現(xiàn)代數(shù)字邏輯電路實驗指導(dǎo)

出版時間:2003-8  出版社:電子工業(yè)出版社  作者:江國強  頁數(shù):133  

內(nèi)容概要

本書在數(shù)字電路基本實驗中,安排了TTL集成邏輯門的功能與參數(shù)測試,組合邏輯電路的設(shè)計與測試,數(shù)據(jù)選擇器及其應(yīng)用、譯碼器及其應(yīng)用、觸發(fā)器及其應(yīng)用、計數(shù)器及其應(yīng)用、移位寄存器及其應(yīng)用、555時基電路及其應(yīng)用、D/A與A/D轉(zhuǎn)換器和隨機存取存儲器及其應(yīng)用等10個實驗內(nèi)容。在VHDL及可編程邏輯器件實驗中,介紹了VHDL設(shè)計平臺使用方法,組合邏輯電路、時序邏輯電路的VHDL文本輸入設(shè)計法和原理圖輸入設(shè)計法實驗,還安排了數(shù)字頻率計、多功能秒表和電子搶答器等綜合實驗內(nèi)容。

書籍目錄

第1部分 數(shù)字電路基本實驗 1.0 數(shù)字電路實驗基本知識 1.1 【實驗1】TTL集成邏輯門的功能與參數(shù)測試 1.2 【實驗2】組合邏輯電路的設(shè)計與測試 1.3 【實驗3】數(shù)據(jù)選擇器及其應(yīng)用 1.4 【實驗4】譯碼器及其應(yīng)用 1.5 【實驗5】觸發(fā)器及其應(yīng)用 1.6 【實驗6】計數(shù)器及其應(yīng)用 1.7 【實驗7】移位寄存器及其應(yīng)用 1.8 【實驗8】555時基電路及其應(yīng)用 1.9 【實驗9】D/A、A/D轉(zhuǎn)換器 1.10 【實驗10】隨機存取存儲器及其應(yīng)用第2部分 VHDL及可編程邏輯件實驗 2.0 MAX+plusⅡ的安裝方法和使用方法 2.1【實驗1】半加器設(shè)計 2.2【實驗2】1位全加器設(shè)計 2.3【實驗3】4選1數(shù)據(jù)選擇器的設(shè)計 2.4【實驗4】觸發(fā)器設(shè)計 2.5【實驗5】8位加法器設(shè)計 2.6【實驗6】計數(shù)器設(shè)計 2.7【實驗7】移位寄存器設(shè)計 2.8【實驗8】有時鐘使能在2位十進制計數(shù)器設(shè)計 2.9【實驗9】2位十進制頻率計原理圖輸入設(shè)計 2.10【實驗10】數(shù)控分頻器的設(shè)計 2.11【實驗11】4位十進制頻率計設(shè)計 2.12【實驗12】秒表設(shè)計 2.13【實驗13】計時電路設(shè)計 2.14【實驗14】電子搶答器設(shè)計附錄A TH-SZ型數(shù)字系統(tǒng)實驗臺使用說明附錄B 常用數(shù)字集成電路引腳排列圖附錄C GW48EDA系統(tǒng)使用說明主要參考文獻

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