電阻率測試?yán)碚撆c實踐

內(nèi)容概要

本書以電阻率測量中廣泛使用的探針技術(shù)為對象，以作者多年的相應(yīng)測試實踐對電阻率測試中許多理論問題作了深入探討，具體包括：四探針法電阻率測量基本原理、靜電場數(shù)值計算有限元方法、范德堡法及其改進(jìn)法電阻率測量基本原理、魯美采夫斯基法及其改進(jìn)法電阻率測量基本原理、電阻率Mapping技術(shù)、電阻牢測試的EIT技術(shù)、外延片的電阻率測試、接觸電阻的測量、電阻率測試的測準(zhǔn)條件。
本書可供從事傳感器與半導(dǎo)體材料相關(guān)專業(yè)的研究人員和大專院校師生閱讀，也可供生產(chǎn)實踐的工程技術(shù)人員參考。

書籍目錄

1 緒論
 1.1 電阻率測試對半導(dǎo)體材料與器件的重要
 1.2 電阻率測試對工業(yè)領(lǐng)域的重要性
 1.3 電阻率測試對地質(zhì)物探領(lǐng)域的鶯要性
 1.4 電阻率測試對醫(yī)學(xué)領(lǐng)域的重要性
 1.4.1 腦中風(fēng)的檢測與監(jiān)護(hù)
 1.4.2 肺梗塞的診斷
 1.4.3 乳腺腫瘤的診斷
 1.4.4 其他應(yīng)用
2 四探針法電阻率測量基本原理
3 靜電場數(shù)值計算有限元方法
4 范德堡法及其改進(jìn)法電阻率測量基本原理
5 魯美采夫斯基法及其改進(jìn)法電阻率測量基本原理
6 電阻率Mapping技術(shù)
7 電阻率測試的EIT技術(shù)
8 外延片的電阻率測試
9 接觸電阻的測量
10 電阻率測試的測準(zhǔn)條件
參考文獻(xiàn)

圖書封面

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