數(shù)字邏輯電路實驗

內容概要

本書是北京大學電子信息科學基礎實驗中心《電子信息科學基礎實驗課程叢書》之一。全書分為三部分，第一章是數(shù)字邏輯電路實驗導論，第二章是數(shù)字邏輯電路實驗部分，第三章是可編程邏輯器件GAL及ABEL語言。第一章有
實驗的有關規(guī)定，正確地撰寫實驗報告，數(shù)字電路實驗基礎知識；第二章精選了14個邏輯電路實驗，包含實驗目的、實驗原理、實驗內容、思考題等。第三章包含可編程邏輯器件概述，PAL、GAL的基本電路、設計方法及ABEL語言編程。書末的附錄有常用集成電路芯片的參數(shù)及性能介紹。
本書介紹了數(shù)字邏輯電路和可編程邏輯電路實驗的基本知識，內容豐富，實用性強。通過本書精心安排的科學而系統(tǒng)的實驗訓練，培養(yǎng)學生的邏輯思維能力、分析和解決問題的能力、綜合設計的能力，培養(yǎng)學生知識自我更新和不斷創(chuàng)新的能力。本書可作為高等院校電子信息類本科生數(shù)字邏輯電路實驗教材，也可作為教師和工程技術人員的參考書。

書籍目錄

第一章　數(shù)字邏輯電路實驗導論
 1．1　序論
 1．2　實驗的有關規(guī)定
 1．2．1　實驗要求
 1．2．2　實驗操作要求
 1．2．3　實驗室管理要求
 1．3　正確地撰寫實驗報告
 1．3．1　實驗報告的內容
 1．3．2　實驗報告的例子
 1．4　數(shù)字電路實驗基礎知識
 1．4．1　數(shù)字集成電路的分類及主要參數(shù)
 1．4．2　TTL與CMOS數(shù)字集成電路使用注意事項
第二章　數(shù)字邏輯電路實驗部分
 實驗一　邏輯門電路測試之一
 實驗二　邏輯門電路測試之二
 實驗三　單穩(wěn)態(tài)電路與無穩(wěn)態(tài)電路
 實驗四　晶體振蕩器
 實驗五　組合邏輯電路的應用
 實驗六　計數(shù)器和脈寬測量
 實驗七 同步時序系統(tǒng)設計
 實驗八　單次觸發(fā)的異步時序邏輯系統(tǒng)設計
 實驗九　程序控制反饋移位寄存器
 實驗十　m序列
 實驗十一　數(shù)字鎖相環(huán)
 實驗十二　模數(shù)和數(shù)模轉換
　……
第三章　可編程邏輯器件GAL及ABEL語言
參考節(jié)目
附錄

圖書封面

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