雷達目標散射特性測試與成像診斷

出版時間:2009-7  出版社:中國宇航出版社  作者:張麟兮 等編著  頁數(shù):255  

內(nèi)容概要

本書的主要內(nèi)容包括RCS測試及一維、二維、三維微波成像診斷兩大部分。描述了隱身目標診斷的含義,以及所采取的技術路線;介紹了室內(nèi)步進頻率RCS測試系統(tǒng)、測試方法和一些關鍵技術,以及高分辨率一維距離像的獲?。恢赜懻摿嗽诓粷M足遠場條件下獲得準確有效RCS的外推算法;分析了應用轉(zhuǎn)臺模型進行高分辨二維成像診斷的方法;利用相干孔徑合成法提取了散射點高度信息,完成了一定意義上的三維成像診斷;采用取樣架進行合成孔徑處理,實現(xiàn)了真正意義上的三維成像診斷。每一章均根據(jù)不同的方法給出了診斷實例。    本書對于雷達、電磁場與微波技術、微波成像、微波測量、隱身及反隱身技術、軍用目標特性等領域的科學研究人員、工程技術人員、高校教師和研究生等,具有較好的參考價值。

書籍目錄

第1章 緒論  1.1 雷達目標散射診斷的應用背景  1.2 診斷依據(jù)及關鍵指標   1.2.1 多散射中心模型   1.2.2 關鍵指標 1.3 目前采用的方法第2章 步進頻率RCS測試系統(tǒng)及測試方法 2.1 RCS測試系統(tǒng)簡介 2.2 矩形暗室的設計   2.2.1 暗室結(jié)構(gòu)設計   2.2.2 吸波材料的選取 2.3 步進頻率RCS測試系統(tǒng) 2.4 測試方法   2.4.1 測試參數(shù)設置   2.4.2 測試步驟 2.5 測試中的關鍵問題    2.5.1 遠場條件    2.5.2 測試環(huán)境分析    2.5.3 對消技術    2.5.4 測試中的信號處理技術    2.5.5 時域門的選取    2.5.6 定標    2.5.7 最大不模糊距離及降采樣    2.5.8 測試精度   2.5.9 低頻段測試技術   2.5.10 全極化測試及校準技術 2.6 實測數(shù)據(jù)分析   2.6.1 縮比模型1   2.6.2 縮比模型2 參考文獻第3章 基于中場區(qū)測試的RCS外推技術 3.1 遠場條件的定義    3.1.1 外場靜態(tài)測試    3.1.2 室內(nèi)緊縮場測量 3.2 中場區(qū)的定義 3.3  中場散射外推算法1——等效口徑二次輻射算法    3.3.1 加權(quán)FFT外推算法    3.3.2 卷積外推算法    3.3.3 加權(quán)FFT算法與卷積外推算法的關系與比較 3.4  中場散射外推算法2——基于合成孔徑成像的RCS外推技術    3.4.1 基于合成孔徑成像的RCS外推技術原理    3.4.2 基于合成孔徑成像的RCS外推技術的仿真與實驗 3.5 等效口徑二次輻射與基于成像外推技術的特點比較 參考文獻第4章 高分辨率轉(zhuǎn)臺二維成像 4.1 轉(zhuǎn)臺二維成像模型 4.2 成像處理算法    4.2.1 距離一多普勒(R—D)算法    4.2.2 卷積一反投影(B—P)算法    4.2.3 兩種算法的比較 4.3 成像參數(shù)選取 ……第5章 INSAR/INISAR成像診斷第6章 散射特性近場成像測試參考文獻

章節(jié)摘錄

  第2章 步進頻率RCS測試系統(tǒng)及測試方法  本章介紹一些典型的RCS測試系統(tǒng),著重分析以高性能矩形微波暗室和高分辨步進頻率信號相結(jié)合的測量系統(tǒng),提出一些新穎的測試技術及數(shù)據(jù)處理方法,最后給出高精度的測試數(shù)據(jù)及診斷實例?! ?.1 RCS測試系統(tǒng)簡介  隨著微波測試儀器日新月異的進步,國外雷達截面測試技術已發(fā)展到了一個相當高的技術水平。除了常規(guī)的室內(nèi)、室外RCS測量以外,利用拋物面緊縮場進行縮距測量,利用距離波門的時間分離法和角度濾波的空間分離法提高信噪比,利用極窄脈沖高分辨系統(tǒng)和逆合成孔徑技術進行目標散射點識別的二維和三維成像測量,以及利用時域測量系統(tǒng)測試目標的瞬態(tài)響應等先進測試技術,均已發(fā)展到相當成熟的階段,測量誤差可小于1dB,而且正在向更高的測試精度和更完善的測試功能發(fā)展?!  ?/pre>

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用戶評論 (總計2條)

 
 

  •   這本書還不錯,對學習有幫助。
  •   包裝精美,敘述簡練,實踐結(jié)果豐富,可惜重要章節(jié)深度不夠。
 

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