近代分析測(cè)試技術(shù)

出版時(shí)間:2009-6  出版社:北京理工大學(xué)出版社  作者:李占雙,景曉燕,王君  頁數(shù):348  

內(nèi)容概要

  本書是國(guó)防特色教材,是根據(jù)哈爾濱工程大學(xué)應(yīng)用化學(xué)、化學(xué)工程、化學(xué)工藝專業(yè)碩士研究生的近代分析測(cè)試技術(shù)教學(xué)大綱編寫的。全書共14章,內(nèi)容包括:熱分析、x射線衍射分析、透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、其他顯微分析、色譜分析、光譜分析、核磁共振波譜、質(zhì)譜分析等分析技術(shù)。并對(duì)各種分析技術(shù)的基本原理,儀器結(jié)構(gòu),分析測(cè)試方法及應(yīng)用作了介紹?!  ”緯勺鳛槔砉た拼髮W(xué),師范院?;瘜W(xué)化工專業(yè)及相關(guān)專業(yè)的本科生、碩士研究生教材和教學(xué)參考書,也可供有關(guān)的科技及分析工作者參考。

書籍目錄

第1章  熱分析技術(shù)1.1  概述1.2  熱重法1.3  差熱分析及差示掃描量熱分析1.4 DTA(DSC)及了G的應(yīng)用思考題一第2章  x射線衍射分析2.1  X射線的產(chǎn)生及其性質(zhì)2.2  X射線衍射原理2.3  X射線衍射儀2.4  粉末圖的測(cè)定2.5  晶體大小對(duì)粉末圖的影響一一顆粒大小測(cè)量2.6  應(yīng)力對(duì)粉末圖的影響2.7  晶體對(duì)稱性和多重性對(duì)粉末圖的影響2.8  粉末圖是晶體的“指紋”思考題第3章  透射電子顯微鏡3.1  光學(xué)顯微鏡的局限性3.2  電子透鏡的光學(xué)特性3.3  透射電鏡的構(gòu)造3.4試樣的制備思考題第4章  掃描電子顯微鏡4.1  基本原理及結(jié)構(gòu)4.2  各種信息的檢測(cè)4.3  信息與圖像第5章  掃描隧道顯微鏡和原子力顯微鏡第6章  其他顯微鏡分析方法簡(jiǎn)介第7章  氣相色譜法第8章  高效液相色譜分析第9章  原子發(fā)射光譜分析第10章  原子吸收光譜分析第11章  紫外吸收光譜法

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