微米-納米材料微觀結(jié)構(gòu)表征

前言

微米、納米尺度的材料是材料領(lǐng)域的一個(gè)重要分支。材料微觀結(jié)構(gòu)的研究在完善材料的制備工藝、提高材料的性能方面起著橋梁作用。作者在應(yīng)用透射電子顯微鏡研究微米、納米材料的微觀結(jié)構(gòu)方面解決了從微觀試樣中獲得可用透射電子顯微鏡研究的納米厚度薄膜的難題。本書(shū)圖文并茂，書(shū)中所有照片均選自作者的科研工作，不少照片難得一見(jiàn)。本書(shū)在揭示微觀材料的微觀結(jié)構(gòu)方面給人們以新的啟示，是一本值得一讀的原作。

內(nèi)容概要

本書(shū)以微米一納米顆粒試樣、纖維試樣、多層膜或含界面的試樣為例，重點(diǎn)介紹了RTO金屬包埋切片微米一納米表征法在材料和冶金研究中的應(yīng)用。內(nèi)容主要包括微米一納米材料微觀結(jié)構(gòu)表征概述、微米一納米顆粒材料微觀結(jié)構(gòu)表征、微米一納米纖維材料微觀結(jié)構(gòu)表征、多層膜和含界面材料微觀結(jié)構(gòu)表征、鋼中非金屬夾雜物無(wú)損傷電解分離和電子顯微鏡表征等。    本書(shū)適合從事冶金、材料研究的工作者和大學(xué)材料、冶金專(zhuān)業(yè)的師生閱讀參考。

書(shū)籍目錄

第一章　微米一納米材料微觀結(jié)構(gòu)表征概述　第一節(jié)  微米一納米材料微觀結(jié)構(gòu)透射電子顯微鏡常用表征法    一、微米一納米顆粒試樣微觀結(jié)構(gòu)的表征    二、微米一納米纖維試樣微觀結(jié)構(gòu)的表征    三、微米一納米多層膜或含有界面的試樣微觀結(jié)構(gòu)的表征　第二節(jié)　RTO金屬包埋切片微米一納米表征法    一、RTO表征法對(duì)微米一納米顆粒試樣的表征      二、RTO表征法對(duì)微米一納米纖維試樣的表征      三、RTO表征法對(duì)多層膜或含有界面的試樣的表征第二章　微米-納米顆粒材料微觀結(jié)構(gòu)表征　第一節(jié)  微米沸石顆粒分子篩中cdse納米團(tuán)簇組裝過(guò)程的表征    一、半導(dǎo)體cdse納米團(tuán)簇的組裝過(guò)程    二、半導(dǎo)體Cdse納米團(tuán)簇組裝過(guò)程的表征　第二節(jié)　顆粒表面改性微觀結(jié)構(gòu)表征    一、高嶺土顆粒表面改性制備鈦白代用品微觀結(jié)構(gòu)表征    二、三氧化二鋁包覆顆粒微觀結(jié)構(gòu)表征    三、鋁酸鎂納米包覆顆粒微觀結(jié)構(gòu)表征　第三節(jié)  電容鉭粉及鉭電容微觀結(jié)構(gòu)表征    一、電容鉭粉簡(jiǎn)介    二、鉭粉的生產(chǎn)工藝    三、鉭電容的結(jié)構(gòu)與制造工藝    四、鉭粉微觀形貌與微觀結(jié)構(gòu)表征    五、鉭電容微觀結(jié)構(gòu)表征　第四節(jié)  鑄鐵中幾種典型石墨微觀結(jié)構(gòu)表征    一、研究背景    二、鑄鐵中幾種典型石墨的形貌    三、鑄鐵中幾種典型石墨的微觀結(jié)構(gòu)    四、球墨鑄鐵中球狀石墨的異質(zhì)核心　　五、鑄鐵中石墨的變態(tài)規(guī)律    六、球墨鑄鐵熔煉中石墨球化的雙因素理論　第五節(jié)　含鎢粉體顆粒微觀形貌和微觀結(jié)構(gòu)表征    一、氧化鎢粉體顆粒微觀形貌和微觀結(jié)構(gòu)表征    二、碳化鎢粉體顆粒微觀形貌和微觀結(jié)構(gòu)表征    三、硬質(zhì)合金中碳化鎢大晶粒形貌表征    四、碳化鎢復(fù)合粉形貌和微觀結(jié)構(gòu)表征　第六節(jié)  水熱合成Y型分子篩微觀結(jié)構(gòu)表征    一、高嶺土的化學(xué)組成和形貌    二、高嶺土的微觀結(jié)構(gòu)    三、偏高嶺土的微觀結(jié)構(gòu)    四、Y型分子篩的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)    五、偏高嶺土水熱合成Y型分子篩    六、水熱合成Y型分子篩的熱力學(xué)條件    七、不同晶化時(shí)間固體產(chǎn)物形貌的變化    八、Y型分子篩的高分辨電子顯微鏡表征    九、納米Y型分子篩復(fù)合材料的制備及形成機(jī)理　第七節(jié)　幾種顆粒試樣微觀結(jié)構(gòu)表征    一、隱身材料顆粒試樣微觀結(jié)構(gòu)表征    二、電池材料顆粒試樣微觀結(jié)構(gòu)表征    三、艦船涂料粉體顆粒加工過(guò)程中微觀結(jié)構(gòu)表征    四、羰基鐵粉顆粒微觀結(jié)構(gòu)表征    五、Al2O3粉體顆粒的形貌和結(jié)構(gòu)    六、zrO2顆粒微觀結(jié)構(gòu)表征    七、Ni(oH)2顆粒微觀結(jié)構(gòu)表征    八、鋁一鋰多組分合金顆粒微觀結(jié)構(gòu)表征    九、催化劑粉體顆粒中活性元素分布的表征    十、微米二氧化硅顆粒微觀結(jié)構(gòu)表征第三章　微米一納米纖維材料微觀結(jié)構(gòu)表征　第一節(jié)  納米碳纖維微觀結(jié)構(gòu)的高分辨電子顯微鏡表征　第二節(jié)　微米碳纖維微觀結(jié)構(gòu)表征    一、微米碳纖維的微觀結(jié)構(gòu)    二、微米碳纖維中的夾雜物　第三節(jié)　Nb-Ti超導(dǎo)芯絲微觀結(jié)構(gòu)表征    一、鈮鈦超導(dǎo)合金    二、常規(guī)Nb-Ti超導(dǎo)體第四章　多層膜和含界面材料微觀結(jié)構(gòu)表征第五章　鋼中非金屬夾雜物無(wú)損傷電解分離和電子顯微鏡表征

章節(jié)摘錄

插圖：第一章　微米-納米材料微觀結(jié)構(gòu)表征概述透射電子顯微鏡是研究微米-納米材料微觀結(jié)構(gòu)的重要手段。透射電子顯微鏡一般分為分析型透射電子顯微鏡和高分辨率透射電子顯微鏡。透射電子顯微鏡主要是研究試樣的內(nèi)部形貌、晶體結(jié)構(gòu)、晶粒大小、物相特點(diǎn)、晶體缺陷等；配以能譜還可以研究元素在試樣內(nèi)部的存在狀態(tài)或分布情況。目前，分析型透射電子顯微鏡的底片放大倍數(shù)一般最高為30萬(wàn)倍，高分辨率透射電子顯微鏡的底片放大倍數(shù)最高為150萬(wàn)倍，底片經(jīng)光學(xué)放大，照片可達(dá)1000～2000萬(wàn)倍。透射電子顯微鏡電子束一般只能穿透納米厚度的試樣。用透射電子顯微鏡研究試樣微觀結(jié)構(gòu)時(shí)，首先必須從試樣中切取透射電子顯微鏡電子束可以穿透的納米厚度的薄膜。目前，國(guó)內(nèi)外已有一些比較成熟的方法可以從相對(duì)宏觀的試樣，即用普通方法可以切割、磨拋的試樣中切取透射電子顯微鏡電子束可以穿透的薄膜；但是，還沒(méi)有其他成熟的技術(shù)可以從相對(duì)微觀的試樣，即用普通手段不能直接切割、磨拋的試樣中切取透射電子顯微鏡電子束可以穿透的薄膜。微米-納米材料試樣按形貌不同可分為顆粒狀試樣、纖維狀試樣、多層膜或含有界面的試樣。下面根據(jù)文獻(xiàn)報(bào)道，對(duì)這些試樣的微觀結(jié)構(gòu)用透射電子顯微鏡進(jìn)行表征的常用方法作一簡(jiǎn)述。

編輯推薦

《微米-納米材料微觀結(jié)構(gòu)表征》為冶金工業(yè)出版社出版。

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