電子設(shè)備系統(tǒng)可靠性設(shè)計(jì)與試驗(yàn)技術(shù)指南

內(nèi)容概要

　　《電子設(shè)備系統(tǒng)可靠性設(shè)計(jì)與試驗(yàn)技術(shù)指南》(簡(jiǎn)稱《指南》)是設(shè)備系統(tǒng)可靠性設(shè)計(jì)與試驗(yàn)技術(shù)專著。由盧昆祥等編著的《電子設(shè)備系統(tǒng)可靠性設(shè)計(jì)與試驗(yàn)技術(shù)指南》介紹了設(shè)備系統(tǒng)可靠性設(shè)計(jì)的方法與程序，可靠性試驗(yàn)的理論和方法。《指南》包括4篇24章，內(nèi)容有可靠性工程介紹與設(shè)備的可靠性指標(biāo)的種類和計(jì)算方法；設(shè)備系統(tǒng)的總體可靠性設(shè)計(jì)，如指標(biāo)論證與確定、可靠性預(yù)計(jì)、分配方法等；可靠性設(shè)計(jì)各項(xiàng)設(shè)計(jì)技術(shù)。如降額、冗余、耐環(huán)境、電磁兼容、FMECA、FTA等設(shè)計(jì)技術(shù)；設(shè)備系統(tǒng)可靠性試驗(yàn)，包括基本理論、統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)方案、一般要求、試驗(yàn)條件的選擇和試驗(yàn)周期的設(shè)計(jì)。現(xiàn)場(chǎng)可靠性試驗(yàn)，可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)，試驗(yàn)技術(shù)與管理等。本《指南》含有大量的實(shí)例和實(shí)踐資料，融合了編著者從事可靠性工作20多年的經(jīng)驗(yàn)和體會(huì)。內(nèi)容全面，系統(tǒng)性強(qiáng)，理論聯(lián)系實(shí)際，概念清楚，深入淺出，操作性強(qiáng)，通俗易懂。本《指南》的讀者對(duì)象是從事設(shè)備可靠性設(shè)計(jì)、試驗(yàn)的工程技術(shù)人員、管理干部和使用方代表?？煽啃栽O(shè)計(jì)的基本理論和方法，也可為電子元器件研制生產(chǎn)單位的設(shè)計(jì)人員和管理干部參考使用，還可供大專院校師生作為參考書(shū)，同時(shí)對(duì)其他與可靠性技術(shù)有關(guān)的科技工作者，也將有所裨益。

書(shū)籍目錄

第1篇　可靠性工程與設(shè)備的可靠性指標(biāo)
　第1章　可靠性工程介紹
　　1.1什么是可靠性工程
　　1.2可靠性工程包括的內(nèi)容
　　1.3什么是電子設(shè)備的可靠性
　　1.4固有可靠性和使用可靠性
　　1.5可靠性增長(zhǎng)
　　1.6可靠性設(shè)計(jì)的主要任務(wù)和基本原則
　第2章　可靠性的概率分布函數(shù)與可靠性的數(shù)量特征(指標(biāo))
　　2.1隨機(jī)變量、分布函數(shù)、分布的參數(shù)
　　2.2可靠性常用的概率分布函數(shù)
　　2.3排列和組合
　　2.4規(guī)定產(chǎn)品可靠性數(shù)量特征(指標(biāo))的意義
　　2.5可靠性的主要數(shù)量特征(指標(biāo))及計(jì)算方法
第2篇　設(shè)備系統(tǒng)的總體可靠性設(shè)計(jì)
　第3章　可靠性指標(biāo)的論證與確定
　　3.1可靠性指標(biāo)的論證
　　3.2確定設(shè)備系統(tǒng)可靠性指標(biāo)的原則與方法
　第4章　可靠性結(jié)構(gòu)模型與數(shù)學(xué)模型
　　4.1建立可靠性模型的條件與原則
　　4.2可靠性結(jié)構(gòu)模型的建立
　　4.3可靠性結(jié)構(gòu)模型與數(shù)學(xué)模型
　第5章　可靠性預(yù)計(jì)
　　5.1可靠性預(yù)計(jì)的作用
　　5.2可靠性預(yù)計(jì)的方法和程序
　　5.3詳細(xì)的元器件應(yīng)力分析預(yù)計(jì)法舉例
　第6章　可靠性指標(biāo)的分配
　　6.1可靠性指標(biāo)分配的作用
　　6.2可靠性分配的基本原則和注意事項(xiàng)
　　6.3可靠性分配方法和程序
　第7章　系統(tǒng)的維修性和安全性設(shè)計(jì)
　　7.1系統(tǒng)的維修性設(shè)計(jì)
　　7.2安全性設(shè)計(jì)的要求和措施
　第8章　可靠性設(shè)計(jì)與人的關(guān)系
　　8.1引言
　　8.2設(shè)計(jì)與生產(chǎn)
　　8.3人的因素理論與人機(jī)工程
　　8.4人的因素與可靠性之間的關(guān)系
　　8.5人一機(jī)分配與可靠性
　　8.6人的差錯(cuò)率的研究與預(yù)測(cè)方法
　　8.7人一機(jī)工程設(shè)計(jì)的一般要求
第3篇　保證設(shè)備系統(tǒng)可靠性的設(shè)計(jì)技術(shù)
　第9章　元器件工程與降額設(shè)計(jì)
　　9.1設(shè)備系統(tǒng)實(shí)施元器件工程的重要性與主要工作內(nèi)容
　　9.2降額設(shè)計(jì)
　　9.3降額設(shè)計(jì)的原則
　　9.4元器件選用準(zhǔn)則及在工程中的應(yīng)用
　第10章　冗余設(shè)計(jì)
　　10.1概述
　　10.2冗余設(shè)計(jì)技術(shù)的分類及功能
　　10.3冗余設(shè)計(jì)技術(shù)介紹
　　10.4冗余系統(tǒng)的選擇
　　10.5使用冗余系統(tǒng)應(yīng)考慮的因素
　第11章　環(huán)境影響及耐環(huán)境設(shè)計(jì)
　　11.1環(huán)境條件對(duì)設(shè)備可靠性的影響
　　11.2熱設(shè)計(jì)技術(shù)
　　11.3防沖擊和振動(dòng)設(shè)計(jì)
　第12章　電磁兼容設(shè)計(jì)
　　12.1電磁兼容概述
　　12.2電磁干擾源及干擾引入方式
　　12.3電磁兼容設(shè)計(jì)的一般要求
　　12.4抑制電磁干擾的一些方法
　　12.5電磁兼容性設(shè)計(jì)技術(shù)
　第13章　其他可靠性設(shè)計(jì)技術(shù)
　　13.1簡(jiǎn)化電路設(shè)計(jì)及減少元器件品種和數(shù)量
　　13.2集成化設(shè)計(jì)
　　13.3采用成熟的新技術(shù)
　　第14章　可靠性分析技術(shù)
　　14.1失效模式、影響及危害度分析
　　14.2失效樹(shù)分析法
　第15章　可靠性設(shè)計(jì)評(píng)審
　　15.1設(shè)計(jì)評(píng)審的作用和目的
　　15.2設(shè)計(jì)評(píng)審的準(zhǔn)備及評(píng)審的內(nèi)容范圍
　　15.3設(shè)計(jì)評(píng)審的組織及成員職責(zé)
　　15.4設(shè)計(jì)評(píng)審的程序與結(jié)論
第4篇　設(shè)備系統(tǒng)的可靠性試驗(yàn)
　第16章　可靠性試驗(yàn)的基礎(chǔ)知識(shí)
　　16.1影響產(chǎn)品可靠性的因素
　　16.2可靠性試驗(yàn)的定義與原理
　　16.3可靠性試驗(yàn)的種類及其目的
　　16.4正確評(píng)定設(shè)備的可靠性
　第17章　統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)方案
　　17.1試驗(yàn)參數(shù)的定義
　　17.2怎樣正確選擇試驗(yàn)參數(shù)
　　17.3試驗(yàn)方案的種類及選擇試驗(yàn)方案的原則
　　17.4標(biāo)準(zhǔn)型試驗(yàn)方案及其判決標(biāo)準(zhǔn)
　　17.5試驗(yàn)樣品數(shù)量和試驗(yàn)時(shí)間的確定
　　17.6恒定失效率有效性檢驗(yàn)
　　17.7用試驗(yàn)觀察數(shù)據(jù)估計(jì)設(shè)備的平均無(wú)故障工作時(shí)間(MTBF)
　第18章　可靠性試驗(yàn)的一般要求
　　18.1試驗(yàn)類型的選擇
　　18.2可靠性試驗(yàn)的設(shè)計(jì)
　　18.3可靠性鑒定試驗(yàn)前應(yīng)具備的條件
　　18.4試驗(yàn)樣品的要求
　　18.5試驗(yàn)設(shè)備、儀器儀表的要求
　　18.6試驗(yàn)實(shí)施的要求
　　18.7受試設(shè)備的檢測(cè)要求
　　18.8受試設(shè)備接收與否的判決
　　18.9糾正措施
　　18.10預(yù)防性維護(hù)
　　18.11受試設(shè)備的復(fù)原
　　18.12對(duì)可靠性試驗(yàn)的檢查與監(jiān)督
　第19章　試驗(yàn)條件選擇及試驗(yàn)周期設(shè)計(jì)
　　19.1設(shè)備的分類
　　19.2試驗(yàn)條件的分類
　　19.3試驗(yàn)條件的選擇
　　19.4對(duì)基本環(huán)境試驗(yàn)方法的要求
　　19.5試驗(yàn)中的工作條件
　　19.6試驗(yàn)周期(循環(huán))與試驗(yàn)程序的設(shè)計(jì)
　　19.7推薦的試驗(yàn)周期
　　19.8編制可靠性試驗(yàn)程序的實(shí)例與說(shuō)明
　第20章　失效的分類、分析與處理
　　20.1失效的定義與分類
　　20.2失效時(shí)間的判定
　　20.3失效的處理方法
　　20.4失效的分析方法與要求
　　20.5失效的檢測(cè)方法與要求
　　20.6失效的最后分類與相關(guān)失效數(shù)的確定
　　20.7制定糾正措施方案
　第21章　試驗(yàn)的記錄與報(bào)告
　　21.1可靠性試驗(yàn)報(bào)告
　　21.2可靠性試驗(yàn)測(cè)試記錄
　　21.3可靠性試驗(yàn)失效綜合報(bào)告表
　　21.4可靠性試驗(yàn)分析與修理報(bào)告表
　第22章　現(xiàn)場(chǎng)可靠性試驗(yàn)
　　22.1試驗(yàn)的目的
　　22.2試驗(yàn)的一般要求
　　22.3試驗(yàn)條件
　　22.4受試設(shè)備性能和相關(guān)試驗(yàn)時(shí)間
　　22.5數(shù)據(jù)收集
　　22.6正確評(píng)定與比較現(xiàn)場(chǎng)可靠性試驗(yàn)與試驗(yàn)室模擬可靠性試驗(yàn)數(shù)據(jù)
　第23章　可靠性試驗(yàn)技術(shù)與管理
　　23.1可靠性試驗(yàn)技術(shù)
　　23.2關(guān)于大中型電子設(shè)備的可靠性評(píng)定
　　23.3可靠性試驗(yàn)的管理
　第24章　可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)方法
　　24.1概述
　　24.2術(shù)語(yǔ)
　　24.3一般要求
　　24.4詳細(xì)要求
　　24.5杜安可靠性增長(zhǎng)模型的說(shuō)明和MTBF移動(dòng)平均值法的探討
　　24.6AMsAA模型增長(zhǎng)分析
參考文獻(xiàn)

圖書(shū)封面

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