電子電路實(shí)驗(yàn)與課程設(shè)計

內(nèi)容概要

全書分為5篇。第1篇為模擬電路實(shí)驗(yàn)，第2篇為數(shù)字邏輯電路實(shí)驗(yàn)，第3篇為OrCAD在電子技術(shù)基礎(chǔ)中的應(yīng)用實(shí)驗(yàn)，第4篇為在系統(tǒng)可編程技術(shù)實(shí)驗(yàn)，第5篇為課程設(shè)計。附錄包括電子實(shí)驗(yàn)常用儀器使用介紹和常用元器件的參數(shù)及引腳排列、Cadence／PSpice 9．2．3軟件和ispLEVER軟件的操作方法、硬件描述語言Verilog HDL和ABLE簡介等內(nèi)容。　　本書可作為高等學(xué)?！澳M電子技術(shù)”、“數(shù)字電路與邏輯設(shè)計”等課程的配套實(shí)驗(yàn)教材和課程設(shè)計教材，也可供從事電子技術(shù)、計算機(jī)應(yīng)用與開發(fā)的科研人員和丁程技術(shù)人員學(xué)習(xí)參考。

作者簡介

　　本書是“模擬電子技術(shù)”和“數(shù)字電路與邏輯設(shè)計”的配套實(shí)驗(yàn)教材?！　∪缃耠娮蛹夹g(shù)迅猛發(fā)展，特別是隨著EDA技術(shù)的發(fā)展，它在現(xiàn)代電子設(shè)計技術(shù)中也占有越來越重要的位置，為了配合這一形勢需求，本書中增加了硬件描述語言的內(nèi)容，力求將傳統(tǒng)的硬件實(shí)驗(yàn)內(nèi)容和現(xiàn)代EDA實(shí)驗(yàn)內(nèi)容有機(jī)地結(jié)合起來，突出基本技能的培養(yǎng)和計算機(jī)技能的培養(yǎng)?！　”緯娴亟榻B了電子電路的應(yīng)用與開發(fā)技術(shù)。共有模擬電路、數(shù)字邏輯電路、OrcAD在電子技術(shù)中的應(yīng)用及在系統(tǒng)可編程技術(shù)的29個實(shí)驗(yàn)，每一個實(shí)驗(yàn)都可以學(xué)習(xí)某一功能單元的設(shè)計方法和典型應(yīng)用。最后一部分為課程設(shè)計。其中既有驗(yàn)證性和訓(xùn)練性的實(shí)驗(yàn)，也有應(yīng)用性和設(shè)計性的實(shí)驗(yàn)。每個實(shí)驗(yàn)都附有實(shí)驗(yàn)原理、實(shí)驗(yàn)電路和思考題，多數(shù)學(xué)生通過自學(xué)即可自行完成實(shí)驗(yàn)?！　”緯鶕?jù)循序漸進(jìn)的教學(xué)思想，將電子技術(shù)基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)知識、實(shí)驗(yàn)技能、系統(tǒng)設(shè)計技術(shù)、EDA技術(shù)有機(jī)地結(jié)合起來，前部分是基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)內(nèi)容，最后一部分是課程設(shè)計內(nèi)容。這樣不僅有利于學(xué)生通過有限的學(xué)時在掌握常用功能電路的同時形成電子系統(tǒng)的設(shè)計理念，同時還有利于教師根據(jù)各自不同的教學(xué)要求安排教學(xué)內(nèi)容，實(shí)現(xiàn)因材施教。實(shí)驗(yàn)內(nèi)容及其難易程度覆蓋了不同層次的教學(xué)要求，使用院?？梢罁?jù)自己的情況靈活安排教學(xué)內(nèi)容?！　”緯芍於ㄈA、陳林、吳建新編寫。參加編寫工作的人員還有翟晟、呂建才、陳艷、蔡苗、黃松、樊芳、朱水晶、周斌、蔡紅娟、王靜和林威等。

書籍目錄

第1篇　模擬電路實(shí)驗(yàn)　實(shí)驗(yàn)1　常用電子儀器的使用    1.1　實(shí)驗(yàn)?zāi)康?   1.2　實(shí)驗(yàn)原理    　1.2.1　示波器　    1.2.2　函數(shù)信號發(fā)生器／計數(shù)器EE16418  　    1.2.3　直流穩(wěn)壓電源　    1.2.4　萬用表　  1.3　實(shí)驗(yàn)元器件　  1.4　實(shí)驗(yàn)內(nèi)容  　  1.4.1　函數(shù)發(fā)生器的使用　    1.4.2　示波器的使用　    1.4.3　直流穩(wěn)壓電源的使用    1.5　注意事項(xiàng)    思考題　實(shí)驗(yàn)2　單級晶體管阻容耦合放大電路    2.1　實(shí)驗(yàn)?zāi)康?   2.2　實(shí)驗(yàn)原理  　  2.2.1　電路工作原理　    2.2.2　靜態(tài)工作點(diǎn)的設(shè)置與測試　    2.2.3　動態(tài)指標(biāo)（Av、R1、Ro）與測試方法　    2.2.4　頻率特性和通頻帶BW　    2.2.5　負(fù)反饋對放大器的影響　  2.3　實(shí)驗(yàn)元器件　  2.4　實(shí)驗(yàn)內(nèi)容    2.5　注意事項(xiàng)    思考題　實(shí)驗(yàn)3　共射一共集晶體管放大電路    3.1　實(shí)驗(yàn)?zāi)康?   3.2　實(shí)驗(yàn)原理  　  3.2.1　電路工作原理　    3.2.2　靜態(tài)工作點(diǎn)的設(shè)置與測試　    3.2.3　動態(tài)指標(biāo)（Av、Rl、Ro）及其測試　    3.2.4　通頻帶BW的測試　  3.3　實(shí)驗(yàn)元器件　  3.4　實(shí)驗(yàn)內(nèi)容　  3.5　注意事項(xiàng)　  思考題　實(shí)驗(yàn)4　集成運(yùn)算放大器性能參數(shù)的測試    4.1　實(shí)驗(yàn)?zāi)康?   4.2　實(shí)驗(yàn)原理    　4.2.1  測試運(yùn)算放大器的傳輸特性及輸出電壓的動態(tài)范圍  　  4.2.2　測試開環(huán)電壓放大倍數(shù)Avo　    4.2.3　測試輸入失調(diào)電壓VIo  　  4.2.4　測試輸入失調(diào)電流Iio　    4.2.5　測試共模抑制比Kcmr　    4.2.6　測試增益一帶寬積　    4.2.7　測試轉(zhuǎn)換速率    4.3　實(shí)驗(yàn)元器件    4.4　實(shí)驗(yàn)內(nèi)容    4.5　注意事項(xiàng)    思考題　實(shí)驗(yàn)5　基本運(yùn)算放大器電路    5.1　實(shí)驗(yàn)?zāi)康?   5.2　實(shí)驗(yàn)原理    　5.2.1　反相放大器  　  5.2.2　同相放大器　    5.2.3　加法器　    5.2.4　減法器　    5.2.5　微分器　    5.2.6　積分器……第2篇　數(shù)字電路實(shí)驗(yàn)第3篇　OrCAD在電子技術(shù)基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)中的應(yīng)用第4篇　在系統(tǒng)可編程技術(shù)實(shí)驗(yàn)第5篇　課程設(shè)計

章節(jié)摘錄

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