SOC/ASIC設(shè)計(jì).驗(yàn)證和測(cè)試方法學(xué)

內(nèi)容概要

本書(shū)闡述設(shè)計(jì)系統(tǒng)芯片(SOC)所需的新的設(shè)計(jì)、驗(yàn)證和測(cè)試方法學(xué)，其基本原理同樣適合于超大規(guī)模專用集成電路芯片(ASIC)的設(shè)計(jì)。 本書(shū)分兩大部分：第一部分為1～5章，是本書(shū)方法學(xué)的主要內(nèi)容；第二部分為6，7章，介紹實(shí)際的電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化(EDA)工具和設(shè)計(jì)環(huán)境。第1章簡(jiǎn)述集成電路的發(fā)展，介紹國(guó)際半導(dǎo)體技術(shù)路線圖，以及SOC設(shè)計(jì)所面臨的挑戰(zhàn)。第2章闡述SOC設(shè)計(jì)方法學(xué)，包括SOC的模型、設(shè)計(jì)分層，介紹設(shè)計(jì)重用和虛擬插座接口技術(shù)。第3章闡述SOC／ASIC驗(yàn)證方法學(xué)，包括功能驗(yàn)證、等價(jià)驗(yàn)證、靜態(tài)分析驗(yàn)證、物理驗(yàn)證等。第4章闡述SOC／ASIC測(cè)試方法學(xué)，介紹集成電路測(cè)試技術(shù)和可測(cè)試性設(shè)計(jì)方法。第5章介紹設(shè)計(jì)集成電路常用的硬件描述語(yǔ)言及其新發(fā)展，包括SystemC，SystemVeri—log，OpenVera等語(yǔ)言。第6章介紹synopsys公司的EDA系統(tǒng)，以及相應(yīng)的IC設(shè)計(jì)和驗(yàn)證方法學(xué)。第7章給出一個(gè)Philips S0C設(shè)計(jì)平臺(tái)的實(shí)例。     本書(shū)主要是面向進(jìn)入IC設(shè)計(jì)領(lǐng)域工作的科技人員、相關(guān)專業(yè)大學(xué)生和研究生，以及對(duì)高新技術(shù)有興趣、需要更新知識(shí)的人群。

作者簡(jiǎn)介

沈理，男，1937年10月出生，浙江省人。1959年畢業(yè)于浙江大學(xué)電機(jī)工程系，并進(jìn)入中國(guó)科學(xué)院計(jì)算技術(shù)研究所工作。研究員，博士生導(dǎo)師。 
    從事計(jì)算機(jī)學(xué)科領(lǐng)域的研究工作。早期曾參加我國(guó)第一臺(tái)大型電子管計(jì)算機(jī)——104機(jī)的研究工作，以及多臺(tái)計(jì)算機(jī)的電路研究和體系結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)工作。1979年后從事容錯(cuò)計(jì)算等基礎(chǔ)研究。1982～1984年，赴美國(guó)紐約州立大學(xué)Binghamton分校作訪問(wèn)學(xué)者，進(jìn)行VLSI測(cè)試研究。1985～1988年，進(jìn)行測(cè)試?yán)碚摰幕A(chǔ)研究。主持完成一個(gè)國(guó)家自然科學(xué)基金項(xiàng)目的研究；并參加“七五”國(guó)家重點(diǎn)科技攻關(guān)項(xiàng)目“測(cè)試方法研究及應(yīng)用”的工作，獲1992年中科院自然科學(xué)獎(jiǎng)二等獎(jiǎng)。1989～1991年，參加國(guó)家863計(jì)劃課題研制工作，其中后兩年赴美國(guó)參加國(guó)際科技合作，進(jìn)行工作站設(shè)計(jì)和AsIc設(shè)計(jì)。1992年后進(jìn)行軟計(jì)算和模糊系統(tǒng)等基礎(chǔ)研究。連續(xù)主持“八五”、“九五”863計(jì)劃項(xiàng)目，“九五”中科院基礎(chǔ)性研究重點(diǎn)項(xiàng)目，國(guó)家自然科學(xué)基金項(xiàng)目的研究工作。1995年研制成功模糊推理控制芯片F(xiàn)100，達(dá)到國(guó)內(nèi)領(lǐng)先水平和20世紀(jì)90年代初國(guó)際水平。2000年研制成功新一代模糊推理控制芯片F(xiàn)200。申請(qǐng)中國(guó)發(fā)明專利兩項(xiàng)，發(fā)表論文90余篇，譯著1部。 
    1990年后任中國(guó)計(jì)算機(jī)學(xué)會(huì)容錯(cuò)計(jì)算專業(yè)委員會(huì)委員。1998年后任中國(guó)自動(dòng)化學(xué)會(huì)智能自動(dòng)化專業(yè)委員會(huì)委員。美國(guó)IEEE高級(jí)會(huì)員。 
    研究方向：VLSI測(cè)試，SOC設(shè)計(jì)，容錯(cuò)計(jì)算，計(jì)算智能，模糊系統(tǒng)。

書(shū)籍目錄

第1章 緒論  1.1  集成電路工業(yè)發(fā)展里程碑  1.2  半導(dǎo)體技術(shù)發(fā)展路線圖  1.3  集成電路設(shè)計(jì)驅(qū)動(dòng)  1.4  soc設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)  參考文獻(xiàn)第2章 SOC設(shè)計(jì)  2.1  SOC模型  2.2  SOC設(shè)計(jì)分層  2.3  SOC系統(tǒng)設(shè)計(jì)  2.4  SOC硬件設(shè)計(jì)  2.5  SOC設(shè)計(jì)重用技術(shù)  2.6  S0c設(shè)計(jì)方法學(xué)  參考文獻(xiàn)第3章 SOC／ASIC驗(yàn)證  3.1  驗(yàn)證技術(shù)概述  3.2  模擬  3.3  驗(yàn)證測(cè)試程序自動(dòng)化  3.4  Lint檢驗(yàn)  3.5  靜態(tài)時(shí)序分析  3.6  形式等價(jià)檢驗(yàn)  3.7  形式模型檢驗(yàn)  3.8  定理證明驗(yàn)證  3.9  斷言驗(yàn)證  3.10  集成電路設(shè)計(jì)的驗(yàn)證方法學(xué)  參考文獻(xiàn)第4章 SOC／ASIC測(cè)試  4.1  測(cè)試技術(shù)概述  4.2  故障模擬  4.3  自動(dòng)測(cè)試向量生成  4.4  電流測(cè)試  4.5  存儲(chǔ)器測(cè)試  4.6  可測(cè)試性設(shè)計(jì)技術(shù)  4.7  掃描設(shè)計(jì)  4.8  邊界掃描設(shè)計(jì)  4.9  內(nèi)建自測(cè)試(BIST)  4.10  存儲(chǔ)器的可測(cè)試性設(shè)計(jì)  4.11  SOC的可測(cè)試性設(shè)計(jì)  4.12  可調(diào)試性設(shè)計(jì)  4.13  可制造性設(shè)計(jì)和可維護(hù)性設(shè)計(jì)  4.14  集成電路的測(cè)試方法學(xué)  參考文獻(xiàn)第5章  集成電路設(shè)計(jì)語(yǔ)言第6章  Synopsys EDA系統(tǒng)第7章  SOC設(shè)計(jì)平臺(tái)實(shí)例——Philips Nexperia-DVP附錄 英文縮寫(xiě)詞

編輯推薦

　　本書(shū)闡述設(shè)計(jì)系統(tǒng)芯片（SOC）所需的新的設(shè)計(jì)、驗(yàn)證和測(cè)試方法學(xué)，其基本原理同樣適合于超大規(guī)模專用集成電路芯片（ASIC）的設(shè)計(jì)?！”緯?shū)主要是面向進(jìn)入IC設(shè)計(jì)領(lǐng)域工作的科技人員、相關(guān)專業(yè)大學(xué)生和研究生，以及對(duì)高新技術(shù)有興趣、需要更新知識(shí)的人群。

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