形狀和位置公差

內(nèi)容概要

　　《六項(xiàng)基礎(chǔ)互換性標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用指導(dǎo)叢書：形狀和位置公差》主要內(nèi)容包括：圖樣標(biāo)注、公差帶和公差值、形狀和位置公差的圖樣標(biāo)注、形位公差的項(xiàng)目及其符號、形位公差框格、被測要素的標(biāo)注、基準(zhǔn)要素的標(biāo)注、形狀和位置公差帶、基本概念、形狀公差帶、輪廓度公差帶、定向公差帶、定位公差帶、跳動公差帶、形狀和位置公差值、一般公差的概念、形位公差的未注公差值、未注形位公差的公差值的應(yīng)用和圖樣標(biāo)注綜合示例、形位公差的注出公差值、注出形位公差的選用原則、位置度公差和延伸公差帶等。

書籍目錄

上篇　圖樣標(biāo)注、公差帶和公差值　1　概述　2　形狀和位置公差的圖樣標(biāo)注　  2.1  形位公差的項(xiàng)目及其符號　  2.2　形位公差框格　  2.3  被測要素的標(biāo)注　  2.4　基準(zhǔn)要素的標(biāo)注　3　形狀和位置公差帶　  3.1  基本概念　  3.2　形狀公差帶　  3.3　輪廓度公差帶　  3.4  定向公差帶　  3.5　定位公差帶　  3.6  跳動公差帶　4　形狀和位置公差值　　4.1  一般公差的概念　　4.2  形位公差的未注公差值　　4.3　未注形位公差的公差值的應(yīng)用和圖樣標(biāo)注綜合示例　　4.4　形位公差的注出公差值　　4.5  注出形位公差的選用原則下篇　位置度公差和延伸公差帶　5  概述    　6　理論正確尺寸的標(biāo)注  　  6.1  基本概念    　  6.2  成組要素理論正確尺寸的標(biāo)注    　7　基準(zhǔn)的標(biāo)注    　  7.1  單個要素位置度公差的基準(zhǔn)標(biāo)注    　  7.2  成組要素位置度公差的基準(zhǔn)標(biāo)注    　8　位置度公差的標(biāo)注    　  8.1  給定平面上點(diǎn)的位置度公差標(biāo)注    　  8.2  空間點(diǎn)的位置度公差標(biāo)注    　  8.3  空間線的位置度公差標(biāo)注    　9　復(fù)合公差的標(biāo)注    　  9.1  尺寸公差與位置度公差的復(fù)合標(biāo)注    　  9.2  角度公差與位置度公差的復(fù)合標(biāo)注    　  9.3  復(fù)合位置度公差標(biāo)注    　10　位置度公差值的選用    　11　延伸公差帶    　12　位置度公差的應(yīng)用    　  12.1  位置度公差表達(dá)圓周分布的成組非圓要素的位置精度要求 　  12.2  位置度公差表達(dá)沉孔孔組軸線的位置精度要求    　  12.3  位置度公差表達(dá)非平行孔組軸線的位置精度要求    　  12.4  位置度公差表達(dá)共面要求    　  12.5  給出孔組軸線兩端不同公差值的位置度公差    　13　定位尺寸公差與位置度公差的比較參考文獻(xiàn)

章節(jié)摘錄

　　上篇 圖樣標(biāo)注、公差帶和公差值　　1概述　　在現(xiàn)代化生產(chǎn)中，為了經(jīng)濟(jì)地滿足產(chǎn)品的功能要求，適應(yīng)市場的需要，不僅應(yīng)對零件的機(jī)械、物理、化學(xué)性能提出要求，并規(guī)定尺寸的極限與配合，還應(yīng)對零件幾何要素的形狀、方向和位置規(guī)定合理的精度。形狀和位置公差（簡稱“形位公差”）的系列國家標(biāo)準(zhǔn)為零件幾何要素的精度設(shè)計、加工和檢驗(yàn)提供了有效的規(guī)范化的技術(shù)文件?！　缀我氐男螤詈臀恢霉畹睦碚摷皯?yīng)用，是20世紀(jì)50年代起發(fā)展的一個新興工程科學(xué)技術(shù)學(xué)科領(lǐng)域。1950年，美國、英國和加拿大三國聯(lián)席會議首次向ISO提出統(tǒng)一形狀和位置公差設(shè)計（幾何公差設(shè)計Geometrical Tolerancing）的概念及其表示方法的ABC提案，為ISO標(biāo)準(zhǔn)打下了基礎(chǔ)。1958年國際標(biāo)準(zhǔn)化組織第10技術(shù)委員會第5分技術(shù)委員會（ISO/TC10/SC5）提出了形位公差框格表示法的標(biāo)準(zhǔn)推薦草案。1969年正式發(fā)布了《形狀和位置公差第1部分概論、符號、圖樣表示法》國際標(biāo)準(zhǔn)（ISO/R1101-1：1969）。當(dāng)時，形位公差標(biāo)準(zhǔn)化工作尚停留在圖樣標(biāo)注方法研究的階段，隸屬于技術(shù)制圖標(biāo)準(zhǔn)化的一部分。在此后的20多年中，ISO/TC10/SC5及其各成員國在深入研究形位公差的基礎(chǔ)理論和形位公差與尺寸公差之間關(guān)系的基礎(chǔ)上，于1985年發(fā)布了《技術(shù)制圖公差標(biāo)注的基本原則》（IS08015：1985），《技術(shù)制圖幾何公差最大實(shí)體要求、最小實(shí)體要求和可逆要求》（ISO/DIS 2692：1996）、《產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范（GPS）幾何公差形狀、方向、位置和跳動公差》（ISO/FDIS 1101：2000）等一系列國際標(biāo)準(zhǔn)（或草案）。與此同時，“極限與配合”（ISO/TC3）、“幾何公差及尺寸公差表示法”（ISO/TC10/SC5）和“表面特征和計量”（ISO/TC57）三個技術(shù)委員會，經(jīng)過四年聯(lián)合協(xié)調(diào)工作組（JHG3-10-57）的工作，于1996年6月成立了新的“產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范”技術(shù)委員會（ISO/TC213），并陸續(xù)發(fā)布了以GPS為總標(biāo)題的多項(xiàng)國際標(biāo)準(zhǔn)。至此，關(guān)于幾何公差的標(biāo)準(zhǔn)化研究與應(yīng)用進(jìn)入了一個新的發(fā)展階段?！　　?/pre>








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