出版時間:2006-8 出版社:化學(xué)工業(yè)出版社 作者:張慶軍 頁數(shù):107 字?jǐn)?shù):159000
內(nèi)容概要
本書結(jié)合教學(xué)、科研實(shí)踐和材料現(xiàn)代分析手段和分析方法的發(fā)展,重點(diǎn)介紹了材料現(xiàn)代分析測試的典型和共性的實(shí)驗(yàn),使學(xué)生了解和掌握材料現(xiàn)代分析測試的實(shí)驗(yàn)技能,培養(yǎng)綜合創(chuàng)新能力。 本書可作為高等學(xué)校材料學(xué)專業(yè)本科生和研究生的實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)書,也可供相關(guān)專業(yè)工程技術(shù)人員參考。
書籍目錄
實(shí)驗(yàn)一 X射線衍射儀的構(gòu)造及原理實(shí)驗(yàn)二 X射線衍射技術(shù)與定性相分析實(shí)驗(yàn)三 X射線衍射定量相分析實(shí)驗(yàn)四 晶粒大小與晶格畸變的測定實(shí)驗(yàn)五 宏觀內(nèi)應(yīng)力的測定實(shí)驗(yàn)六 非晶態(tài)材料結(jié)構(gòu)徑向分布函數(shù)的測定實(shí)驗(yàn)七 透射電鏡的基本結(jié)構(gòu)和操作實(shí)驗(yàn)八 透射電鏡的試樣制備實(shí)驗(yàn)九 選區(qū)電子衍射及電子衍射譜衍射常數(shù)的測定實(shí)驗(yàn)十 薄試樣的X射線能譜分析實(shí)驗(yàn)十一 掃描電鏡的基本原理與實(shí)驗(yàn)方法實(shí)驗(yàn)十二 塊狀試樣的X射線能譜分析實(shí)驗(yàn)十三 綜合熱分析實(shí)驗(yàn)實(shí)驗(yàn)十四 壓汞法孔結(jié)構(gòu)分析實(shí)驗(yàn)實(shí)驗(yàn)十五 激光粒度分析法測定粉料粒度實(shí)驗(yàn)十六 紅外光譜分析實(shí)驗(yàn)十七 核磁共振波譜儀實(shí)驗(yàn)十八 電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法(ICP—AES)實(shí)驗(yàn)
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