材料研究與測(cè)試方法

出版時(shí)間:2001-5-1  出版社:冶金工業(yè)出版社  作者:張國(guó)棟  

內(nèi)容概要

本書為原冶金工業(yè)部“九五”規(guī)劃教材之一。全書分八章介紹了應(yīng)用于教材中的研究方法和測(cè)試技術(shù),主要內(nèi)容有結(jié)晶學(xué)基礎(chǔ)、X射線衍射分析、電子顯微鏡、熱分析、振動(dòng)光譜、穆斯堡爾譜及核磁共振等各種測(cè)試方法的基本原理、儀器設(shè)備以及在材料研究當(dāng)中的應(yīng)用。本書為材料工程類專業(yè)本科生教材,亦可以作為相關(guān)專業(yè)及從事材料科學(xué)研究的科技人員、研究生的參考書。

書籍目錄

第一章 結(jié)晶學(xué)基礎(chǔ)第一節(jié) 晶體及其基本性質(zhì)……第二章 X射線衍射分析第一節(jié) X射線的產(chǎn)生與性質(zhì)……第三章 高溫物相分析第一節(jié) 概述……第四章 透射電子顯微鏡第一節(jié) 引言……第五章 掃描電子顯微鏡第一節(jié) 引言……第六章 電子探針顯微分析第一節(jié) 引言……第七章 振動(dòng)光譜第一節(jié) 振動(dòng)光譜的基本原理……第八章 穆斯堡爾譜及核磁共振第一節(jié) 穆斯堡爾譜基本原理……參考文獻(xiàn)

編輯推薦

本書為原冶金工業(yè)部“九五”規(guī)劃教材之一。全書分八章介紹了應(yīng)用于教材中的研究方法和測(cè)試技術(shù),主要內(nèi)容有結(jié)晶學(xué)基礎(chǔ)、X射線衍射分析、電子顯微鏡、熱分析、振動(dòng)光譜、穆斯堡爾譜及核磁共振等各種測(cè)試方法的基本原理、儀器設(shè)備以及在材料研究當(dāng)中的應(yīng)用。本書為材料工程類專業(yè)本科生教材,亦可以作為相關(guān)專業(yè)及從事材料科學(xué)研究的科技人員、研究生的參考書。

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用戶評(píng)論 (總計(jì)2條)

 
 

  •   真的要感謝我的一位高中同學(xué)才好,當(dāng)時(shí)我很急需這本書,因?yàn)檫€有幾天就要研究生復(fù)試了,我報(bào)的是材料專業(yè),可這本書的內(nèi)容從來(lái)沒(méi)有接觸過(guò)。我的那位同學(xué)推薦了這個(gè)網(wǎng)站,讓我進(jìn)來(lái)看看。結(jié)果真的找到了這本書。呵呵,,,太謝謝我的那位同學(xué)和貴網(wǎng)站了,從發(fā)出訂單到收到這本書僅僅用了2天。這本書的內(nèi)容都很精煉,很適合像我第一次接觸該類專業(yè)的人。離復(fù)試只有4天,結(jié)果復(fù)試通過(guò)了。呵呵,,,,
  •   材料科學(xué)是未來(lái)的熱門,好好學(xué)習(xí)吧
 

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