光學(xué)儀器常用標(biāo)準(zhǔn)匯編

內(nèi)容概要

《光學(xué)儀器常用標(biāo)準(zhǔn)匯編:其他光學(xué)儀器卷》內(nèi)容簡介：隨著我國經(jīng)濟(jì)的快速發(fā)展和現(xiàn)代生產(chǎn)過程自動(dòng)化程度的不斷提高，各類光學(xué)儀器在國民經(jīng)濟(jì)、社會(huì)發(fā)展和國家信息化建設(shè)中發(fā)揮著日益重要的作用。有關(guān)光學(xué)儀器標(biāo)準(zhǔn)化的工作取得了長足的進(jìn)步，陸續(xù)制定了一系列用于國民經(jīng)濟(jì)各行業(yè)的國家標(biāo)準(zhǔn)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。這些光學(xué)儀器標(biāo)準(zhǔn)為我國各類光學(xué)儀器的設(shè)計(jì)、研制、生產(chǎn)、質(zhì)量檢驗(yàn)、使用提供了重要的技術(shù)依據(jù)，對(duì)推動(dòng)技術(shù)進(jìn)步，促進(jìn)企業(yè)改進(jìn)和提高產(chǎn)品質(zhì)量，維護(hù)消費(fèi)者利益以及加強(qiáng)行業(yè)管理均起到了重要的作用。
為了適應(yīng)光學(xué)儀器技術(shù)發(fā)展的需要，加強(qiáng)光學(xué)儀器標(biāo)準(zhǔn)的管理，促進(jìn)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的貫徹和實(shí)施，更好地滿足工程技術(shù)人員和管理人員對(duì)標(biāo)準(zhǔn)的需求，中國標(biāo)準(zhǔn)出版社根據(jù)光學(xué)儀器儀表使用的實(shí)際情況，對(duì)現(xiàn)行光學(xué)儀器儀表標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行了匯總整理，組織編輯了《光學(xué)儀器常用標(biāo)準(zhǔn)匯編》系列叢書，以便為光學(xué)儀器行業(yè)的技術(shù)人員及相關(guān)科技人員提供系統(tǒng)的、實(shí)用的標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)資料。

書籍目錄

一、望遠(yuǎn)鏡、大地測量與航測儀器GB／T 1146—2009水準(zhǔn)泡GB／T 3161—2003光學(xué)經(jīng)緯儀GB／T 10156—2009水準(zhǔn)儀GB／T 13991—1992立體坐標(biāo)量測儀GB／T 14267—2009光電測距儀GB／T 17117—2008雙目望遠(yuǎn)鏡GB／T 18312—2001雙目望遠(yuǎn)鏡檢驗(yàn)規(guī)則JB／T 9314—1999大地測量儀器的包裝JB／T 9315—1999大地測量儀器水準(zhǔn)標(biāo)尺JB／T 9316—1999  大地測量儀器強(qiáng)制中心機(jī)構(gòu)配合尺寸JB／T 9317—1999激光指向儀JB／T 9318—1999  大地測量儀器目視讀數(shù)的度盤分劃JB／T 9319—1999垂準(zhǔn)儀JB／T 9321—1999羅盤儀JB／T 9332—1999大地測量儀器儀器與三腳架之間的連接JB／T 9335—1999平板儀JB／T 9336—1999大地測量儀器分劃板JB／T 9337—1999大地測量儀器三腳架二、光學(xué)計(jì)量儀器GB／T 3371—1995光學(xué)分度頭GB 17341—1998光學(xué)和光學(xué)儀器焦度計(jì)JB／T 8232—1999  自準(zhǔn)直儀JB／T 8233—1999立式接觸式干涉儀JB／T 9339—1999測量顯微鏡JB／T 9340一1999光切顯微鏡JB／T 9341.1—1999計(jì)量光柵術(shù)語JB／T 9341.2—1999計(jì)量光柵數(shù)顯表試驗(yàn)方法JB／T 9341.3—1999計(jì)量光柵玻璃光柵尺技術(shù)要求JB／T 9341.4—1999計(jì)量光柵玻璃光柵盤技術(shù)要求JB／T 934.2—1999光學(xué)計(jì)量儀器用測帽JB／T 9343—1999  分格值為1'的光學(xué)測角比較儀0JB／T 934.4—1999光學(xué)傾斜儀JB／T 9345—1999五級(jí)金屬線紋米尺JB／T 9346—1999測角儀（分光計(jì)）基本參數(shù)三、光學(xué)測試儀器GB／T 1185—2006  光學(xué)零件表面疵病GB／T 10987—2009光學(xué)系統(tǒng)參數(shù)的測定GB／T 10988—2009  光學(xué)系統(tǒng)雜<散）光澳4量方法GB／T 14075—2008光纖色散測試儀技術(shù)條件JB／T 8226.1—1999光學(xué)零件鍍膜減反射膜JB／T 8226.2—1999光學(xué)零件鍍膜水解法鍍雙層減反射膜JB／T 8226.3—1999光學(xué)零件鍍膜外反射膜JB／T 8226.4—1999光學(xué)零件鍍膜  內(nèi)反射膜JB／T 8226.5—1999光學(xué)零件鍍膜  中性濾光膜JB／T 8226.6—1999光學(xué)零件鍍膜窄帶干涉濾光膜JB／T 8226.7—1999光學(xué)零件鍍膜分束膜JB／T、8226.8—1999光學(xué)零件鍍膜截止濾光膜JB／T 8237—1999直角棱鏡JB／T 8239.1—1999衍射光柵基本參數(shù)JB／T 8239.2—1999衍射光柵技術(shù)條件本標(biāo)準(zhǔn)代替GB／T 1146—19894水準(zhǔn)泡》本標(biāo)準(zhǔn)與GB／T 1146—1989的主要差異為：——增加了電子水準(zhǔn)泡的術(shù)語——增加了電子水準(zhǔn)泡的分類——檢驗(yàn)規(guī)則根據(jù)GB／T 2828.1、GB／T 2829選用的參數(shù)經(jīng)對(duì)照后進(jìn)行了修改本標(biāo)準(zhǔn)由中國機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出本標(biāo)準(zhǔn)由全國光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)（SA（：／Tc 103）歸口本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位：蘇州一光儀器有限公司、上海理工大學(xué)本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：王嘉平、黃衛(wèi)佳本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為：——GB 1146—1974——GB／T 1146—1989

章節(jié)摘錄

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《光學(xué)儀器常用標(biāo)準(zhǔn)匯編:其他光學(xué)儀器卷》由中國標(biāo)準(zhǔn)出版社出版。

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