近代光學測試技術

內容概要

　　隨著近代科學技術和工業(yè)技術的迅速發(fā)展，傳統(tǒng)的光學機械測試方法已日益不適應近代工業(yè)和科學技術提出的高精度。高效率與自動化的測試要求。在精密測試領域中，必須注入新的活力，激光和計算機技術的出現(xiàn)和二者的結合為新的測試技術開辟了一條新的途徑。為促進精密測試技術和光學工業(yè)本身的現(xiàn)代化和便于各學科之間的相互促進和滲透，我們根據(jù)科研與教學工作的需要，從近代光學的角度，系統(tǒng)的編寫了這《近代光學測試技術》。

書籍目錄

前章　 光學測試技術綜述編著：楊國光§0-1　領域與特點一、研究領域二、技術特色§0-2　技術現(xiàn)狀§0-3　方法的選擇§0-4　技術發(fā)展的方向本章參考文獻第一章　光干涉技術　編著：卓永模§1-1　光干涉的基礎知識一、相干光場的性質　　二、兩個相干波的疊加　 三、部分相干理論　四、干涉儀常用的光源及激光光源　五、干涉條紋的間隔和形狀§l－2　近代干涉測試技術　一、泰曼一格林干涉儀測試　二、典型的雙光束干涉圖及其分析　三、任意波前的干涉圖分析　四、共路干涉儀測試§1－3　多通道干涉儀測試　 一、雙通道干涉儀　二、多通道干涉儀§1—4　波面位相的實時檢測技術　一、條紋掃描波面位相實時檢測　　二、共路錯位掃描干涉儀　三、實時橫向錯位干涉儀　四、外差干涉位相檢測　五、鎖相干涉技術　六、雙波長條紋掃描干涉儀　七、空間調制的波面位相檢測§1-5　長度(間隔、高度、振幅)的激光干涉　一、激光干涉測長的工作原理及特點　二、激光干涉測長應解決的幾個問題　三、激光干涉測長的應用……

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　　隨著近代科學技術和工業(yè)技術的迅速發(fā)展，傳統(tǒng)的光學機械測試方法已日益不適應近代工業(yè)和科學技術提出的高精度。高效率與自動化的測試要求。在精密測試領域中，必須注入新的活力，激光和計算機技術的出現(xiàn)和二者的結合為新的測試技術開辟了一條新的途徑。為促進　　精密測試技術和光學工業(yè)本身的現(xiàn)代化和便于各學科之間的相互促進和滲透，我們根據(jù)科研與教學工作的需要，從近代光學的角度，系統(tǒng)的編寫了這本書?！　±霉鈱W進行精密測試，一直是測試技術領域中的主要方法。由于光學測試方法的非接觸　　性，高靈敏度性，高精度性以及光學圖像的二維計量性，在應用上十分有意義。但近代對測試技術提出了三維性，相關性及實時性，要求更高的靈敏度和精度。傳統(tǒng)的普通光學方法已不能適應。為此，70年代以來國內外主要發(fā)展以激光為中心的精密測試技術；特別是激光與計算機結合的近代光學測試技術，這種技術是以近代光學為基礎來實現(xiàn)精密計量與測試。近代光學測試技術的任務與手段主要是：　　(1)靜態(tài)的三維測量這主要是靜態(tài)表面(包括粗糙表面、高溫表面、柔性表面、液面)的三維形狀與變形測量，這方面發(fā)展的新方法主要是：全息法、莫爾法、散斑法、光掃描法、光衍射法以及實時干涉法等。　　(2)動態(tài)的參數(shù)測量　這主要指時間變動下對物體的測量。例如，測長、測振、測速、測微小變形等。發(fā)展的新方法有光學零差法、外差法以及激光多普勒法、光導纖維法等。　　(3)實時測量 這主要指空間與時間都變動下的測量，新發(fā)展的方法是各種光電實時測試技術，例如，光掃描法、信息處理法、數(shù)字圖像測試法等。　　(4)相關測試從測試比較中找到物體相同點與不同點。這方面主要發(fā)展傅里葉頻譜分析，激光光譜技術等方法。　　本書則以上述內容為中心，分十章以專題形式從十個方面來綜述國內外自70年代以來新　　發(fā)展的各種光學測試新技術。為使篇幅不致太多，本書有選擇的略去7一些方面，例如，高速攝影測試技術，散射測試技術，偏振、光度、色度測試技術等。而主要介紹發(fā)展比較成熟、技術比較先進而又有一定應用意義的方法。　　本書主要是為光學、光學儀器、精密儀器儀表專業(yè)的大專和本科學生、研究生編寫的一本　　專業(yè)參考書。為便于其他專業(yè)的技術人員學習閱讀，在每章中都有適當?shù)娜腴T基礎介紹，特別　　是第一章與第二章。另外，每章附有參考書目與文獻，便于讀者進一步深入，從中找到有價值的材料。　　本書編著者雖都是直接從事這方面技術工作的專業(yè)人員，但由于本書在技術上較新，涉及　　面又廣，經(jīng)驗不足，因此在取材和編寫上肯定有不妥和錯誤之處，望讀者及時指正?！　【幹摺　?983年12月　　于浙江大學

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