數(shù)字電路實驗教程

內(nèi)容概要

實驗教學(xué)的目的不僅是驗證已知的理論，訓(xùn)練學(xué)生的基本實驗技能，更重要的是要培養(yǎng)學(xué)生具有科研能力和探索精神。本書編寫的宗旨是：根據(jù)教學(xué)的基本要求，在實驗方法和設(shè)計能力方面對學(xué)生進行全面的培養(yǎng)。做到適應(yīng)性強、便于學(xué)生閱讀、有利于學(xué)生的能力培養(yǎng)和因材施教。    本書共分五大部分。第1章為第一部分，本章主要介紹了數(shù)字電路實驗中器件的使用規(guī)則，實驗時布線、故障排除的方法和注意事項以及常用儀器的使用方法。第2章為第二部分，由于《數(shù)字電路》課程是學(xué)習(xí)《電子設(shè)計自動化》和《單片機原理》等課程的基礎(chǔ)，所以本章只介紹了可編程器件GAL的基本原理和開發(fā)的方法及步驟，在系統(tǒng)可編程技術(shù)以及現(xiàn)場可編程器件的應(yīng)用將在后續(xù)課程中進行學(xué)習(xí)。第3章為第三部分，本章根據(jù)理論課的學(xué)習(xí)順序，給出了21個實驗一課題，這些實驗課題中既有驗證性實驗，也有設(shè)計性實驗，每個實驗都有多項實驗內(nèi)容，可供不同層次和不同實驗學(xué)時的使用者進行選擇。第4章為第四部分，本章為綜合實驗部分，給出了幾個綜合性的數(shù)字系統(tǒng)實驗課題，用來培養(yǎng)學(xué)生運用秘學(xué)的知識進行綜合設(shè)計數(shù)字系統(tǒng)的能力。附錄1和附錄2為第五部分，本部分整理匯編了近200余種數(shù)字集成電路的型號、外引線功能圖、部分邏輯符號和功能表以及TTL和CMOS集成電路的主要性能參數(shù)供讀者參考，這部分相當(dāng)于袖珍速查手冊，對使用者提供了很大的方便。

書籍目錄

第1章  實驗基本知識  集成電路的命名規(guī)則  邏輯圖形符號  TTL集成電路與CMOS集成電路的使用規(guī)則  實驗電路布線及常見故障的檢查與排除  常用儀器第2章  可編程邏輯器件GAL及應(yīng)用  PLD的基本概念及發(fā)展過程  通用陣列邏輯GAL  PLD開發(fā)的基本步驟  PLD的開發(fā)工具  幾個GAL應(yīng)用實例第3章  基本實驗  常用儀器的使用及與非門的功能測試  邏輯門外特性的測試  OC門與三態(tài)門邏輯功能的測試及應(yīng)用  組合電路設(shè)計實驗之一  組合電路設(shè)計實驗之二  中規(guī)模組合電路設(shè)計之一  中規(guī)模組合電路設(shè)計之二  七段顯示譯碼器  競爭冒險現(xiàn)象的觀察與排除  鎖存器、觸發(fā)器邏輯功能測試及相互轉(zhuǎn)換  用觸發(fā)器設(shè)計同步計數(shù)器  用觸發(fā)器設(shè)計節(jié)拍發(fā)生器和序列信號發(fā)生器  用觸發(fā)器設(shè)計異步計數(shù)器  集成計數(shù)器的功能測試及應(yīng)用  用集成計數(shù)器設(shè)計序列信號發(fā)生器及節(jié)拍發(fā)生器  移位寄存器功能測試及應(yīng)用  555定時器  D/A轉(zhuǎn)換器  A/D轉(zhuǎn)換器  GAL實驗之一  GAL實驗之二第4章  數(shù)字系統(tǒng)實驗  三位數(shù)字頻率計  簡易計算器  三人搶答器  帶有校的功能的數(shù)字鬧鐘附錄1  集成電路主要性能參數(shù)附錄2  部分常用數(shù)字集成電路選編參考文獻(xiàn)

圖書封面

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