光學(xué)測(cè)量技術(shù)與應(yīng)用

內(nèi)容概要

本書以光學(xué)測(cè)量方法與技術(shù)為中心，全面地介紹了光學(xué)測(cè)量所涉及的基本理率、測(cè)量原理、方法以及技術(shù)特點(diǎn)，既注重基本概念和基本原理的講述，又注重將理論與應(yīng)用緊密結(jié)合，并突出近年來光學(xué)測(cè)量技術(shù)上的最新科研成果以及相關(guān)領(lǐng)域發(fā)展態(tài)勢(shì)。全書共分7章，第1章介紹了光學(xué)測(cè)量涉及的基本知識(shí)，第2章~第4章分別介紹了干涉測(cè)量技術(shù)、激光全息測(cè)量與散斑測(cè)量技術(shù)以及激光衍射測(cè)量和莫爾條紋技術(shù)； 第5章講述了宏觀三維形狀測(cè)量技術(shù)和微觀三維形貌測(cè)量技術(shù)； 第6章介紹了激光多普勒測(cè)速與激光測(cè)距技術(shù)； 第7章介紹了光纖傳感技術(shù)。本書可作為高等院校光信息科學(xué)與技術(shù)、光學(xué)工程、儀器儀表、機(jī)械電子工程、自動(dòng)化等專業(yè)本科學(xué)生的教學(xué)用書，也可供從事相關(guān)專業(yè)的科研技術(shù)人員學(xué)習(xí)參考。

作者簡(jiǎn)介

馮其波，生于1962年6月，湖北省人。北京交通大學(xué)教授，博士生導(dǎo)師。1993起進(jìn)入北方交通大學(xué)工作，歷任講師、副教授，現(xiàn)任北京交通大學(xué)教授、博士生導(dǎo)師，理學(xué)院副院長(zhǎng)；1998年-1999年受國家留學(xué)基金委選派在美國University of North Carolinaat Charlotte作訪問學(xué)者。

書籍目錄

第1章  光學(xué)測(cè)量的基礎(chǔ)知識(shí)  1.1 基本概念、基本方法、應(yīng)用領(lǐng)域及發(fā)展趨勢(shì)  1.2 光學(xué)測(cè)量中的常用光源  1.3 光學(xué)測(cè)量中的常用光電探測(cè)器  1.4 光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)中的噪聲和常見處理電路  1.5 光學(xué)測(cè)量中常用調(diào)制方法與技術(shù)  本章參考文獻(xiàn)第2章  光干涉技術(shù)  2.1 光干涉的基礎(chǔ)知識(shí)  2.2 干涉光學(xué)測(cè)量技術(shù)  2.3 激光干涉儀  2.4 白光干涉儀  2.5 外差式激光干涉儀  2.6 絕對(duì)長(zhǎng)度干涉計(jì)量  2.7 激光多自由度同時(shí)測(cè)量技術(shù)  本章參考文獻(xiàn)第3章  激光全息測(cè)量與散斑測(cè)量技術(shù)  3.1 全息術(shù)及其基本原理  3.2 激光全息干涉測(cè)量技術(shù)  3.3 激光散斑干涉測(cè)量  本章參考文獻(xiàn)第4章  激光衍射測(cè)量和莫爾條紋技術(shù)  4.1 激光衍射測(cè)量基本原理  4.2 莫爾條紋測(cè)試技術(shù)  本章參考文獻(xiàn)第5章  光學(xué)三維測(cè)量技術(shù)  5.1 物體宏觀三維形狀測(cè)量技術(shù)概述  5.2 激光三角法測(cè)量物體三維形狀  5.3 基于光柵投射的三維形狀測(cè)量技術(shù)  5.4 光學(xué)三維形狀測(cè)量技術(shù)的應(yīng)用  5.5 微觀表面三維形貌測(cè)量技術(shù)概述  5.6 微觀表面三維形貌的機(jī)械式探針測(cè)量技術(shù)  5.7 微觀表面三維形貌的光學(xué)式探針測(cè)量技術(shù)  本章參考文獻(xiàn)第6章  激光測(cè)速與測(cè)距技術(shù)第7章  光纖傳感技術(shù)

章節(jié)摘錄

第1章 光學(xué)測(cè)量的基礎(chǔ)知識(shí)本章從光學(xué)測(cè)量涉及的基本概念人手，講述光學(xué)測(cè)量方法的分類、光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)的基本構(gòu)成以及光學(xué)測(cè)量的發(fā)展現(xiàn)狀與趨勢(shì)，最終講述構(gòu)成一個(gè)完整光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)的主要組成部分，包括常用光源、探測(cè)器與處理電路、調(diào)制方法等。各種具體的光學(xué)測(cè)量方法與技術(shù)將在以后的各個(gè)章節(jié)中進(jìn)行介紹。1.1 基本概念、基南方法、應(yīng)用領(lǐng)域及發(fā)展趨勢(shì)1.1.1 基本概念計(jì)量學(xué)(metrology)。是指研究測(cè)量、保證測(cè)量統(tǒng)一和準(zhǔn)確的科學(xué)；計(jì)量泛指對(duì)物理量的標(biāo)定、傳遞與控制。計(jì)量學(xué)研究的主要內(nèi)容包括：計(jì)量單位及其基準(zhǔn)，標(biāo)準(zhǔn)的建立、保存與使用，測(cè)量方法和計(jì)量器具，測(cè)量不確定度，觀察者進(jìn)行測(cè)量的能力以及計(jì)量法制與管理等。計(jì)量學(xué)也包括研究物理常數(shù)和物質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)，材料特性的準(zhǔn)確測(cè)定。測(cè)量(measurement)。是指將被測(cè)值和一個(gè)作為測(cè)量單位的標(biāo)準(zhǔn)量進(jìn)行比較，求其比值的過程。測(cè)量過程可以用一個(gè)基本公式L＝Ku 表示。式中，L為被測(cè)長(zhǎng)度；“為長(zhǎng)度單位；K為比值。從計(jì)量學(xué)的定義和內(nèi)容可以看出，計(jì)量的主要表現(xiàn)方式是測(cè)量j測(cè)量的目的是要得到一個(gè)具體的測(cè)量數(shù)值，這個(gè)測(cè)量數(shù)值還應(yīng)包含測(cè)量的不確定度。一個(gè)完整的測(cè)量過程包括四個(gè)測(cè)量要素：測(cè)量對(duì)象和被測(cè)量，測(cè)量單位和標(biāo)準(zhǔn)量，測(cè)量方法，測(cè)量的不確定度。檢驗(yàn)(inspection)。是指判斷測(cè)量是否合格的過程，通常不一定要求具體數(shù)值。測(cè)試(measuring and testing)。是指具有試驗(yàn)研究性質(zhì)的測(cè)量，一般是測(cè)量、試驗(yàn)與檢驗(yàn)的總稱。測(cè)試是人們認(rèn)識(shí)客觀事物的方法。測(cè)試過程是從客觀事物中攝取有關(guān)信息的認(rèn)識(shí)過程。在測(cè)試過程中，需要借助專門的設(shè)備，通過合適的實(shí)驗(yàn)和必要的數(shù)據(jù)處理，求得所研究對(duì)象的有關(guān)信息量值。

編輯推薦

《高等院校信息科學(xué)與技術(shù)專業(yè)系列教材·光學(xué)測(cè)量技術(shù)與應(yīng)用》可作為高等院校光信息科學(xué)與技術(shù)、光學(xué)工程、儀器儀表、機(jī)械電子工程、自動(dòng)化等專業(yè)本科學(xué)生的教學(xué)用書，也可供從事相關(guān)專業(yè)的科研技術(shù)人員學(xué)習(xí)參考。

圖書封面

圖書標(biāo)簽Tags

無

評(píng)論、評(píng)分、閱讀與下載

---

    光學(xué)測(cè)量技術(shù)與應(yīng)用 PDF格式下載

---