出版時間:2002年01月 出版社:電子工業(yè)出版社 作者:Grung 頁數(shù):905
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內(nèi)容概要
全書分5章,內(nèi)容包括現(xiàn)代電子學基礎、半導體體特性、PN結(jié)、雙極結(jié)型晶體管(BJT)、金屬氧化物半導體場效應晶體管(MOSFET)等半導體器件電子學中最基本、最經(jīng)典的內(nèi)容。從電荷、電場開始,循序漸漸地講解半導體體特性、器件理論,最后深入分析兩類最基本的晶體管(BJT和MOSFET)并對其性能作比較,本書還特別強調(diào)SPICE分析方法。這些內(nèi)容和講述方法在國內(nèi)同類書籍中并不多見。
本書在正式出版之間,作者已用它在美國明尼蘇達大學電機工程系講授多年。書中吸收了作者的教學經(jīng)驗及學生們的意見,內(nèi)容精心安排,文字敘述簡潔,公式推導準確易懂,圖例說明清晰,并包含大量的習題解答,使本書非常適用于教學;每章后面的小結(jié)、復習要點與習題便于讀者更好地理解、掌握有關的基本概念,并能將其靈活運用到工程實踐中。
書籍目錄
第1章 現(xiàn)代電子學基礎第2章 半導體體特性第3章 PN結(jié)第4章 雙極結(jié)型晶體管(BJT)第5章 金屬氧化物半導體效應晶體管
圖書封面
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