現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)

出版時(shí)間:2007-3  出版社:西安電科大  作者:何廣軍  頁(yè)數(shù):270  

內(nèi)容概要

  《21世紀(jì)高等學(xué)校儀器儀表及自動(dòng)化類專業(yè)規(guī)劃教材:現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)》從理論和實(shí)踐相結(jié)合的角度,詳細(xì)介紹了測(cè)試技術(shù)的基本理論、原理和方法。其主要內(nèi)容包括測(cè)試技術(shù)的有關(guān)概念,測(cè)試誤差理論,各種常用電量和非電量參數(shù)的測(cè)試方法,常用儀器儀表、常用傳感器的結(jié)構(gòu)及工作原理,自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)及總線技術(shù)和數(shù)據(jù)采集與處理系統(tǒng)。

書(shū)籍目錄

第1章 緒論第2章 測(cè)量誤差分析及數(shù)據(jù)處理第3章 常用電參數(shù)及器件的測(cè)量第4章 非電參數(shù)的測(cè)量第5章 傳感器技術(shù)第6章 測(cè)控總線技術(shù)第7章 數(shù)據(jù)采集與處理系統(tǒng)第8章 自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)參考文獻(xiàn)

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