近代物理實(shí)驗(yàn)

內(nèi)容概要

本書是在上海大學(xué)“近代物理實(shí)驗(yàn)”系列課程實(shí)驗(yàn)教學(xué)實(shí)踐的基礎(chǔ)上編寫而成的，包括基于Newport光學(xué)組合儀的光學(xué)及光纖光學(xué)實(shí)驗(yàn)和基于德國萊寶教具公司教學(xué)儀器的綜合實(shí)驗(yàn)，內(nèi)容涉及原子分子物理、光學(xué)、薄膜制備與測試技術(shù)、微波與微弱信號(hào)測量技術(shù)、核探測技術(shù)等領(lǐng)域，共31個(gè)實(shí)驗(yàn)。著重闡述了每個(gè)實(shí)驗(yàn)的實(shí)驗(yàn)原理、方法和相關(guān)的背景知識(shí)，詳細(xì)介紹了每個(gè)實(shí)驗(yàn)的實(shí)驗(yàn)裝置和主要實(shí)驗(yàn)任務(wù)及要求。    本書適合作為高等學(xué)校理工科本科生和研究生的經(jīng)典物理實(shí)驗(yàn)課程的教材或教學(xué)參考書，也可供其他專業(yè)和社會(huì)讀者閱讀和參考。

書籍目錄

單元一 誤差理論與數(shù)據(jù)分析　一、測量誤差　二、隨機(jī)變量的概率分布　三、隨機(jī)誤差的統(tǒng)計(jì)分析　四、不確定度　五、數(shù)據(jù)處理——最小二乘法擬合單元二 基于Newport光學(xué)組合儀的光學(xué)及光纖光學(xué)實(shí)驗(yàn)　光纖基礎(chǔ)知識(shí)與光學(xué)組合儀簡介　實(shí)驗(yàn)一 光纖的操作與光纖數(shù)值孔徑測量　實(shí)驗(yàn)二 半導(dǎo)體光源與光纖耦合　實(shí)驗(yàn)三 半導(dǎo)體激光器特性測量　實(shí)驗(yàn)四 光纖位移傳感器　實(shí)驗(yàn)五 干涉式位移傳感器單元三 基于萊寶教具公司教學(xué)儀器的綜合實(shí)驗(yàn)　實(shí)驗(yàn)六 X射線衍射　實(shí)驗(yàn)七 X射線吸收　實(shí)驗(yàn)八 X射線電離劑量率　實(shí)驗(yàn)九 樸克爾斯效應(yīng)　實(shí)驗(yàn)十 樸克爾斯效應(yīng)應(yīng)用——音頻信號(hào)傳輸　實(shí)驗(yàn)十一 克爾效應(yīng)　實(shí)驗(yàn)十二 法拉第效應(yīng)單元四 光譜儀器的基本原理和光譜測量　光譜儀器的基本原理　實(shí)驗(yàn)十三 氫原子光譜與里德堡常數(shù)　實(shí)驗(yàn)十四 氫氘同位素位移　實(shí)驗(yàn)十五 拉曼散射光譜　實(shí)驗(yàn)十六 塞曼效應(yīng)　實(shí)驗(yàn)十七 核磁共振的穩(wěn)態(tài)吸收單元五 激光全息和光信息處理　實(shí)驗(yàn)十八 光全息攝影　實(shí)驗(yàn)十九 光全息干涉計(jì)量　實(shí)驗(yàn)二十 彩虹全息　實(shí)驗(yàn)二十一 阿貝成像原理和空間濾波單元六 微波與微弱信號(hào)測量技術(shù)　微波技術(shù)基礎(chǔ)知識(shí)　實(shí)驗(yàn)二十二 微波基本參量和傳輸特性　實(shí)驗(yàn)二十三 介電常數(shù)波導(dǎo)法測量　微弱信號(hào)檢測技術(shù)基礎(chǔ)知識(shí)　實(shí)驗(yàn)二十四 相關(guān)器原理和基本參數(shù)　實(shí)驗(yàn)二十五 鎖相放大器原理和應(yīng)用單元七 核物理技術(shù)應(yīng)用　核物理實(shí)驗(yàn)基礎(chǔ)知識(shí)　實(shí)驗(yàn)二十六 半導(dǎo)體a譜儀　實(shí)驗(yàn)二十七 相對(duì)論效應(yīng)　實(shí)驗(yàn)二十八 正電子湮沒壽命譜測量單元八 薄膜制備與低溫制冷技術(shù)　實(shí)驗(yàn)二十 九真空鍍膜　實(shí)驗(yàn)三十 薄膜厚度和折射率的橢圓偏振法測量　實(shí)驗(yàn)三十一 小型制冷裝置制冷量和制冷系數(shù)的測量

章節(jié)摘錄

　　單元一　誤差理論與數(shù)據(jù)分析　　物理學(xué)是一門實(shí)驗(yàn)的科學(xué)，物理規(guī)律的認(rèn)識(shí)和證實(shí)都是通過觀察物理現(xiàn)象、定量測量有關(guān)的物理量，并根據(jù)測量結(jié)果分析這些物理量之間的關(guān)系而實(shí)現(xiàn)的。由于各種因素的影響，使得測量值總是或多或少偏離真值，即存在誤差。由于測量中總有誤差，因此對(duì)一個(gè)物理量的測量，不僅在實(shí)驗(yàn)之后對(duì)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)處理時(shí)需要關(guān)于誤差的知識(shí)，而且在實(shí)驗(yàn)的設(shè)計(jì)（實(shí)驗(yàn)方法和儀器選取等）以及在實(shí)驗(yàn)過程中對(duì)實(shí)驗(yàn)條件和環(huán)境的控制和監(jiān)測都需要誤差的知識(shí)，才能使得測量結(jié)果更接近真值。在近代物理實(shí)驗(yàn)中，通常要用到比較綜合的實(shí)驗(yàn)技術(shù)和復(fù)雜的實(shí)驗(yàn)設(shè)備，需要掌握誤差理論，才能理解好實(shí)驗(yàn)沒計(jì)，有效地進(jìn)行實(shí)驗(yàn)測量和數(shù)據(jù)處理，并對(duì)測量結(jié)果的可靠程度作出正確的評(píng)價(jià)和分析。

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