晶體光學(xué)

內(nèi)容概要

晶體光學(xué)是研究透射光下礦物晶體的光學(xué)性質(zhì)的一門科學(xué)。它不僅是（薄片）巖石學(xué)研究的基礎(chǔ)，而且已被廣泛應(yīng)用于建材、化工、醫(yī)藥等領(lǐng)域中各種人工合成材料（如陶瓷、玻璃、鑄石）的光性特征研究。      晶體光學(xué)有著近百年的發(fā)展歷史，在眾多物理學(xué)家、礦物學(xué)家和巖石學(xué)家的不懈探索之下，它在理論及其應(yīng)用方面已趨于完整和成熟。然而，隨著科學(xué)技術(shù)的進(jìn)一步更新和提高，晶休光學(xué)串終部分☆客及其表述形式仍有待于修正和補充。在南京大學(xué)地球科學(xué)系編著的《晶體光學(xué)》基礎(chǔ)上，筆者廣泛吸收國內(nèi)外同類教材的長處，并結(jié)合多年來的教學(xué)實踐經(jīng)驗，重新整理和編著了一本更加簡明、規(guī)范的《晶體光學(xué)》，以適應(yīng)現(xiàn)代教學(xué)和科研的嚴(yán)格要求。    在本書中，筆者修正了舊版教材中少數(shù)含義不明確的術(shù)語，重新限定了一些術(shù)語的適用范圍；同時加強了重點、疑難內(nèi)容的講解，并盡可能通過圖解的方式加以闡述。本書為國內(nèi)外首次出版的彩色版本的《晶體光學(xué)》，全部的彩色插圖和照片表現(xiàn)細(xì)致多樣而又有層次感、精確直觀而又有美感，必將給讀者留下深刻的印象。本書補充了《晶體光學(xué)》的實驗指導(dǎo)和報告，便于非在校的讀者了解和自修《晶體光學(xué)》課程的全部內(nèi)容。書末以附錄形式列出了晶體光學(xué)詞匯的中英對照及其索引，將有助于參考和查閱。

書籍目錄

第一章　基本概念  　1.1　光的性質(zhì)與傳播  　1.2　自然光和偏光  　1.3　光的折射與全反射  　1.4　折射率與折射率儀  　1.5　光的雙折射  　1.6　一軸晶和二軸晶  　1.7　習(xí)題  第二章　光率體  　2.1　光率體  　2.2　一軸晶光率體  　2.3　二軸晶光率體  　2.4　光率體的主要參數(shù)  　2.5　光性方位  　2.6　習(xí)題  第三章　偏光顯微鏡  　3.1　偏光顯微鏡的構(gòu)造  　3.2　偏光顯微鏡的光學(xué)系統(tǒng)  　3.3　偏光顯微鏡的調(diào)節(jié)  　3.4　薄片的制作  　3.5　習(xí)題  第四章　單偏光系統(tǒng)下晶體的光學(xué)性質(zhì)　4.1　形態(tài)  　4.2　解理  　4.3　吸收  　4.4　界面  　4.5　習(xí)題  第五章　正交偏光系統(tǒng)下晶體的光學(xué)性質(zhì)  　5.1　消光  　5.2　干涉原理  　5.3　干涉色  　5.4　干涉色級序的確定  　5.5　補色原理與補色器  　5.6　消光類型與消光角  　5.7　延性  　5.8　雙晶  　5.9　習(xí)題  第六章　聚斂偏光系統(tǒng)下晶體的光學(xué)性質(zhì)    6.1　聚斂偏光系統(tǒng)    6.2　一軸晶的干涉圖    6.3　二軸晶的干涉圖    6.4　光率體色散    6.5　習(xí)題  第七章　實驗  　7.1　實驗薄片中常見礦物的光性特征  　7.2　實驗一偏光顯微鏡的認(rèn)識和校正  　7.3　實驗二礦物折射率相對高低比較、解理角測量、多色性和吸收性觀察　7.4　實驗三干涉色級序的確定、消光角的測定、多色性和吸收性公式的測定　7.5　實驗四一軸晶干涉圖的認(rèn)識及光性符號的測定  　7.6　實驗五二軸晶干涉圖的認(rèn)識及光性符號的測定  　7.7　實驗六偏光顯微鏡下礦物主要光性的系統(tǒng)測定  參考文獻(xiàn)  《晶體光學(xué)》詞匯的中英對照及其索引

章節(jié)摘錄

插圖：第二章　光率體2.1 光率體根據(jù)非均質(zhì)礦物中的雙折射現(xiàn)象可以確定，晶體的折射率取決于光波振動方向上的晶體的物理性質(zhì)，即在同一個非均質(zhì)礦物中兩束傳播方向相同（光軸方向除外）、振動方向不同的光波必然具有不同的折射率，而兩束振動方向相同、傳播方向不同的光波必然具有相同的折射率。為了表示這種光波的振動方向與折射率之間的對應(yīng)關(guān)系，需要建立一個立體模型，稱之為光率體。對于一束任意方向的入射光，當(dāng)它進(jìn)入非均質(zhì)礦物后所產(chǎn)生的兩束偏光可以用兩根起始于晶體中心的線條表示出來：①線條的方向代表兩束偏光的振動方向。顯然，這兩根線條的方向垂直于入射光的傳播方向，同時它們又相互垂直，且根據(jù)入射面的方位，可以被具體地確定下來（詳見第一章1.6節(jié)）。②線條的長度代表兩束偏光的折射率。利用折射率儀，可以測出兩束偏光的折射率，然后按一定的比例截取兩根長度不等的線條。如果不斷地改變?nèi)松涔獾姆较?，就可以得到無數(shù)兩根一組、不同方向、不同長短、起始于晶體中心的線條，將每根線條的末端連接起來，就構(gòu)成一個似球狀的立體形態(tài)——光率體。

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《晶體光學(xué)(彩色版)》是由南京大學(xué)出版社出版的。

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