X射線熒光光譜的基本參數(shù)法

前言

X射線熒光光譜分析是一種應(yīng)用非常廣泛的化學(xué)成分分析手段，始于20世紀(jì)50年代初，至今在分析理論、方法、儀器和應(yīng)用等方面都取得了長(zhǎng)足的發(fā)展，尤其是基本參數(shù)法進(jìn)入實(shí)用階段后，X射線熒光光譜定量分析依賴相似標(biāo)樣的情況得到改善，使X射線熒光光譜分析不僅成為化學(xué)分析實(shí)驗(yàn)室的常用方法，而且在現(xiàn)場(chǎng)分析、在線分析以及非破壞分析上發(fā)揮著重要的作用，是其他方法無法替代的?；緟?shù)法的理論基礎(chǔ)是譜線強(qiáng)度和元素濃度之間的理論關(guān)系，也就是說，根據(jù)測(cè)量的譜線強(qiáng)度和測(cè)量條件，就可以計(jì)算出待測(cè)元素的濃度。所以，基本參數(shù)法從理論上說，是不需要相似標(biāo)樣的，只需要用樣品對(duì)儀器因子進(jìn)行校正，這樣的樣品可以是純?cè)貥悠?，也可以是多元樣品。早期的基本參?shù)法因?yàn)橛?jì)算機(jī)的速度不夠快，理論強(qiáng)度計(jì)算模型不完善，X射線管原級(jí)譜強(qiáng)度分布的測(cè)定或計(jì)算不夠準(zhǔn)確，以及用于理論強(qiáng)度計(jì)算的一些基本參數(shù)誤差較大等原因，造成分析結(jié)果不夠準(zhǔn)確，因此產(chǎn)生了理論影響系數(shù)法。

內(nèi)容概要

　　《X射線熒光光譜的基本參數(shù)法》是X射線熒光光譜分析領(lǐng)域?qū)ｉT講述基本參數(shù)法的第一本書。書中，作者結(jié)合自己的研究成果和實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，系統(tǒng)而詳細(xì)地介紹了X射線熒光光譜分析中的基本參數(shù)法的基本原理、方法中用到的各種基本參數(shù)、理論熒光強(qiáng)度計(jì)算、散射對(duì)理論熒光強(qiáng)度的影響、多層膜樣品中熒光強(qiáng)度計(jì)算的問題、基本參數(shù)法的實(shí)現(xiàn)和應(yīng)用實(shí)例，書末還列出了重要的基本參數(shù)?！　”緯晒氖耎射線熒光光譜研究與實(shí)際分析的科研和技術(shù)人員閱讀，也可作為X射線熒光光譜分析或相關(guān)專業(yè)教師和研究生的參考讀物。

書籍目錄

第1章 X射線熒光光譜分析概述1.1 引言1.2 X射線光譜1.2.1 X射線的定義1.2.2 X射線的性質(zhì)1.2.3 X射線光譜的產(chǎn)生1.3 X射線與物質(zhì)的相互作用1.3.1 吸收系數(shù)1.3.2 衰減系數(shù)1.3.3 吸收截面1.3.4 吸收系數(shù)和波長(zhǎng)的關(guān)系1.3.5 散射1.4 布拉格定律1.5 俄歇效應(yīng)和熒光產(chǎn)額1.6 X射線熒光光譜儀1.7 X射線熒光光譜定性分析1.8 X射線熒光光譜定量分析1.8.1 定量分析概述1.8.2 基體效應(yīng)1.8.3 元素間吸收一增強(qiáng)效應(yīng)1.8.4 校正曲線法1.8.5 內(nèi)標(biāo)法1.8.6 標(biāo)準(zhǔn)加八法和標(biāo)準(zhǔn)稀釋法1.8.7 薄樣法1.8.8 吸收增強(qiáng)效應(yīng)的數(shù)學(xué)校正1.9 計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)學(xué)與測(cè)量時(shí)間1.9.1 總計(jì)數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)偏差1.9.2 計(jì)數(shù)率的標(biāo)準(zhǔn)偏差1.9.3 計(jì)數(shù)時(shí)間的選擇1.10 靈敏度、檢出限和測(cè)量限1.10.1 靈敏度1.10.2 檢出限和測(cè)量限1.11 X射線熒光光譜半定量分析1.11.1 基于全程掃描的半定量分析軟件1.11.2 基于測(cè)量峰位及背景點(diǎn)強(qiáng)度的半定量分析軟件1.11.3 聚酯膜（My1arFi1m）中Ca和P雜質(zhì)的校正1.11.4 支攆膜和氨氣介質(zhì)的吸收校正1.11.5 實(shí)際試樣半定量分析結(jié)果舉例1.12不確定度評(píng)定1.12.1 不確定度的定義1.12.2 誤差1.12.3 光譜分析中的常見分布1.12.4 置信水平1.12.5 標(biāo)準(zhǔn)不確定度的A類評(píng)定1.12.6 標(biāo)準(zhǔn)不確定度的B類評(píng)定1.12.7 擴(kuò)展不確定度1.12.8 測(cè)量不確定度的報(bào)告1.12.9 X射線熒光光譜定量分析中標(biāo)準(zhǔn)不確定度的估計(jì)1.13樣品制備1.13.1 概述1.13.2 熔融片與其他制樣比較的優(yōu)點(diǎn)1.13.3 熔劑1.13.4 樣品1.13.5 樣品的酸度1.13.6 熔片中氧化物的溶解度1.13.7 熔融工具和材料1.13.8 熔融參考文獻(xiàn)第2章 基本參數(shù)法中的基本參數(shù)2.1 質(zhì)量衰減系數(shù)2.1.1 質(zhì)量衰減系數(shù)的文獻(xiàn)2.1.2 質(zhì)量衰減系數(shù)的計(jì)算2.1.3 質(zhì)量衰減系數(shù)算法的比較2.2 熒光產(chǎn)額2.2.1 熒光產(chǎn)額和俄歇產(chǎn)額2.2.2 熒光產(chǎn)額的獲得2.2.3 熒光產(chǎn)額的不確定度估計(jì)2.3 Coster－Kronig產(chǎn)額2.4 譜線分?jǐn)?shù)2.5 吸收限躍遷因子2.6 激發(fā)因子參考文獻(xiàn)第3章 理論強(qiáng)度計(jì)算和基本參數(shù)優(yōu)化3.1 引言3.2 厚試樣理論強(qiáng)度的計(jì)算3.2.1 一次（初級(jí)）熒光強(qiáng)度的計(jì)算3.2.2 二次（次級(jí)）熒光強(qiáng)度的計(jì)算3.2.3 三次熒光強(qiáng)度的計(jì)算3.3 光譜儀幾何設(shè)計(jì)對(duì)理論計(jì)算相對(duì)強(qiáng)度的影響3.3.1 光譜儀幾何因子對(duì)計(jì)算相對(duì)強(qiáng)度的影響3.3.2 出射角的確定3.3.3 入射角的確定3.3.4 測(cè)定幾何因子可靠性驗(yàn)證3.4 X射線管原級(jí)譜強(qiáng)度分布對(duì)理論計(jì)算熒光強(qiáng)度的影響3.5 理論強(qiáng)度計(jì)算中的μ+r模式3.5.1 μ+r模式的定義和理論依據(jù)3.5.2 μ+r模式的實(shí)驗(yàn)檢驗(yàn)3.6 基本參數(shù)的優(yōu)化3.6.1 質(zhì)量衰減系數(shù)的優(yōu)化3.6.2 激發(fā)因子的優(yōu)化參考文獻(xiàn)第4章 散射效應(yīng)增強(qiáng)熒光強(qiáng)度基本參數(shù)計(jì)算4.1 引言4.2 散射效應(yīng)4.3 散射系數(shù)在總質(zhì)量吸收系數(shù)中的比例4.4 影響熒光強(qiáng)度的散射效應(yīng)4.5 散射效應(yīng)增強(qiáng)熒光強(qiáng)度理論計(jì)算公式4.5.1 入射X射線原級(jí)譜被散射后對(duì)熒光強(qiáng)度的增強(qiáng)效應(yīng)4.5.2 一次熒光被散射進(jìn)探測(cè)方向的強(qiáng)度4.6 角度關(guān)系4.7 散射微分截面4.7.1 相干散射截面4.7.2 非相干散射截面4.7.3 F（χ，Z）和s（χ，Z）的計(jì)算方法4.8 計(jì)算程序4.9 實(shí)驗(yàn)……第5章 多層膜樣品X射線熒光線強(qiáng)度計(jì)算中的問題第6章 基本參數(shù)法的實(shí)現(xiàn)第7章 基本參數(shù)法的應(yīng)用附表

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《X射線熒光光譜的基本參數(shù)法》是由上?？茖W(xué)技術(shù)出版社出版的。

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