數(shù)字系統(tǒng)的故障診斷與可靠性設(shè)計(jì)

內(nèi)容概要

本書(shū)主要介紹以下三部分內(nèi)容：數(shù)字系統(tǒng)測(cè)試和故障診斷技術(shù)的理論和技術(shù)，其中重點(diǎn)介紹了測(cè)試向量的生成技術(shù)和方法以及測(cè)試向量的優(yōu)化技術(shù)；數(shù)字系統(tǒng)可測(cè)性設(shè)計(jì)的基本概念和相關(guān)技術(shù)，其中對(duì)邊界掃描設(shè)計(jì)的原理和有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)IEEE 1149.1作了較詳細(xì)的敘述；數(shù)字系統(tǒng)的可靠性設(shè)計(jì)，包括數(shù)字可靠性的基本概念，硬件容錯(cuò)技術(shù)，全自檢技術(shù)，編碼糾錯(cuò)技術(shù)和軟件容錯(cuò)技術(shù)等。此外，書(shū)中附有習(xí)題和答案或提示。
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書(shū)籍目錄

第1章
緒論
1.1
數(shù)字系統(tǒng)測(cè)試的發(fā)展概況
1.2
故障和故障模型
1.3
自動(dòng)測(cè)試與故障診斷及檢測(cè)
1.4
有關(guān)異或運(yùn)算的一些問(wèn)題
參考文獻(xiàn)第2章
組合邏輯電路的測(cè)試
2.1
偽窮舉法測(cè)試
2.1.1
單輸出電路
2.1.2
多輸出電路
2.2
布爾差分法
2.2.1
一階布爾差分
2.2.2
高階布爾差分
2.2.3
偏差分
2.2.4

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