出版時(shí)間:2000-01-01 出版社:清華大學(xué)出版社 作者:楊士元
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障診斷與可靠性設(shè)計(jì)是提高數(shù)字系統(tǒng)、各種計(jì)算機(jī)系統(tǒng)可靠性的主要途徑。近年來(lái),由于
超
大規(guī)模電路的應(yīng)用,導(dǎo)致數(shù)字系統(tǒng)復(fù)雜性急劇提高,隨之而興起的可測(cè)性設(shè)計(jì)已成為一個(gè)非
?;钴S的研究領(lǐng)域。
本書(shū)講述數(shù)字系統(tǒng)的故障診斷、可測(cè)性設(shè)計(jì)與可靠性設(shè)計(jì)的基本概念和主要方法,力求反映
近年來(lái)的最新技術(shù)和研究成果。全書(shū)共分六章,依次為緒論,組合邏輯電路的測(cè)試,時(shí)序電
路的測(cè)試,故障仿真,可測(cè)性設(shè)計(jì),可靠性
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