材料研究與測(cè)試方法實(shí)驗(yàn)

內(nèi)容概要

《材料研究與測(cè)試方法實(shí)驗(yàn)》詳細(xì)介紹了常用的材料分析表征手段，具體內(nèi)容包括13個(gè)實(shí)驗(yàn)：激光衍射法粒度分析、X射線熒光光譜分析、原子吸收光譜分析、電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜分析、微量熱分析、綜合熱分析、X射線衍射定性分析、X射線物相定量分析、原子力顯微鏡圖像分析、掃描電子顯微鏡圖像分析、透射電子顯微鏡圖像分析、紅外光譜分析、激光拉曼光譜分析。本書(shū)分別介紹了各實(shí)驗(yàn)的目的與意義、儀器基本結(jié)構(gòu)與原理、實(shí)驗(yàn)方法與步驟等。
《材料研究與測(cè)試方法實(shí)驗(yàn)》可作為高等學(xué)校材料科學(xué)與工程及相關(guān)專(zhuān)業(yè)的教學(xué)用書(shū)，也可作為從事材料科學(xué)研究的技術(shù)人員的參考書(shū)。

書(shū)籍目錄

實(shí)驗(yàn)一 激光衍射法粒度分析
 一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康呐c意義
 二、儀器基本結(jié)構(gòu)與原理
 三、實(shí)驗(yàn)方法與步驟
 四、分析與討論
 五、測(cè)量結(jié)果的影響因素和誤差來(lái)源
 六、思考題
實(shí)驗(yàn)二 X射線熒光光譜分析
 一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康呐c意義
 二、儀器基本結(jié)構(gòu)與原理
 三、實(shí)驗(yàn)方法與步驟
 四、分析與討論
 五、思考題
實(shí)驗(yàn)三 原子吸收光譜分析
 一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康呐c意義
 二、儀器基本結(jié)構(gòu)與原理
 三、實(shí)驗(yàn)方法與步驟
 四、分析與討論
 五、思考題
 附錄1 原子吸收光譜分析法的特點(diǎn)
 附錄2 火焰原子化器結(jié)構(gòu)圖
實(shí)驗(yàn)四 電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜分析
 一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康呐c意義
 二、儀器基本結(jié)構(gòu)與原理
 三、實(shí)驗(yàn)方法與步驟
 四、分析與討論
 五、思考題
 附錄 感耦等離子體原子發(fā)射光譜儀方法通則JY-T015—1996
實(shí)驗(yàn)五 微量熱分析
 一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康呐c意義
 二、儀器基本結(jié)構(gòu)與原理
 三、實(shí)驗(yàn)方法與步驟
 四、分析與討論
 五、思考題
實(shí)驗(yàn)六 綜合熱分析
 一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康呐c意義
 二、儀器基本結(jié)構(gòu)與原理
 三、實(shí)驗(yàn)方法與步驟
 四、分析與討論
 五、思考題
 附錄 影響綜合熱分析結(jié)果的因素
實(shí)驗(yàn)七 X射線衍射定性分析
 一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康呐c意義
 二、儀器基本結(jié)構(gòu)與原理
 三、實(shí)驗(yàn)方法與步驟
 四、定性相分析的原理與方法
 五、思考題
 附錄1 PDF卡片及其檢索方法
 附錄2 混合物相定性相分析應(yīng)注意的問(wèn)題
實(shí)驗(yàn)八 X射線物相定量分析
 一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康呐c意義
 二、基本原理
 三、實(shí)驗(yàn)方法與步驟
 四、定量分析的實(shí)驗(yàn)技術(shù)
 五、X射線物相定量分析過(guò)程
 六、X射線物相定量分析過(guò)程中應(yīng)注意的問(wèn)題
 七、思考題
實(shí)驗(yàn)九 原子力顯微鏡圖像分析
 一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康呐c意義
 二、儀器基本結(jié)構(gòu)與原理
 三、實(shí)驗(yàn)方法與步驟
 四、分析與討論
 五、思考題
實(shí)驗(yàn)十 掃描電子顯微鏡圖像分析
 一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康呐c意義
 二、掃描電鏡實(shí)驗(yàn)內(nèi)容
 三、掃描電鏡的發(fā)展簡(jiǎn)介及其在材料研究中的作用
 四、儀器基本結(jié)構(gòu)與原理
 五、掃描電鏡樣品制備
 六、實(shí)驗(yàn)方法與步驟
 七、掃描電鏡的圖像分析
 八、思考題
實(shí)驗(yàn)十一 透射電子顯微鏡圖像分析
 一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康呐c意義
 二、儀器基本結(jié)構(gòu)與原理
 三、實(shí)驗(yàn)方法與步驟
 四、分析與討論
 五、思考題
實(shí)驗(yàn)十二 紅外光譜分析
 一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康呐c意義
 二、儀器基本結(jié)構(gòu)與原理
 三、實(shí)驗(yàn)方法與步驟
 四、分析與討論
 五、思考題
實(shí)驗(yàn)十三 激光拉曼光譜
 一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康呐c意義
 二、儀器基本結(jié)構(gòu)與原理
 三、實(shí)驗(yàn)方法與步驟
 四、分析與討論
 五、思考題
 參考文獻(xiàn)

章節(jié)摘錄

版權(quán)頁(yè)：   插圖：   三、實(shí)驗(yàn)方法與步驟 1.樣品制備 在X射線衍射定性分析實(shí)驗(yàn)中，制備符合要求的樣品，是X射線衍射定性分析實(shí)驗(yàn)技術(shù)中重要的一環(huán)。樣品通常制成平板狀。 （1）粉晶樣品的制備 常用的粉末樣品架為玻璃試樣架，在玻璃板上蝕刻出試樣填充區(qū)為20mm×16mm。X射線衍射分析的粉末試樣必須滿(mǎn)足這樣兩個(gè)條件：晶粒要細(xì)小、試樣無(wú)擇優(yōu)取向（取向排列混亂）。其制樣步驟為： ①將被測(cè)試樣在瑪瑙研缽中研磨成細(xì)粉，試樣均能過(guò)250～300目篩。樣品顆粒過(guò)粗，將導(dǎo)致樣品顆粒中能夠產(chǎn)生衍射的晶面減少，從而使衍射強(qiáng)度減弱，影響檢測(cè)的靈敏度；樣品顆粒過(guò)細(xì)，將會(huì)破壞晶體結(jié)構(gòu)，同樣會(huì)影響實(shí)驗(yàn)結(jié)果。 ②將適量研磨好的細(xì)粉填人凹槽，并用平整光滑的玻璃板將其壓緊。 ③將槽外或高出樣品板面的多余粉末刮去，重新將樣品壓平，使樣品表面與樣品板面一樣平齊光滑。 （2）塊狀樣品的制備 對(duì)于金屬、陶瓷、玻璃等一些不易研磨成粉末的塊狀樣品，先將塊狀樣品表面研磨拋光，大小不超過(guò)20mm×16mm，然后用橡皮泥將樣品粘在鋁樣品支架上，要求樣品表面與鋁樣品支架表面平齊。對(duì)于片狀、纖維狀或薄膜樣品，也可取窗孔大小直接嵌固在窗孔內(nèi)。固定在窗孔內(nèi)的樣品其平整表面必須與樣品板平齊，并對(duì)著入射x射線的方向。 2.實(shí)驗(yàn)參數(shù)選擇 實(shí)驗(yàn)參數(shù)選擇的原則為：根據(jù)實(shí)驗(yàn)要求，考慮在保證數(shù)據(jù)質(zhì)量的前提下提高效率。 3.測(cè)量方式 （1）定性分析一般采用連續(xù)掃描法。連續(xù)掃描就是讓試樣和探測(cè)器以1：2的角速度做勻速圓周運(yùn)動(dòng)，在轉(zhuǎn)動(dòng)過(guò)程中同時(shí)將探測(cè)器依次接收到的各晶面衍射信號(hào)輸入到記錄系統(tǒng)或數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，從而獲得衍射圖譜。 （2）陽(yáng)極靶的選擇。選擇陽(yáng)極靶的基本要求為：盡可能避免靶材產(chǎn)生的特征X射線激發(fā)樣品的熒光輻射，以降低衍射花樣的背底，使圖樣清晰。 （3）狹縫的選擇。狹縫的大小決定了光束的強(qiáng)度和分辨率，大狹縫可得到較大的衍射強(qiáng)度，但降低分辨率；小狹縫可提高分辨率，但損失強(qiáng)度。 ①發(fā)散狹縫（DS）。發(fā)散狹縫決定了x射線水平方向的發(fā)散角，限制試樣被x射線照射的面積。如果使用較寬的發(fā)射狹縫，x射線強(qiáng)度增加，但在低角度處入射x射、線超出試樣范圍，照射到邊上的試樣架，出現(xiàn)試樣架物質(zhì)的衍射峰或漫散射峰，對(duì)定量相分析帶來(lái)不利的影響。因此有必要按測(cè)定目的選擇合適的發(fā)散狹縫寬度。

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