核輻射探測及核技術(shù)應(yīng)用實(shí)驗(yàn)

出版時間:2010-12  出版社:原子能出版社  作者:曹利國  頁數(shù):254  

內(nèi)容概要

  《核輻射探測及核技術(shù)應(yīng)用實(shí)驗(yàn)》是一本基礎(chǔ)性、綜合性的高等學(xué)校實(shí)驗(yàn)教材。涉及核輻射探測、核技術(shù)應(yīng)用、核安全防護(hù)和鈾礦資源勘查,以及射線與物質(zhì)相互作用、天然放射性分析、熱釋光測量、X射線熒光方法和中子活化等方面的基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)。  對實(shí)驗(yàn)設(shè)備首次采用了“信息共享網(wǎng)絡(luò)”的特殊安排,在保證實(shí)驗(yàn)正常進(jìn)行的前提下簡化了實(shí)驗(yàn)設(shè)備、減少了輻射污染和相互干擾。教材中新設(shè)計了一些實(shí)驗(yàn),采取了一些新的實(shí)驗(yàn)方法。為開拓學(xué)生的思路和提高學(xué)生的實(shí)際工作能力提供了必要的條件?! ∵m用于大學(xué)本科核儀器儀表、核技術(shù)應(yīng)用和鈾礦資源勘查以及相關(guān)專業(yè)的學(xué)生使用。

作者簡介

  曹利國,1937年生于重慶,中共黨員。1958年北京地質(zhì)學(xué)院(現(xiàn)名中國地質(zhì)大學(xué))研究生畢業(yè)。成都理工大學(xué)核技術(shù)應(yīng)用及核地球物理學(xué)教授。獲院、省、部級科技獎多項和國家科技進(jìn)步二等獎一項。政府特殊津貼獲得者。先后在長春地質(zhì)學(xué)院(現(xiàn)并入吉林大學(xué))、成都地質(zhì)學(xué)院(現(xiàn)名成都理工大學(xué))從事人工放射性物探方法及核技術(shù)應(yīng)用的教學(xué)、科研工作。在工作期間曾掇任實(shí)驗(yàn)室主任、教研室主任、系副主任及系學(xué)術(shù)委員會副主任,并兼任原核工業(yè)部教材編審委員會委員及四川大學(xué)教育部核輻射開放實(shí)驗(yàn)室學(xué)術(shù)委員會委員。1963年以來,共發(fā)表科研論文30余篇。主要著作有《X射線熒光探礦技術(shù)》、《核地球物理勘查方法》、《能量色散X射線熒光方法》等。

書籍目錄

前言基礎(chǔ)篇緒論第一章 數(shù)理統(tǒng)計概念第二章 測量數(shù)據(jù)的處理第三章 實(shí)驗(yàn)室總體布置第四章 核輻射防護(hù)基本知識上篇實(shí)驗(yàn)1 核輻射探測系統(tǒng)及測量儀表實(shí)驗(yàn)2 G-M計數(shù)管的信息傳送和放大實(shí)驗(yàn)3 放射性現(xiàn)象的統(tǒng)計特征實(shí)驗(yàn)4 a射線在空氣中的吸收實(shí)驗(yàn)5 Nal( Tl)閃爍探測器的組成及其“坪”曲線的測定實(shí)驗(yàn)6 Nal( Tl)閃爍譜儀測定γ射線譜及能量刻度實(shí)驗(yàn)7 γ輻射儀的標(biāo)定實(shí)驗(yàn)8 γ射線在物質(zhì)中的吸收實(shí)驗(yàn)9 鈾礦床(模型)的勘探實(shí)驗(yàn)10 正比計數(shù)器測定元素X射線譜實(shí)驗(yàn)11 康普頓一吳有訓(xùn)散射譜與散射角的關(guān)系實(shí)驗(yàn)12 等效密度測定(骨密度計)實(shí)驗(yàn)13 鍍層、涂層厚度的X射線熒光測量方法下篇實(shí)驗(yàn)14 直流高壓獲取與性能測試實(shí)驗(yàn)15 線性脈沖放大電路的仿真實(shí)驗(yàn)16 平方反比定律的驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)17 CMOS單道脈沖幅度分析器實(shí)驗(yàn)18 釷射氣220 Rn半衰期及衰變常數(shù)的測定實(shí)驗(yàn)19 β射線在物質(zhì)中的吸收實(shí)驗(yàn)20 γ射線穿過物質(zhì)時儀器譜成分的變化實(shí)驗(yàn)21 散射料位測量實(shí)驗(yàn)22 γ射線反散射譜的影響因素實(shí)驗(yàn)23 半導(dǎo)體探測器γ譜儀實(shí)驗(yàn)24 熱釋光測量原理及最佳測試條件的選擇實(shí)驗(yàn)25 BF3中子計數(shù)器及中子場分布實(shí)驗(yàn)26 天然放射性方法測定礦石中的鈾含量實(shí)驗(yàn)27 正比計數(shù)器工作狀態(tài)的選擇實(shí)驗(yàn)28 能量色散X熒光分析技術(shù)--譜測量與分析實(shí)驗(yàn)29 Si( Li)半導(dǎo)體探測器實(shí)驗(yàn)30 X射線管-Si-PIN X射線譜儀特性研究實(shí)驗(yàn)31 輕元素薄膜厚度測量實(shí)驗(yàn)32 吸收法料位測量實(shí)驗(yàn)33 γ散射法探測介質(zhì)內(nèi)部缺陷實(shí)驗(yàn)34 水中泥沙含量測定實(shí)驗(yàn)35 中子活化反應(yīng)及生成核素半衰期測定研究性實(shí)驗(yàn)實(shí)驗(yàn)36 覆蓋層下圖像的研究實(shí)驗(yàn)37 工業(yè)CT初探及圖象重建實(shí)驗(yàn)38 活性炭吸附測環(huán)境中的氡濃度實(shí)驗(yàn)39 增量法作單元素X射線熒光分析實(shí)驗(yàn)40 蒙特卡羅方法模擬γ射線穿過物質(zhì)時譜成分的變化附錄附錄A 元素周期表附錄B 元素吸收限及特征X射線能量附錄C 天平的使用附錄D 長度的測量附錄E 低功率高電壓的測量

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