材料近代分析測試方法

內(nèi)容概要

本書介紹了近代材料學(xué)科常用的幾種分析測試方法，全書力求把原理、方法、應(yīng)用融為一體，簡明而實用。內(nèi)容包括X射線衍射技術(shù)、電子光學(xué)微觀分析技術(shù)、材料表面分析技術(shù)、掃描探針顯微鏡技術(shù)、材料熱分析技術(shù)，紅外光譜與拉曼光技術(shù)及色譜及色質(zhì)聯(lián)機技術(shù)等?！　”緯勺鳛楦叩葘W(xué)校材料學(xué)科各專業(yè)本科生教材，研究生數(shù)學(xué)參考書，也可作為從事教材研究及分測試方面工作的技術(shù)人員參考。

書籍目錄

第1章  X射線物理學(xué)基礎(chǔ)　1.1　X射線的本質(zhì)　1.2　X射線譜　1.3　X射線與物質(zhì)相互作用第2章　x射線運動學(xué)衍射理論　2.1　X射線衍射方向　2.2　布拉格方程的討論　2.3　倒易點陣　2.4　X射線衍射強度第3章　x射線衍射方法  3.1　粉末照相法  3.2　X射線衍射儀第4章　多晶體的物相分析　4.1　物相的定性分析　4.2　物相定量分析第5章　宏觀應(yīng)力測定　5.1　X射線應(yīng)力測定的基本原理　5.2　試驗方法　5.3　試驗精度的保證及測試原理的適用條件第6章　電子與物質(zhì)的交互作用　6.1　散射　6.2　高能電子與樣品物質(zhì)交互作用產(chǎn)生的電子信息第7章　透射電子顯微分析　7.1　透射電鏡的結(jié)構(gòu)及應(yīng)用　7.2　電子衍射　7.3　透射電子顯微分析樣品制備　7.4　薄晶體樣品的衍射成像原理第8章　掃描電子顯微分析  8.1　掃描電鏡工作原理、構(gòu)造和性能  8.2　掃描電鏡在材料研究中的應(yīng)用  8.3　波譜儀結(jié)構(gòu)及工作原理　8.4　能譜儀結(jié)構(gòu)及工作原理　　8.5  電子探針分析方法及微區(qū)成分分析技術(shù)　第9章　材料表面分析技術(shù)　　9.1　俄歇電子能譜分析　　9.2　x射線光電子能譜分析　　9.3　原子探針顯微分析　第1O章　掃描探針顯微鏡　　10.1　掃描探針顯微鏡(SPM)的基本原理　　10.2　掃描隧道顯微鏡(STM)在材料研究中的應(yīng)用  　10.3　其他掃描探針顯微鏡簡介　　10.4　掃描探針顯微鏡(SPM)的硬度及磨損測試　　1O.5　掃描探針顯微鏡(SPM)的計量化　第11章　核磁共振與電子自旋共振波譜　　11.1　核磁共振的基本原理　11.2　電子自旋共振波譜第12章  固體高聚物的小角光散射　12.1　小角激光光散射　12.2　光散射技術(shù)在高聚物研究中的應(yīng)用第13章　熱分析技術(shù)　13.1　差熱分析　13.2　示差掃描量熱法　13.3　熱重分析　13.4　熱分析技術(shù)在高聚物研究中的應(yīng)用第14章　紅外光譜與拉曼光譜　14.1　紅外光譜　14.2　拉曼光譜第15章　色譜及色質(zhì)聯(lián)機技術(shù)　15.1　氣相色譜　15.2　薄層色譜的原理及應(yīng)用　15.3　色質(zhì)聯(lián)機技術(shù)附錄參考文獻

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