出版時(shí)間:2001-5-1 出版社:冶金工業(yè)出版社 作者:張國(guó)棟
內(nèi)容概要
本書為原冶金工業(yè)部“九五”規(guī)劃教材之一。全書分八章介紹了應(yīng)用于教材中的研究方法和測(cè)試技術(shù),主要內(nèi)容有結(jié)晶學(xué)基礎(chǔ)、X射線衍射分析、電子顯微鏡、熱分析、振動(dòng)光譜、穆斯堡爾譜及核磁共振等各種測(cè)試方法的基本原理、儀器設(shè)備以及在材料研究當(dāng)中的應(yīng)用。本書為材料工程類專業(yè)本科生教材,亦可以作為相關(guān)專業(yè)及從事材料科學(xué)研究的科技人員、研究生的參考書。
書籍目錄
第一章 結(jié)晶學(xué)基礎(chǔ)第一節(jié) 晶體及其基本性質(zhì)……第二章 X射線衍射分析第一節(jié) X射線的產(chǎn)生與性質(zhì)……第三章 高溫物相分析第一節(jié) 概述……第四章 透射電子顯微鏡第一節(jié) 引言……第五章 掃描電子顯微鏡第一節(jié) 引言……第六章 電子探針顯微分析第一節(jié) 引言……第七章 振動(dòng)光譜第一節(jié) 振動(dòng)光譜的基本原理……第八章 穆斯堡爾譜及核磁共振第一節(jié) 穆斯堡爾譜基本原理……參考文獻(xiàn)
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本書為原冶金工業(yè)部“九五”規(guī)劃教材之一。全書分八章介紹了應(yīng)用于教材中的研究方法和測(cè)試技術(shù),主要內(nèi)容有結(jié)晶學(xué)基礎(chǔ)、X射線衍射分析、電子顯微鏡、熱分析、振動(dòng)光譜、穆斯堡爾譜及核磁共振等各種測(cè)試方法的基本原理、儀器設(shè)備以及在材料研究當(dāng)中的應(yīng)用。本書為材料工程類專業(yè)本科生教材,亦可以作為相關(guān)專業(yè)及從事材料科學(xué)研究的科技人員、研究生的參考書。
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