可靠性與可測性分析設(shè)計(jì)

內(nèi)容概要

內(nèi) 容 提 要
本書對系統(tǒng)與數(shù)字電路的可靠性和可測性作了完整的敘述及討論。書
中很多部分是作者多年科學(xué)研究和教學(xué)實(shí)踐的結(jié)果。全書共八章。第一、二
章介紹可靠性與可測性的一些基礎(chǔ)知識和基本概念。第三、四章討論系統(tǒng)
的可靠性分析及其設(shè)計(jì)，并介紹了人對系統(tǒng)可靠性的影響。第五、六、七
章分別討論了數(shù)字電路的測試及其可測性分析設(shè)計(jì)，重點(diǎn)介紹了概率可測
性分析和結(jié)構(gòu)可測性設(shè)計(jì)。第八章介紹了可維性設(shè)計(jì)，主要敘述了失效率
與修復(fù)率的分配。
本書對電子、系統(tǒng)工程、自動控制、動力、通信及信息等學(xué)科領(lǐng)域有
關(guān)的高年級大學(xué)生、研究生和工程技術(shù)人員是一本有益的參考書。

作者簡介

作者簡介
丁瑾，1964年11月，出
生于安徽省懷寧縣，1986年
7月畢業(yè)地合肥工業(yè)大學(xué)，
獲學(xué)士學(xué)位，1992年6月在
莫斯科動力學(xué)院獲博士學(xué)位
，1995年2月在北京郵電
大學(xué)博士后出站?，F(xiàn)為北京
郵電大學(xué)電信系副教授，中
國電了學(xué)會高級會員。現(xiàn)已
完成部級以上科研項(xiàng)目六
項(xiàng)，以第一作者身份發(fā)表的
學(xué)術(shù)論文五十余篇。主要研
究興趣是電路、系統(tǒng)和通信
網(wǎng)絡(luò)的可靠性和可測性分析
設(shè)計(jì)，通信系統(tǒng)的性能評估，
模糊神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)在系統(tǒng)和網(wǎng)絡(luò)
性能分析中的應(yīng)用等。

書籍目錄

目 錄
第一章 基礎(chǔ)知識
1.1概率基礎(chǔ)
1.1.1事件
1.1.2事件的頻率與概率
1.1.3排列與組合
1.1.4非獨(dú)立事件與條件概率
1.2布爾代數(shù)的基本定律
1.3隨機(jī)變量及其數(shù)字特征
1.3.1隨機(jī)變量
1.3.2隨機(jī)變量分布及密度函數(shù)
1.3.3隨機(jī)變量的數(shù)學(xué)期望及方差
第二章 基本概念
2.1可靠性、可測性研究的必要性
2.1.1研究的背景
2.1.2研究的意義
2.1.3研究的內(nèi)容及方法
2.2可靠性函數(shù)
2.2.1可靠度函數(shù)
2.2.2失效密度函數(shù)
2.2.3失效率函數(shù)
2.2.4平均壽命
2.3有效性函數(shù)
2.3.1維修性函數(shù)
2.3.2修復(fù)率函數(shù)
2.3.3瞬態(tài)和穩(wěn)態(tài)有效度
2.3.4小結(jié)
2.4可靠性常用的分布
2.4.1二項(xiàng)分布
2.4.2幾何分布
2.4.3泊松分布
2.4.4負(fù)指數(shù)分布及其性質(zhì)
2.4.5正態(tài)分布
2.4.6伽瑪分布（Γ分布）
2.4.7對數(shù)正態(tài)分布
2.4.8威布爾分布
2.4.9小結(jié)
2.5數(shù)字電路的故障
2.5.1失效與故障
2.5.2故障模型
2.5.3暫時(shí)故障
2.6測試的基本概念
2.6.1激勵與響應(yīng)
2.6.2測試集
2.6.3故障檢測與診斷
2.6.4故障覆蓋
第三章 系統(tǒng)的可靠性分析
3.1不可修系統(tǒng)
3.1.1串、并聯(lián)系統(tǒng)
3.1.2復(fù)合系統(tǒng)
3.1.3表決系統(tǒng)
3.1.4旁待系統(tǒng)
3.2網(wǎng)絡(luò)分解法
3.2.1二項(xiàng)式展開法
3.2.2狀態(tài)枚舉法
3.2.3網(wǎng)絡(luò)分解法
3.2.4最小路集、割集法
3.3故障樹分析法
3.3.1基本概念
3.3.2故障樹的建立
3.3.3故障樹的最小割集
3.3.4故障樹的計(jì)算
3.4模糊分析法
3.4.1模糊可靠性模型
3.4.2串、并聯(lián)系統(tǒng)模糊可靠度
3.5馬爾柯夫模型法
3.5.1可修串聯(lián)系統(tǒng)
3.5.2可修并聯(lián)系統(tǒng)
3.5.3可修表決系統(tǒng)
3.5.4可修備用系統(tǒng)
3.6半馬爾柯夫模型法
3.6.1更新過程
3.6.2補(bǔ)充狀態(tài)法
3.7非拉普拉斯變換法
3.7.1引言
3.7.2數(shù)學(xué)模型
3.7.3實(shí)例分析
第四章 系統(tǒng)的可靠性設(shè)計(jì)
4.1輕裝設(shè)計(jì)
4.2冗余設(shè)計(jì)
4.3優(yōu)化組合設(shè)計(jì)
4.3.1雙工系統(tǒng)的優(yōu)化組合設(shè)計(jì)
4.3.2混合冗余系統(tǒng)的優(yōu)化組合設(shè)計(jì)
4.3.3表決冗余系統(tǒng)的優(yōu)化組合設(shè)計(jì)
4.4含約束的優(yōu)化設(shè)計(jì)
4.4.1重要度方法
4.4.2動態(tài)規(guī)劃法
4.4.3搜索法
4.5含人的因素的可靠性設(shè)計(jì)
4.5.1人為差錯
4.5.2人的可靠性
4.5.3有人參與系統(tǒng)的可靠性設(shè)計(jì)
第五章 測試碼的產(chǎn)生
5.1故障模擬法
5.1.1并行故障模擬
5.1.2演繹故障模擬
5.1.3同時(shí)故障模擬
5.1.4臨界路徑跟蹤
5.2一維通路敏化法
5.2.1故障激活
5.2.2正向驅(qū)動
5.2.3反向跟蹤
5.3布爾差分法
5.3.1布爾差分法的定義
5.3.2布爾差分的性質(zhì)
5.3.3實(shí)例分析
5.4D算法
5.4.1基本定義
5.4.2算法描述
5.4.3實(shí)例分析
5.5PODEM算法
5.5.1基本原理
5.5.2算法流程
5.5.3實(shí)例分析
5.6FAN算法
5.6.1基本原理
5.6.2算法流程
5.6.3應(yīng)用實(shí)例
5.710值算法
5.7.1基本思想
5.7.2算法步驟
5.7.3實(shí)例分析
5.8時(shí)序電路的測試序列生成
5.8.1時(shí)序電路的模型
5.8.2時(shí)序電路展開測試法
5.8.3時(shí)序電路功能測試法
5.9概率測試
5.9.1輸入概率優(yōu)化
5.9.2數(shù)據(jù)壓縮方法
第六章 可測性分析
6.1引言
6.1.1基本定義
6.1.2可測性分析的應(yīng)用
6.1.3可測性分析算法分類
6.2CAMELOT算法
6.2.1可控制性值的確定
6.2.2可觀察性值的確定
6.2.3可測性值的確定
6.2.4應(yīng)用實(shí)例
6.3TMEAS算法
6.3.1可控制性值計(jì)算的特點(diǎn)
6.3.2可觀察性值計(jì)算的特點(diǎn)
6.3.3算法的局限性
6.4 TEST/80算法
6.4.1可控制性值的計(jì)算
6.4.2可觀察性值的計(jì)算
6.4.3算法步驟
6.4.4算法的局限性
6.5SCOAP算法
6.5.1可控制性值的估計(jì)
6.5.2可觀察性值的估計(jì)
6.5.3算法描述
6.5.4實(shí)例分析
6.6PREDICT算法
6.6.1超級門的概念
6.6.2控制率的計(jì)算
6.6.3觀察率的計(jì)算
6.6.4測試率的計(jì)算
6.6.5實(shí)驗(yàn)結(jié)果
6.7STAFAN算法
6.7.1基本理論
6.7.2控制率的統(tǒng)計(jì)估計(jì)
6.7.3觀察率的計(jì)算
6.7.4無偏差故障測試率的估計(jì)
6.7.5STAFAN算法的復(fù)雜性
6.7.6實(shí)驗(yàn)結(jié)果
6.8AVEVAL算法
6.8.1引言
6.8.2控制率誤差的消除
6.8.3扇出點(diǎn)觀察率的計(jì)算
6.8.4故障測試率的估計(jì)
6.8.5實(shí)例分析
第七章 可測性設(shè)計(jì)
7.1引言
7.1.1可測性設(shè)計(jì)的意義
7.1.2可測性設(shè)計(jì)目標(biāo)
7.1.3可測性設(shè)計(jì)思想
7.1.4可測性設(shè)計(jì)歷史
7.2可測性設(shè)計(jì)規(guī)則
7.2.1利于測試矢量產(chǎn)生的設(shè)計(jì)規(guī)則
7.2.2利于測試矢量施加的設(shè)計(jì)規(guī)則
7.3組合電路的可測性設(shè)計(jì)
7.3.1組合功能設(shè)計(jì)法
7.3.2Syndrome設(shè)計(jì)法
7.3.3修改電路設(shè)計(jì)法
7.4時(shí)序電路的可測性設(shè)計(jì)
7.4.1區(qū)分序列的判定
7.4.2可測性設(shè)計(jì)
7.5掃描設(shè)計(jì)
7.5.1掃描通路法
7.5.2掃描置位法
7.5.3隨機(jī)存取掃描法
7.5.4電平敏感掃描法
7.6內(nèi)測試設(shè)計(jì)
7.6.1內(nèi)測試一般結(jié)構(gòu)
7.6.2內(nèi)測試掃描設(shè)計(jì)
7.6.3自測試設(shè)計(jì)
7.7PLA的可測性設(shè)計(jì)
7.7.1引言
7.7.2故障模型
7.7.3PLA可測性設(shè)計(jì)
7.8自測試序列的壓縮
7.8.1引言
7.8.2難測故障分布
7.8.3測試長度的估計(jì)
7.8.4壓縮算法
第八章 系統(tǒng)的可維性設(shè)計(jì)
8.1單元瞬態(tài)有效度分配
8.1.1Markov模型的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)
8.1.2神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)實(shí)現(xiàn)
8.1.3模擬結(jié)果
8.2穩(wěn)態(tài)有效度分配
8.2.1串聯(lián)系統(tǒng)
8.2.2并聯(lián)系統(tǒng)
8.2.3表決系統(tǒng)
習(xí)題
參考文獻(xiàn)

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