現(xiàn)代物理測試技術(shù)

內(nèi)容概要

《現(xiàn)代物理測試技術(shù)》是高等學(xué)交教材科學(xué)與工程學(xué)科的本科生教材之一。    內(nèi)容包括材料的物理測試技術(shù)中廣泛應(yīng)用的X射線衍射分析、透射電鏡分析以及應(yīng)用日廣的掃描電鏡及其EBSP分析、中子衍射分析和正受關(guān)注的某些表面分析技術(shù)。教材著重闡述各項技術(shù)及相應(yīng)設(shè)備的工作原理，力求概念正確、清晰、形象。為便于學(xué)習(xí)，增加晶體學(xué)概要一章，并在各章后附有適量的習(xí)題。    本書適用于金屬材料及無機非金屬材料等專業(yè)的教學(xué)；材料科學(xué)與工程其他各專業(yè)亦可參考或采用。

作者簡介

梁志德，1929年生，河北豐潤人，1951年北洋大學(xué)冶金系華業(yè)，現(xiàn)為東北大學(xué)教授、博士生導(dǎo)師。一直從事教學(xué)與科研工作。因系統(tǒng)發(fā)展了現(xiàn)代織構(gòu)分析（ODF分析）而為國際組織界所重視，應(yīng)邀擔(dān)任《Textures and Microstructures》編委及國際材料組織會議（ICONTOM）常設(shè)國際委

書籍目錄

1 晶體學(xué)概要  1.1 晶體的對稱性  1.2 點群與晶系  1.3 晶體結(jié)構(gòu)、空間點陣、空間群  1.4 晶體學(xué)參數(shù)  1.5 晶帶  1.6 倒易點陣  1.7 晶體投影  習(xí)題2 X射線及其與物質(zhì)的相互作用  2.1 X射線的性質(zhì)  2.2 X射線的產(chǎn)生  2.3 X射線管的X射線譜  2.4 X射線在物質(zhì)中的衰減  2.5 X射線的防護(hù)  習(xí)題3 X射線衍射實驗基礎(chǔ)  3.1 一個電子射X射線的散射  3.2 一個原子對X射線的散射  3.3 簡單晶體對X射線的衍射  3.4 復(fù)雜晶體對X射線的衍射  3.5 衍射實驗方法概要  3.6 衍射實驗的愛瓦德作圖法  習(xí)題4 X射線衍射基本實驗技術(shù)  4.1 粉末照相法  4.2 多晶衍射儀法  4.3 X射線能量色散測量  4.4 多晶衍射花樣的度量和指數(shù)化  4.5 多晶衍射技術(shù)的發(fā)展  4.6 單晶衍射技術(shù)——勞埃法  習(xí)題5 X射線（多晶）衍射技術(shù)的若干應(yīng)用  5.1 晶塊尺寸與微觀應(yīng)力的測定  5.2 晶胞常數(shù)的精確測定  5.3 織構(gòu)的測定  5.4 宏觀應(yīng)力的測定  5.5 物相分析  5.6 晶體結(jié)構(gòu)6 X射線小角度用射、貌相分析及擴展X射線吸收譜分析簡介  6.1 X射線小角度散射  6.2 X射線衍射貌相分析  6.3 擴展X射級吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)  習(xí)題7 透射電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)與功能  7.1 電子波  7.2 電子透鏡  7.3 電子顯微鏡的構(gòu)成  習(xí)題8 電鏡中的電子衍射分析  8.1 斑點花樣及其解釋  8.2 菊池線花樣  8.3 會聚束衍射花樣（CBDP）簡介  習(xí)題9 電鏡顯微圖像及其解釋10 掃描電子顯微鏡11 電子衍射簡介12 表面探針及掃描隧道顯微鏡簡介主要參考文獻(xiàn)

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