電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備國家標(biāo)準(zhǔn)匯編

內(nèi)容概要

隨著現(xiàn)代工業(yè)技術(shù)的迅速發(fā)展，電工電子產(chǎn)品應(yīng)用領(lǐng)域日益廣闊，所經(jīng)受的環(huán)境條件也越來越復(fù)雜多樣。只有合理地規(guī)定產(chǎn)品的環(huán)境條件，正確選擇產(chǎn)品的環(huán)境防護(hù)措施，才能保證產(chǎn)品在儲存運(yùn)輸中免遭損壞，在使用過程中安全可靠。因而，對電工電子產(chǎn)品進(jìn)行人工模擬環(huán)境試驗(yàn)和必要的著火危險試驗(yàn)是保證其在生產(chǎn)、運(yùn)輸、使用等各環(huán)節(jié)中都安全可靠所必不可少的重要環(huán)節(jié)。出廠前對電工電子產(chǎn)品進(jìn)行人工模擬環(huán)境試驗(yàn)是保證質(zhì)量所必不可少的重要環(huán)節(jié)，因此環(huán)境試驗(yàn)條件、試驗(yàn)方法、試驗(yàn)設(shè)備、各項(xiàng)著火危險試驗(yàn)是否符合標(biāo)準(zhǔn)關(guān)系重大。多年來我國制修訂了很多這方面的國家標(biāo)準(zhǔn)，我們陸續(xù)出版過電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)方面標(biāo)準(zhǔn)的系列匯編，受到讀者歡迎。    截至目前為止，該方面國家標(biāo)準(zhǔn)共計(jì)147項(xiàng)，其中2005年以來新制修訂的電工電子環(huán)境試驗(yàn)、著火危險試驗(yàn)及特殊環(huán)境條件方面的國家標(biāo)準(zhǔn)共有59項(xiàng)，并廢止17項(xiàng)(不包括代替)。這些標(biāo)準(zhǔn)受到廣大電工電子產(chǎn)品研制、生產(chǎn)、檢驗(yàn)、運(yùn)輸、使用人員的關(guān)注。我們特此匯集整理，分5冊陸續(xù)出版：    電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)國家標(biāo)準(zhǔn)匯編  (第四版)    電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件國家標(biāo)準(zhǔn)匯編  (第三版)    電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備國家標(biāo)準(zhǔn)匯編  (第三版)    電工電子產(chǎn)品著火危險試驗(yàn)國家標(biāo)準(zhǔn)匯編  (第二版)    電工電子產(chǎn)品特殊環(huán)境條件國家標(biāo)準(zhǔn)匯編  (第一版)    本冊為《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備國家標(biāo)準(zhǔn)匯編(第三版)》，　　共匯集了截至2007年6月底我國正式發(fā)布實(shí)施且現(xiàn)行有效的電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法方面的國家標(biāo)準(zhǔn)15項(xiàng)及有關(guān)低溫箱、高溫箱、濕溫箱、鹽霧箱和霉菌箱等試驗(yàn)設(shè)備的國家標(biāo)準(zhǔn)8項(xiàng)，共計(jì)23項(xiàng)。    本匯編收集的國家標(biāo)準(zhǔn)均為推薦性國家標(biāo)準(zhǔn)(目錄中標(biāo)明GB／T)，標(biāo)準(zhǔn)年號用四位數(shù)字表示。鑒于部分國家標(biāo)準(zhǔn)是在國家標(biāo)準(zhǔn)清理整頓前出版的，現(xiàn)尚未修訂，故正文部分仍保留原樣；讀者在使用這些國家標(biāo)準(zhǔn)時，其屬性以本目錄標(biāo)明的為準(zhǔn)(標(biāo)準(zhǔn)正文“引用標(biāo)準(zhǔn)”中的標(biāo)準(zhǔn)的屬性請讀者注意查對)。由于所收錄標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)布年代不盡相同，我們對標(biāo)準(zhǔn)中所涉及到的有關(guān)量和單位的標(biāo)注方法未作統(tǒng)一改動。

書籍目錄

環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法      GB／T 5170．1—1995  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則  GB／T 5170．2—1996  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法  溫度試驗(yàn)設(shè)備  GB／T 5170．5—1996  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法  濕熱試驗(yàn)設(shè)備  GB／T 5170．8—1996  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備  GB／T 5170．9—1996  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法  太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備  GB／T 5170．10—1996  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法  高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備  GB／T 5170．11—1996  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備  GB／T 5170．13—2005  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法  振動(正弦)試驗(yàn)用機(jī)械振動臺  GB／T 5170．14—1985  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法  振動(正弦)試驗(yàn)用電動眼動臺  GB／T 5170．15—2005  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法  振動(正弦)試驗(yàn)用液壓振動臺  GB／T 5170．16—2005  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法  穩(wěn)態(tài)加速度試驗(yàn)用離  心機(jī)  GB／T 5170．17—2005  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法  低溫／低氣壓／濕熱綜合順序試驗(yàn)設(shè)備  GB／T 5170．18—2005  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法  溫度／濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備  GB／T 5170．19—2005  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法  溫度／振動(正弦)綜合試驗(yàn)設(shè)備  GB／T 5170．20—2005  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗(yàn)設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備      GB／T 10586—2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件  GB／T 10587—2006鹽霧試驗(yàn)箱技術(shù)條件  GB／T 10588—2006長霉試驗(yàn)箱技術(shù)條件  GB／T 10589—1989低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件  GB／T 10590—2006高低溫／低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件  GB／T 10591—2006高溫／低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件一  GB／T 10592—1989高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件  GB／T 11158—1989高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

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