱含著可能產(chǎn)生直接的不利影響，屬于隱蔽功能項(xiàng)目的故障后果。所謂隱蔽功能就是其故障時(shí)對(duì)于在履行正常職責(zé)的使用者來(lái)說(shuō)是不明顯的功能。如火警探測(cè)系統(tǒng)，平時(shí)是工作著的；而它的傳感器功能是隱蔽的，若出了故障也是隱蔽的。當(dāng)有火情時(shí)，如果因傳感器故障而未報(bào)警就會(huì)導(dǎo)致嚴(yán)重后果。再如滅火系統(tǒng)，平時(shí)是不工作的，沒(méi)有火警不需要滅火時(shí)也表現(xiàn)不出它的功能。如果這些隱蔽功能故障沒(méi)有及時(shí)發(fā)現(xiàn)和排除，最終就可能造成嚴(yán)重的后果。所有的故障后果都是系統(tǒng)或設(shè)備的設(shè)計(jì)特性所決定的，而且也只有從設(shè)計(jì)上采取改進(jìn)措施才能改變故障后果。例如，安全性后果可能運(yùn)用余度技術(shù)而降低為經(jīng)濟(jì)性后果；隱蔽功能可以通過(guò)配用自檢裝置或其他設(shè)計(jì)方法變成明顯功能，從而改變其隱蔽性后果。此外，故障的檢測(cè)和診斷也與系統(tǒng)和設(shè)備的設(shè)計(jì)特性密切相關(guān)。如果設(shè)計(jì)時(shí)考慮到了故障檢測(cè)與診斷的要求，設(shè)計(jì)了必要的自檢測(cè)功能和與外部測(cè)試設(shè)備的接口等，為測(cè)試提供最大的方便，則檢測(cè)與診斷故障就很容易進(jìn)行；否則診斷故障將會(huì)是很難的，特別是對(duì)于復(fù)雜的電子系統(tǒng)和設(shè)備更是如此。在設(shè)計(jì)過(guò)程中，如何考慮具有不同影響后果的故障，如何為檢測(cè)和診斷故障提供最大的方便，從而提高測(cè)試性水平，是將要論述的中心內(nèi)容。

編輯推薦

《系統(tǒng)測(cè)試性設(shè)計(jì)分析與驗(yàn)證》：高等學(xué)校通用教材。

圖書封面

圖書標(biāo)簽Tags

無(wú)

評(píng)論、評(píng)分、閱讀與下載

---

    系統(tǒng)測(cè)試性設(shè)計(jì)分析與驗(yàn)證 PDF格式下載

---