電子元件測量基礎

內容概要

本書全面地、系統(tǒng)地介紹了電子元件參數(shù)的基本測量方法、測量原理及有關測量技術，同時對誤差理論及電子元件測量新技術作了必要的闡述。全書包括緒論、誤差理論、基本測量技術、電子元件阻抗測量方法、電子元件基本參數(shù)的測量、電子元件其它參數(shù)的測量、電子元件測量新技術等七章。    本書為中專電子元件專業(yè)的統(tǒng)編教材，也可作為相應專業(yè)的技工學校、職工培訓的教材，同時，對于從事電子元件測量的技術工人和工程技術人員也有一定的參考價值。

書籍目錄

第一章 緒論 1.1 電子元件測量的意義與特點 1.2 測量與計量 1.3 電子元器件評定體系簡介 習題一第二章 誤差理論和數(shù)據(jù)處理 2.1 誤差的基本概念 2.2 隨機誤差 2.3 系統(tǒng)誤差 2.4 誤差的合成與分配 2.5 測量數(shù)據(jù)的處理 習題二第三章 基本測量技術 3.1 測試信號源  3.2 電壓測量 3.3 示波測量 習題三第四章 阻抗的測量  4.1 等效串、并聯(lián)電路 4.2 電子元件測量中的連接技術 4.3 電橋法 4.4 諧振法 4.5 虛、實部分離法 4.6 阻抗的常用測量方法比較 習題四第五章 電子元件基本參數(shù)的測量 5.1 電子元件參數(shù)的基本定義 5.2 電子元件的檢驗要求 5.3 電阻器參數(shù)的測量 5.4 電容器參數(shù)的測量 5.5 電感器參數(shù)的測量 5.6 電子元件測量中的抗干擾技術 習題五第六章 電子元件其它參數(shù)的測量 6.1 電阻元件噪聲的測量 6.2 電子元件非線性的測量 6.3 電子元件溫度系數(shù)的測量 6.4 電子元件抗電強度的測量 習題六第七章 元件測量新技術 一、測量技術發(fā)展的新動向 二、VXI產品的應用及其前景展望 三、虛擬儀器 習題七參考文獻

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