出版時(shí)間:2009-4 出版社:清華大學(xué)出版社 作者:朱正涌 等編著 頁(yè)數(shù):501
Tag標(biāo)簽:無(wú)
前言
本教材按“1996-2000年全國(guó)電子信息類專業(yè)教材編審出版規(guī)劃”,由“全國(guó)高校微電子技術(shù)專業(yè)教學(xué)指導(dǎo)委員會(huì)”編審?fù)扑]出版。責(zé)任編委為陳建新教授?! ∏迦A大學(xué)微電子學(xué)研究所張建人與賈松良教授于1987年分別出版了《MOS集成電路分析與設(shè)計(jì)基礎(chǔ)》(張建人編著,電子丁業(yè)出版社出版)和《雙極集成電路分析與設(shè)計(jì)基礎(chǔ)》(賈松良編著,電子工業(yè)出版社巾版)兩本書,作為清華大學(xué)微電子學(xué)專業(yè)本科生MOS集成電路和雙極集成電路兩門課程的教材。1992年開始,為適應(yīng)教學(xué)改革的需要,我們決定把這兩門課程合并為一門,以精簡(jiǎn)學(xué)吋,減少不必要的重復(fù),我們?cè)谶@兩本教材的基礎(chǔ)上于1995年改編為“集成電路分析與設(shè)計(jì)”講義,同時(shí)在體系和內(nèi)容上作了較大的變動(dòng),并對(duì)元器件和單元電路的版圖結(jié)構(gòu)、集成電路的版圖設(shè)計(jì)以及可靠性設(shè)計(jì)和可測(cè)性設(shè)計(jì)方面作了較多的補(bǔ)充。以反映微電子技術(shù)近年來(lái)的飛速發(fā)展?! ”緯窃谏鲜鲋v義的基礎(chǔ)土改編而成的。改編時(shí)結(jié)合本所多年來(lái)在教學(xué)、科研和科技開發(fā)中的一些成果,增加了部分新內(nèi)容,使教材內(nèi)容更實(shí)用、具體和生動(dòng)?! ”拘喙卜?部分,第l部分(第1-3章)為基礎(chǔ)知識(shí),主要介紹雙極集成電路、MOS集成電路和Bi-CMOS電路的典型制造下藝,各制造下藝生成的集成電路元器件的結(jié)構(gòu),集成電路元器件的形成過(guò)程,元器件的特性及其寄生效應(yīng)等,作為了解后續(xù)部分章節(jié)的基礎(chǔ)。第2部分(第4-11章)介紹雙極和MOS數(shù)字集成電路(包括雙極TTL、ECI,和I2L電路,各種MOS和CMOS數(shù)字電路)的特性以及分析方法,各種邏輯系列之間的電乎轉(zhuǎn)換電路,使讀者對(duì)各種電路的特點(diǎn)及適用的場(chǎng)合有一個(gè)基本的了解,以便在實(shí)際工作中能選用合適的電路。第3部分(第12-16章)介紹模擬集成電路。首先介紹模擬集成電路中的基本單元電路,如各種放大電路、有源負(fù)載、恒流源電路、電壓源電路、電子位移電路、雙端輸出變單端輸出電路、輸出級(jí)及其保護(hù)電路等。這些常用的單元電路是分析各種模擬集成電路的基礎(chǔ)。接著介紹集成運(yùn)算放大器、集成穩(wěn)壓電源電路及開關(guān)電容電路、A/D、D/A變換電路等幾種常用的模擬集成電路。第4部分(第17-22章)專門介紹集成電路設(shè)計(jì),即如何實(shí)現(xiàn)設(shè)計(jì)目標(biāo)。首先介紹了集成電路的版圖設(shè)計(jì)規(guī)則,給出了雙極集成電路和MOS集成電路版圖設(shè)計(jì)規(guī)則的部分圖例。接著,以74HCl39MOS集成電路和5JZl2雙極集成電路為例,詳細(xì)介紹集成電路正向設(shè)汁的全過(guò)程。然后,以74HCl93MOS集成電路為例,介紹如何進(jìn)行MOS集成電路的芯片解剖。此外,還介紹如何識(shí)別雙極集成電路的版圖。
內(nèi)容概要
本書全面介紹了半導(dǎo)體集成電路的分析與設(shè)計(jì)方法。全書共分為4個(gè)部分,第1部分(第1~3章)介紹了集成電路的典型工藝、集成電路中元器件的結(jié)構(gòu)、特性及寄生效應(yīng); 第2部分(第4~11章)為數(shù)字集成電路,討論了常用的雙極和MOS集成電路的電路結(jié)構(gòu)、工作原理和版圖形式; 第3部分(第12~16章)為模擬集成電路,介紹了模擬集成電路中的基本單元電路及常用的模擬集成電路,如集成運(yùn)算放大器、集成穩(wěn)壓電源電路及開關(guān)電容電路、A/D、D/A變換電路等; 第4部分(第17~22章)為集成電路設(shè)計(jì),舉例介紹了集成電路的設(shè)計(jì)方法和集成電路的計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì),其中重點(diǎn)論述了集成電路的版圖設(shè)計(jì)以及集成電路的可靠性設(shè)計(jì)和可測(cè)性設(shè)計(jì)。每章后面都附有習(xí)題。 本書可作為高等院校微電子學(xué)和電子科學(xué)與技術(shù)專業(yè)本科生的教材,也可供有關(guān)專業(yè)的本科生、研究生以及工程技術(shù)人員閱讀參考。
書籍目錄
第1章 集成電路的基本制造工藝第2章 集成電路中的晶體管及其寄生效應(yīng)第3章 集成電路中的無(wú)源元件第4章 晶體管?晶體管邏輯(TTL)電路第5章 發(fā)射極耦合邏輯(ECL)電路第6章 集成注入邏輯(I2L)電路第7章 MOS反相器第8章 MOS基本邏輯單元第9章 MOS邏輯功能部件第10章 存儲(chǔ)器第11章 接口電路第12章 模擬集成電路中的基本單元電路第13章 集成運(yùn)算放大器第14章 MOS模擬開關(guān)及開關(guān)電容電路第15章 集成穩(wěn)壓器第16章 D/A,A/D變換器第17章 集成電路設(shè)計(jì)概述第18章 集成電路的正向設(shè)計(jì)第19章 集成電路的芯片解剖第20章 集成電路設(shè)計(jì)方法第21章 集成電路的可靠性設(shè)計(jì)和可測(cè)性設(shè)計(jì)簡(jiǎn)介第22章 集成電路的計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)簡(jiǎn)介參考文獻(xiàn)
章節(jié)摘錄
(12)把信號(hào)線與信號(hào)線之間的距離拉大,可以減小信號(hào)之間的相互串?dāng)_?! 。?3)盡可能避免在一條長(zhǎng)信號(hào)線下平行走過(guò)另一條長(zhǎng)信號(hào)線。因?yàn)殚L(zhǎng)距離平行走線的兩條信號(hào)線之間存在著較大的分布電容,一條信號(hào)線會(huì)在另一條上產(chǎn)生較大的噪聲,使電路不能正常工作?! 。?4)在大多數(shù)的混合信號(hào)電路中,至少要有一個(gè)“模擬地”和“數(shù)字地”,以避免數(shù)字模塊產(chǎn)生的大的瞬態(tài)噪聲干擾模擬模塊的正常工作?! 。?5)由于現(xiàn)在大多數(shù)的ADC芯片屬于數(shù)?;旌想娐?,故應(yīng)注意減小數(shù)字電路對(duì)模擬電路的干擾,提高整個(gè)ADC芯片的抗噪聲性能。解決方法是將兩種電路盡量遠(yuǎn)離,以及在敏感的模擬電路周圍加上保護(hù)環(huán)。在模擬電路版圖的繪制時(shí),更要仔細(xì)考慮元件在電路中的作用,以及元件間的匹配性問題,在走線的時(shí)候也要減少信號(hào)線之間的串?dāng)_。對(duì)于匹配性要求高的元件,應(yīng)采用共中心的版圖畫法,盡量減少器件失調(diào)?! 。?6)I/O端口設(shè)計(jì)要特別重視電路的可靠性問題,其中電路的抗靜電擊穿能力、抗Latch-up能力和驅(qū)動(dòng)能力、電子兼容問題都和端口設(shè)計(jì)有關(guān)。設(shè)計(jì)中應(yīng)注意以下兩點(diǎn):即采用的方法和技術(shù)是經(jīng)過(guò)實(shí)踐驗(yàn)證過(guò)的;還有應(yīng)考慮各種因素,具有合適的保險(xiǎn)系數(shù)。 ?。?7)為了減少設(shè)計(jì)錯(cuò)誤、縮短設(shè)計(jì)周期,可以根據(jù)電路特點(diǎn)和需要、事先設(shè)計(jì)好若干個(gè)版圖單元,存入庫(kù)中。在以后的設(shè)計(jì)過(guò)程中,只要從單元庫(kù)中將設(shè)計(jì)好的并已經(jīng)通過(guò)版圖驗(yàn)證的單元調(diào)出來(lái),利用CAD系統(tǒng)的圖形編輯功能.通過(guò)重復(fù)、翻轉(zhuǎn)、平移等方式即可組成各種新的電路單元。
編輯推薦
本書可作為高等院校微電子學(xué)和電子科學(xué)與技術(shù)專業(yè)本科生的教材,也可供有關(guān)專業(yè)的本科生、研究生以及工程技術(shù)人員閱讀參考。
圖書封面
圖書標(biāo)簽Tags
無(wú)
評(píng)論、評(píng)分、閱讀與下載