單片機(jī)原理及接口技術(shù)學(xué)習(xí)輔導(dǎo)

出版時(shí)間:2001-8  出版社:電子工業(yè)出版社  作者:朱定華 劉玉  頁(yè)數(shù):250  字?jǐn)?shù):416  

內(nèi)容概要

本書是為了配合《單片機(jī)原理及接口技術(shù)》課程的教學(xué)而編寫的輔導(dǎo)教材。書中對(duì)該課程教學(xué)中的重點(diǎn)和難點(diǎn)進(jìn)行了詳細(xì)論述,尤其是“難點(diǎn)分析”采用了問(wèn)答形式,針對(duì)性很強(qiáng)。    本書各章都配有“例題詳析”,所舉之例都很典型,對(duì)加深有關(guān)內(nèi)容的理解會(huì)有很大幫助,同時(shí)還給出了大量習(xí)題解答。每章后面都附有一份自測(cè)試卷,在附錄中還給出了兩套綜合模擬試卷,所有自測(cè)題以及綜合試卷都配有答案。    本書可作為大專院校學(xué)生學(xué)習(xí)單片機(jī)原理及應(yīng)用、單片機(jī)接口技術(shù)等課程的輔導(dǎo)教材,對(duì)從事單片機(jī)教學(xué)和科研的教師和技術(shù)人員也很有參考價(jià)值。

書籍目錄

第1章  概述  1.1  內(nèi)容提要  1.2  本章重點(diǎn)  1.3  難點(diǎn)分析  1.4  例題詳析  1.5  習(xí)題詳解第2章  匯編語(yǔ)言與匯編程序  2.1  內(nèi)容提要  2.2  本章重點(diǎn)  2.3  難點(diǎn)分析  2.4  例題詳析  2.5  習(xí)題詳解第3章  程序設(shè)計(jì)的基本技術(shù)  3.1  內(nèi)容提要  3.2  本章重點(diǎn)  3.3  難點(diǎn)分析  3.4  例題詳析  3.5  習(xí)題詳解第4章  MCS—51單片機(jī)內(nèi)部接口電路  4.1  內(nèi)容提要  4.2  本章重點(diǎn)  4.3  難點(diǎn)分析  4.4  例題詳析  4.5  習(xí)題詳解第5章  單片機(jī)的最小應(yīng)用系統(tǒng)與外部擴(kuò)展  5.1  內(nèi)容提要  5.2  本章重點(diǎn)  5.3  難點(diǎn)分析  5.4  例題詳析  5.5  習(xí)題詳解第6章  半導(dǎo)體存儲(chǔ)器  6.1  內(nèi)容提要  6.2  本章重點(diǎn)  6.3  難點(diǎn)分析  6.4  例題詳析  6.5  習(xí)題詳解第7章  常用可編程接口芯片  7.1  內(nèi)容提要  7.2  本章重點(diǎn)  7.3  難點(diǎn)分析  7.4  例題詳析  7.5  習(xí)題詳解 第8章  模擬通道接口  8.1  內(nèi)容提要  8.2  本章重點(diǎn)  8.3  難點(diǎn)分析  8.4  例題詳析(均以片內(nèi)帶數(shù)字量接口的芯片為例)  8.5  習(xí)題詳解第1章單元測(cè)驗(yàn)第2章單元測(cè)驗(yàn)第3章單元測(cè)驗(yàn)第4章單元測(cè)驗(yàn)第5章單元測(cè)驗(yàn)第6章單元測(cè)驗(yàn)第7章單元測(cè)驗(yàn)第8章單元測(cè)驗(yàn)綜合模擬測(cè)試(A、B卷)附錄A  第1~8章單元測(cè)驗(yàn)及綜合模擬試卷答案附錄B MCS—51指令速查卡

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