出版時(shí)間:1999-8 出版社:天津大學(xué)出版社 作者:張國(guó)雄 主編
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內(nèi)容概要
由《現(xiàn)代干涉測(cè)量技術(shù)》、《三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)》和《納米測(cè)試技術(shù)》組成現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)叢書,是1989年中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院與德國(guó)經(jīng)濟(jì)技術(shù)和發(fā)展部合作項(xiàng)目的研究成果。其目的是將已建立的長(zhǎng)度基準(zhǔn)更好地和迅速地為我國(guó)的工業(yè)發(fā)展服務(wù),建立我國(guó)納米級(jí)的計(jì)量標(biāo)準(zhǔn),彌補(bǔ)我國(guó)長(zhǎng)度計(jì)量領(lǐng)域的空白
圖書目錄:
第一章 概論;
第二章 坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的主機(jī);
第三章 三坐標(biāo)測(cè)頭;
第四章 控制系統(tǒng);
第五章 三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)軟件;
第六章 坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的應(yīng)用;
第七章 非正交系坐標(biāo)測(cè)量系統(tǒng);
第八章 三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的測(cè)量不確定度;
第九章 環(huán)境條件;
第十章 三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的誤差鑒定;
第十一章 三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的誤差補(bǔ)償;
第十二章 三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的發(fā)展趨勢(shì)
作者簡(jiǎn)介
由《現(xiàn)代干涉測(cè)量技術(shù)》、《三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)》和《納米測(cè)試技術(shù)》組成現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)叢書,是1989年中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院與德國(guó)經(jīng)濟(jì)技術(shù)和發(fā)展部合作項(xiàng)目的研究成果。其目的是將已建立的長(zhǎng)度基準(zhǔn)更好地和迅速地為我國(guó)的工業(yè)發(fā)展服務(wù),建立我國(guó)納米級(jí)的計(jì)量標(biāo)準(zhǔn),彌補(bǔ)我國(guó)長(zhǎng)度計(jì)量領(lǐng)域的空白
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