材料分析測試技術(shù)

內(nèi)容概要

　　本書是根據(jù)本科應(yīng)用型人才培養(yǎng)的教學(xué)需要編寫而成，內(nèi)容簡潔明了并注重實用性?！恫牧戏治鰷y試技術(shù)》以分析測試技術(shù)的能力培養(yǎng)為主線，重點(diǎn)介紹了x射線衍射分析測試方法和電子顯微分析測試方法在物相分析、點(diǎn)陣常數(shù)測定、晶體結(jié)構(gòu)和表面形貌分析等方面的實驗方法和應(yīng)用實例。另外，《材料分析測試技術(shù)》還簡要介紹了熱分析、能譜分析等常用分析測試手段。
　　本書可作為普通高等工科院校和高職高專的分析測試技術(shù)教材，也可作為相關(guān)專業(yè)人員了解材料分析測試方法的參考書。

書籍目錄

緒論
第1章 x射線的性質(zhì)
　1.1 x射線的本質(zhì)
　1.2 x射線的產(chǎn)生及x射線譜
　　1.2.1 x射線的產(chǎn)生
　　1.2.2 x射線譜
　1.3 x射線與物質(zhì)的相互作用
　　1.3.1 x射線的吸收
　　1.3.2 x射線的散射
　1.4 x射線源及試驗方法
　　1.4.1 x射線源
　　1.4.2 x射線衍射的試驗方法
　1.5 x射線的安全防護(hù)
　　習(xí)題
第2章 x射線衍射理論
　2.1 布拉格方程
　2.2 x射線衍射方向
　2.3 x射線衍射強(qiáng)度
　　習(xí)題
第3章 x射線衍射分析的應(yīng)用
　3.1 x射線物相分析
　　3.1.1 物相定性分析
　　3.1.2 物相定量分析
　3.2 點(diǎn)陣常數(shù)的精確測定
　　3.2.1 點(diǎn)陣常數(shù)的測定方法
　　3.2.2 誤差分析
　3.3 宏觀應(yīng)力測定
　　3.3.1 點(diǎn)陣常數(shù)的測定方法
　　3.3.2 宏觀應(yīng)力的測定方法
　3.4 織構(gòu)測定
　　3.4.1 極射赤面投影法
　　3.4.2 織構(gòu)的表征方法及其測量
　　習(xí)題
第4章 熱分析
　4.1 熱分析技術(shù)的分類
　4.2 差熱分析
　　4.2.1 差熱分析原理
　　4.2.2 差熱分析儀
　　4.2.3 差熱分析曲線及其數(shù)據(jù)處理
　　4.2.4 差熱分析曲線的影響因素
　4.3 差示掃描量熱法
　　4.3.1 差示掃描量熱儀的結(jié)構(gòu)及其工作原理
　　4.3.2 差示掃描量熱曲線及其數(shù)據(jù)處理
　　4.3.3 差示掃描量熱曲線的影響因素
　4.4 熱重分析
　　4.4.1 熱重分析儀的結(jié)構(gòu)與基本原理
　　4.4.2 熱重曲線
　　4.4.3 熱重曲線的影響因素
　4.5 熱分析技術(shù)的應(yīng)用
　　4.5.1 dta和dsc分析的應(yīng)用
　　4.5.2 tg分析的應(yīng)用
　　習(xí)題
第5章 透射電子顯微鏡
　5.1 透射電子顯微鏡
　　5.1.1 電子波長
　　5.1.2 透射電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)及工作原理
　5.2 透射電子顯微鏡的樣品制備
　　5.2.1 金屬材料樣品的制備
　　5.2.2 粉末樣品的制備
　　5.2.3 陶瓷材料樣品的制備
　　習(xí)題
第6章 電子顯微分析
　6.1 像襯形成原理——質(zhì)厚襯度
　　6.1.1 單個原子對入射電子的散射
　　6.1.2 透射電子顯微鏡小孔徑角成像
　　6.1.3 質(zhì)厚襯度成像原理
　　6.1.4 質(zhì)厚襯度圖像分析
　6.2 電子衍射
　　6.2.1 電子衍射條件和基本公式
　　6.2.2 倒易點(diǎn)陣與愛瓦爾德球圖解法
　　6.2.3 電子顯微鏡中的電子衍射
　　6.2.4 電子衍射譜的特征與分析
　　6.2.5 復(fù)雜電子衍射花樣標(biāo)定
　　習(xí)題
第7章 衍射襯度成像分析
　7.1 衍射襯度形成原理
　7.2 衍射襯度圖像分析
　　7.2.1 理想晶體的衍射強(qiáng)度
　　7.2.2 非理想晶體的衍射
　　習(xí)題
第8章 掃描電子顯微鏡
　8.1 電子束與固體樣品作用時產(chǎn)生的信號
　8.2 掃描電子顯微鏡的構(gòu)造和工作原理
　　8.2.1 掃描電子顯微鏡的工作原理
　　8.2.2 掃描電子顯微鏡的構(gòu)造
　8.3 掃描電子顯微鏡的特點(diǎn)及主要性能
　　8.3.1 掃描電子顯微鏡的特點(diǎn)
　　8.3.2 分辨率
　　8.3.3 放大倍數(shù)
　　8.3.4 景深
　8.4 掃描電子顯微鏡樣品制備和調(diào)整
　　8.4.1 掃描電子顯微鏡樣品的制備
　　8.4.2 掃描電子顯微鏡的調(diào)整
　8.5 表面形貌襯度原理及其應(yīng)用
　　8.5.1 次電子成像的襯度原理
　　8.5.2 次電子形貌襯度的應(yīng)用
　8.6 背散射電子像襯度及其應(yīng)用
　　習(xí)題
第9章 電子探針顯微分析
　9.1 電子探針的應(yīng)用及基本結(jié)構(gòu)
　　9.1.1 電子探針儀的結(jié)構(gòu)
　　9.1.2 試樣的制備
　9.2 電子探針的工作原理與分析特點(diǎn)
　　9.2.1 波長分散譜儀(波譜儀，wds)
　　9.2.2能量分散譜儀(能譜儀，eds)
　9.3 電子探針儀的應(yīng)用
　　9.3.1 定性分析
　　9.3.2 定量分析
　　習(xí)題
第10章 其他顯微分析方法
　10.1 離子探針
　　10.1.1 離子探針的結(jié)構(gòu)與原理
　　10.1.2 離子探針的特點(diǎn)及應(yīng)用
　10.2 俄歇電子能譜儀
　　10.2.1 俄歇電子能譜儀的結(jié)構(gòu)原理
　　10.2.2 俄歇電子能譜儀的應(yīng)用
　10.3 x射線光電子能譜儀
　　10.3.1 x射線光電子能譜儀的結(jié)構(gòu)原理
　　10.3.2 x射線光電子能譜儀的應(yīng)用
　10.4 掃描隧道顯微鏡(stm)
　　10.4.1 掃描隧道顯微鏡(stm)的基本原理
　　10.4.2 掃描隧道顯微鏡(stm)的工作模式
　　10.4.3 掃描隧道顯微鏡(stm)的特點(diǎn)
　10.5 原子力顯微鏡(afm)
　　習(xí)題
參考文獻(xiàn)

圖書封面

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