材料現(xiàn)代微觀分析技術(shù)

內(nèi)容概要

　　本書(shū)以材料現(xiàn)代微觀分析技術(shù)中的顯微組織分析、表面形貌分析、晶體結(jié)構(gòu)分析、元素分析為重點(diǎn)，介紹透射電鏡、掃描電鏡、電子衍射(包括背散射電子衍射)、X射線(xiàn)衍射、能譜儀、波譜儀、掃描探針顯微鏡的結(jié)構(gòu)原理、儀器的操作使用、分析方法的物理基礎(chǔ)、具體的試驗(yàn)方法以及應(yīng)用實(shí)例。本書(shū)介紹普遍使用的現(xiàn)代分析儀器以及實(shí)驗(yàn)方法，對(duì)已經(jīng)很少使用的分析儀器以及方法只是一帶而過(guò)，書(shū)中的實(shí)例大都引用材料微觀分析方面的最新成果。書(shū)末附有實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)書(shū)以及附錄。
本書(shū)可作為材料科學(xué)與工程的本科生教材或者教學(xué)參考書(shū)，也可供從事材料研究以及分析檢測(cè)工作的科技人員參考。

書(shū)籍目錄

第1章　概論
1.1　材料工程與微觀分析技術(shù)
1.2　微觀分析技術(shù)的發(fā)展歷程
1.3　現(xiàn)代微觀分析儀器簡(jiǎn)介
1.3.1　電子與物質(zhì)的相互作用
1.3.2　微觀分析儀器簡(jiǎn)介
習(xí)題
第2章　電子光學(xué)基礎(chǔ)
2.1　電子射線(xiàn)的特性
2.2　電子槍
2.2.1　熱電子發(fā)射型電子槍
2.2.2　場(chǎng)發(fā)射型電子槍
2.3　電磁透鏡
2.3.1　電磁透鏡的結(jié)構(gòu)
2.3.2　電磁透鏡的像差
2.3.3　電磁透鏡的分辨率
2.3.4　電磁透鏡的景深與焦長(zhǎng)
習(xí)題
第3章　透射電子顯微鏡
3.1　透射電子顯微鏡的分類(lèi)
3.2　透射電子顯微鏡的基本構(gòu)成
3.2.1　電子光學(xué)系統(tǒng)
3.2.2　真空系統(tǒng)
3.2.3　電源系統(tǒng)
3.3　透射電子顯微鏡的基本操作方法
3.3.1　合軸操作
3.3.2　圖像觀察與記錄
3.4　透射電子顯微鏡的樣品制備
3.4.1　金屬薄膜樣品的制備方法
3.4.2　納米粉末樣品的制備方法
3.4.3　界面薄膜樣品制備
3.4.4　復(fù)型樣品的制備方法
習(xí)題
第4章　電子衍射
4.1　電子衍射實(shí)驗(yàn)
4.2　電子衍射原理
4.2.1　布拉格定律
4.2.2　埃瓦爾德球圖解
4.2.3　倒易點(diǎn)陣
4.2.4　電子衍射基本公式
4.2.5　結(jié)構(gòu)因素與結(jié)構(gòu)消光
4.2.6　晶帶定律和零層倒易面
4.2.7　偏離矢量以及影響倒易點(diǎn)形狀的因素
4.3　單晶電子衍射譜的標(biāo)定
4.3.1　單晶電子衍射譜的對(duì)稱(chēng)性
4.3.2　單晶電子衍射譜的標(biāo)定方法
4.4　多晶電子衍射譜的標(biāo)定
4.4.1　多晶電子衍射譜的形成
4.4.2　多晶電子衍射譜的標(biāo)定方法
4.5　復(fù)雜電子衍射譜
4.5.1　高階勞埃斑
4.5.2　超點(diǎn)陣斑點(diǎn)
4.5.3　二次衍射
4.5.4　孿晶斑點(diǎn)
4.5.5　菊池花樣
習(xí)題
第5章　透射電鏡的圖像襯度及其應(yīng)用
5.1　質(zhì)厚襯度
5.1.1　質(zhì)厚襯度成像原理
5.1.2　質(zhì)厚襯度的應(yīng)用實(shí)例
5.2　衍射襯度
5.2.1　衍射襯度成像原理
5.2.2　衍射襯度的應(yīng)用
5.3　相位襯度
5.3.1　相位襯度成像原理
5.3.2　相位襯度像的種類(lèi)
5.3.3　相位襯度像的應(yīng)用
5.4　成像模式的相互關(guān)系
習(xí)題
第6章　掃描電子顯微鏡
6.1　掃描電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)原理
6.1.1　電子光學(xué)系統(tǒng)
6.1.2　信號(hào)檢測(cè)放大系統(tǒng)
6.1.3　圖像顯示記錄系統(tǒng)
6.1.4　真空系統(tǒng)
6.1.5　電源系統(tǒng)
6.2　掃描電子顯微鏡的主要性能
6.2.1　掃描電子顯微鏡的分辨率
6.2.2　掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)
6.2.3　掃描電子顯微鏡的景深
6.3　掃描電子顯微鏡的樣品制備
6.4　掃描電子顯微鏡的圖像襯度及應(yīng)用
6.4.1　表面形貌襯度及應(yīng)用
6.4.2　原子序數(shù)襯度及應(yīng)用
習(xí)題
第7章　背散射電子衍射
7.1　背散射電子衍射儀的工作原理
7.1.1　背散射電子衍射儀的基本構(gòu)成
7.1.2　背散射電子衍射儀的工作原理
7.2　背散射電子衍射的應(yīng)用
7.2.1　晶粒尺寸及形狀的分布
7.2.2　材料織構(gòu)分析
7.2.3　晶粒之間取向差分析
7.2.4　物相鑒定及相比率計(jì)算
7.2.5　應(yīng)變測(cè)量
習(xí)題
第8章　成分分析
8.1　特征X射線(xiàn)的產(chǎn)生
8.2　波譜儀工作原理
8.3　能譜儀工作原理
8.4　波譜儀和能譜儀比較
8.5　X射線(xiàn)譜儀的分析方法及其應(yīng)用
習(xí)題
第9章　X射線(xiàn)衍射
9.1　X射線(xiàn)物理學(xué)基礎(chǔ)
9.1.1　X射線(xiàn)的本質(zhì)
9.1.2　X射線(xiàn)的產(chǎn)生
9.1.3　X射線(xiàn)譜
9.1.4　X射線(xiàn)與物質(zhì)的相互作用
9.1.5　X射線(xiàn)的防護(hù)
9.2　X射線(xiàn)衍射原理及衍射強(qiáng)度
9.2.1　X射線(xiàn)衍射原理
9.2.2　X射線(xiàn)衍射強(qiáng)度的處理過(guò)程
9.2.3　多晶體的X射線(xiàn)衍射強(qiáng)度
9.3　X射線(xiàn)衍射儀
9.3.1　X射線(xiàn)衍射儀的結(jié)構(gòu)原理
9.3.2　X射線(xiàn)衍射儀的樣品制備
9.3.3　X射線(xiàn)對(duì)物質(zhì)的衍射譜
9.4　X射線(xiàn)衍射定性物相分析
9.4.1　定性分析的基本原理
9.4.2　PDF卡片的組成
9.4.3　PDF卡片索引
9.4.4　物相分析方法
9.4.5　物相分析時(shí)應(yīng)注意的問(wèn)題
習(xí)題
第10章　掃描探針顯微鏡
10.1　掃描隧道顯微鏡
10.1.1　隧道效應(yīng)
10.1.2　掃描隧道顯微鏡的工作原理
10.1.3　掃描隧道顯微鏡的結(jié)構(gòu)
10.1.4　掃描隧道顯微鏡的工作模式
10.1.5　掃描隧道顯微鏡的特點(diǎn)
10.1.6　掃描隧道顯微鏡的應(yīng)用舉例
10.2　原子力顯微鏡
10.2.1　原子之間的作用力
10.2.2　原子力顯微鏡的結(jié)構(gòu)及工作原理
10.2.3　原子力顯微鏡的工作模式
10.2.4　原子力顯微鏡的特點(diǎn)
10.2.5　原子力顯微鏡的應(yīng)用舉例
習(xí)題
實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)書(shū)
實(shí)驗(yàn)一　材料顯微組織與相結(jié)構(gòu)的TEM分析
實(shí)驗(yàn)二　材料顯微組織以及微區(qū)成分分析
實(shí)驗(yàn)三　多相物質(zhì)X射線(xiàn)衍射物相分析
關(guān)于Jade軟件
附錄
附錄1　物理常數(shù)、換算系數(shù)和電子波長(zhǎng)等
附錄2.1　常用材料的化學(xué)減薄液
附錄2.2　常用材料的電解減薄液
附錄3　常用材料的電解拋光液
附錄4　常見(jiàn)晶體標(biāo)準(zhǔn)電子衍射花樣
附錄5　立方晶體晶面(或晶向)夾角表
附錄6　常用晶體學(xué)公式
附錄7　常見(jiàn)晶體的晶面間距
附錄8　鋼中相的電子衍射譜標(biāo)定用數(shù)據(jù)表
附錄9　特征X射線(xiàn)的波長(zhǎng)和能量表
參考文獻(xiàn)

圖書(shū)封面

評(píng)論、評(píng)分、閱讀與下載

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